掃描電鏡高溫力學(xué)原位系統(tǒng) 參考價(jià):面議
掃描電鏡高溫力學(xué)原位系統(tǒng)通過(guò)MEMS芯片在原位樣品臺(tái)內(nèi)構(gòu)建力、熱復(fù)合多場(chǎng)自動(dòng)控制及反 饋測(cè)量系統(tǒng),結(jié)合EDS、EBSD等多種不同模式,實(shí)現(xiàn)從納米層面實(shí) 時(shí)、動(dòng)態(tài)...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)