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詳細(xì)介紹
涂層測(cè)厚儀leeb230 leeb230
● 全中文菜單；
● 兩種工作方式；
● 數(shù)據(jù)刪除功能；
● 對(duì)界限外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警；
● 電源欠壓指示；
● 手動(dòng)和自動(dòng)兩種關(guān)機(jī)方式
京海興樂(lè)科技（北京）有限公司提供探傷儀(奧林巴斯/汕超/美國(guó)GE/達(dá)高特/中科漢威/友聯(lián)/聲納/)配件：相控陣探頭，直探頭，斜探頭，連接線，探頭線，保護(hù)膜，試塊，耦合劑，雙晶探頭，表面波探頭，小徑管探頭，小角度探頭，水浸探頭，非金屬探頭，可拆式探頭，可變角度探頭，窄脈沖探頭、測(cè)厚探頭、高溫耦合劑及超聲探傷-UT；磁粉探傷-MT；滲透檢測(cè)(PT)、射線探傷-RT、渦流探傷-ET等產(chǎn)品。
【主要功能】
采用磁性測(cè)量方法，可無(wú)損地檢測(cè)磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度(如鋼鐵合金和硬磁性鋼上的鋁、鉻、銅、鋅、錫、橡膠、油漆等)。
● 全中文菜單；
● 兩種工作方式；
● 數(shù)據(jù)刪除功能；
● 對(duì)界限外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警；
● 電源欠壓指示；
● 手動(dòng)和自動(dòng)兩種關(guān)機(jī)方式
● 兩種測(cè)量方式；
● 可儲(chǔ)存500個(gè)測(cè)量值；
● 可設(shè)置界限；
【技術(shù)參數(shù)】
項(xiàng)目名稱 | Leeb230 | |
測(cè)頭類型 | F1 | |
測(cè)量原理 | 磁感應(yīng) | |
測(cè)量范圍 | 0 ~ 1250um | |
分辨率 | 0.1um | |
示值誤差 | 一點(diǎn)校準(zhǔn) | ±（3%H+1）um |
二點(diǎn)校準(zhǔn) | ±[（1~3）%H+1]um | |
測(cè)試條件 | 小曲率半徑 | 凸1.5mm 凹9mm |
小面積直徑 | φ7mm | |
基本臨界厚度 | 0.5mm | |
工作環(huán)境 | 溫度 | 0 ~ 40℃ |
濕度 | 20% ~ 90% | |
電源 | AAA堿性電池2節(jié) | |
電壓 | 3V | |
工作時(shí)間 | 100小時(shí) | |
外形尺寸 | 130*70*25 mm | |
重量 | 350g | |
外殼材質(zhì) | 金屬外殼 | |
標(biāo)準(zhǔn)配置 | 主機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)試片、基體、F1探頭、堿性電池 | |
可選配件 | 標(biāo)準(zhǔn)試片、探頭 | |
PC通訊 | 有 | |
儀器選用探頭的技術(shù)數(shù)據(jù)
探頭 | F400 | F1 | F1/90 | F10 | N400 | N1 | CN02 | |||||
測(cè)量原理 | 磁性 | 渦流 |
| |||||||||
測(cè)量范圍（μm） | 0～400 | 0～1250 | 0～10mm | 0～400 | 0～12500 | 10～200 | ||||||
測(cè)量精度μm | 一點(diǎn)校準(zhǔn) | ±[(1～3)%H+0.7] | ±（3%H+1） | ±（3%H+10） | ±（3%H+1） | ±（3%H+1.5） | H+1) | |||||
二點(diǎn)校準(zhǔn) | ±（1～3％H+0.7） | H+1] | ±[(1～3)%H+10] | ±[(1～3)%H+1] | ±[(1～3)%H+1.5] | --- | ||||||
低限分辨率 | 0.1 | 0.1 | 1 | 0.1 | 0.1 | 1 | ||||||
小曲率半徑(mm) | (凸)1 | 1.5 | 平直 | 10 | 1.5 | 3 | 僅為平面 | |||||
小面積直徑(mm) | ￠3 | ￠7 | ￠40 | ￠4 | ￠5 | ￠7 | ||||||
基本臨界厚度(mm) | 0.2 | 0.5 | 2 | 0.3 | 0.3 | 無(wú)限制 | ||||||
測(cè)頭選用參考表
覆蓋層基體 | 有機(jī)材料等非磁性覆蓋層（如：漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽(yáng)極化處理等） | 非磁性的有色金屬覆蓋層（如：鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等） | |||
覆蓋層厚度不超過(guò)100μm | 覆蓋層厚度超過(guò)100μm | 覆蓋層厚度不超過(guò)100μm | 覆蓋層厚度超過(guò)100μm | ||
如鐵、鋼等磁性金屬 | 被測(cè)面積直徑大于30mm | F400型測(cè)頭0～400μm | F1型測(cè)頭 | F400型測(cè)頭0～400μm | F1型測(cè)頭 |
被測(cè)面積直徑小于30mm | F400型測(cè)頭0～400μm | F400型測(cè)頭0～400μm | F400型測(cè)頭0～400μm | F400型測(cè)頭0～400μm | |
如銅、鋁、黃銅、鋅、錫等有色金屬 | 被測(cè)面積直徑大于10mm | N1型測(cè)頭0～1250μm | 僅用于銅上鍍鉻N1型測(cè)頭0～40μm N400測(cè)頭0～40μm | ||
被測(cè)面積直徑大于10mm | N400測(cè)頭0～400μm | N400測(cè)頭0～40μm | |||
塑料、印刷線路非金屬基體 | 被測(cè)面積直徑大于7mm | -- | -- | CN02型測(cè)頭10～200μm | |
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