Thick800A膜厚測試儀性能特點及優(yōu)勢
高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動定位測試高度滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊
鼠標可控制移動平臺，鼠標的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結果更加，微小測試點更。
X射線鍍層測厚儀廠家優(yōu)勢在于滿足客戶要求的情況下，價格更優(yōu)惠、售后服務更方便，維護成本更低。
 
 Thick800A膜厚測試儀標準配置
開放式樣品腔。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。 
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。
技術指標
產品名稱：X射線鍍層測厚儀
型號：Thick 800A
度適應范圍為15℃30℃。
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。 
同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序。
鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）。 
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm 
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
 
應用領域
金屬鍍層的厚度測試, 電鍍液和鍍層含量的測定；貴金屬加工和飾加工行業(yè)；銀行，飾銷售和檢測機構；電鍍行業(yè)。
X射線鍍層測厚儀廣泛應用于電子電器、五金工具、印刷線路板、電鍍鋁合金企業(yè)等。