7.5Z6FG-HL00 5Z10FG-GHL00測(cè)厚儀探頭
通用探頭
SIUI向用戶提供超過500種以上的工業(yè)超聲探頭產(chǎn)品，包括直探頭、斜探頭、窄脈沖探頭、分割式探頭、水浸探頭、聚焦探頭、可變角度探頭等多個(gè)系列，滿足各種探傷應(yīng)用。除常規(guī)型號(hào)探頭外，各系列均可按客戶特殊需求進(jìn)行定制。

7.5Z6FG-HL00 5Z10FG-GHL00測(cè)厚儀探頭

通用探頭 

SIUI向用戶提供超過500種以上的工業(yè)超聲探頭產(chǎn)品，包括直探頭、斜探頭、窄脈沖探頭、分割式探頭、水浸探頭、聚焦探頭、可變角度探頭等多個(gè)系列，滿足各種探傷應(yīng)用。除常規(guī)型號(hào)探頭外，各系列均可按客戶特殊需求進(jìn)行定制。

京海興樂科技（北京）有限公司提供儀器維修，產(chǎn)品計(jì)量，技術(shù)培訓(xùn)，產(chǎn)品配件，儀器說明書。提供的無損檢測(cè)儀器設(shè)備包括：超聲檢測(cè)（UT）；射線檢測(cè)（RT）；滲透檢測(cè)（PT）；磁粉檢測(cè)（MT）；渦流檢測(cè)（ET）；超聲波相控陣、超聲波測(cè)厚儀、超聲導(dǎo)波、超聲TOFD探傷儀、超聲波探頭、渦流探傷儀、渦流探頭、渦流陣列、磁粉探傷機(jī)、X、γ輻射檢測(cè)儀。代理以下品牌：汕超、美國GE(德國KK）、奧林巴斯（Olympus NDT）、美國磁通（Magnaflux）、DAKOTA等

 

雙晶探頭構(gòu)成：
裝有兩個(gè)晶片的探頭，一個(gè)作為發(fā)射器，另一個(gè)作為接收器。又稱分割式探頭、或者聯(lián)合雙探頭。雙晶探頭主要由插座、外殼、隔聲層、發(fā)射晶片、接收晶片、延遲塊等組成。

雙晶探頭功能特點(diǎn)：
• 插座為電氣接口，通過探頭線連接到儀器上去
• 鋁合金外殼起到支撐、保護(hù)、電磁屏蔽的作用
• 超聲波聲束的發(fā)射由發(fā)射晶片完成
• 接收晶片將工件中反射回來的聲束轉(zhuǎn)換成電信號(hào)
• 發(fā)射晶片和接收晶片之間，貼合有隔聲層
• 晶片被粘結(jié)在延遲塊上，改變兩個(gè)延遲塊之間的夾角，可獲得不同的焦距值。

雙晶探頭應(yīng)用：
雙晶探頭的用途與直探頭相似：使用垂直的縱波聲束掃查工件。
相對(duì)直探頭而言，雙晶直探頭具有更好的近表面缺陷檢出能力；對(duì)于粗糙或者彎曲的檢測(cè)面，具有更好的耦合效果。
典型直探頭用途示意圖：

雙晶斜探頭
斜探頭的一種特殊類型，內(nèi)置雙晶片（一發(fā)一收），結(jié)構(gòu)以及工作原理如下圖：

接收客戶定制各種規(guī)格的雙晶斜探頭，定制時(shí)請(qǐng)告知頻率、晶片大小、折射角或K 值、焦點(diǎn)深度、前沿距離、外殼、接插頭等指標(biāo)要求。

可拆式斜探頭
斜探頭的一種特殊類型，將斜探頭分成斜塊、探頭芯兩個(gè)部分，使用時(shí)將兩者組合起來。
雙晶直探頭規(guī)格型號(hào)：

超聲測(cè)厚儀是指用超聲波在介質(zhì)中的脈沖反射對(duì)物體進(jìn)行厚度測(cè)試的設(shè)備，超聲波測(cè)厚儀主要由主機(jī)和探頭兩部分組成。檢測(cè)超聲用于超聲探測(cè)金屬、陶瓷混凝土制品，甚至水庫大壩，檢查內(nèi)部是否有氣泡、空洞和裂紋。

測(cè)試原理

編輯
超聲測(cè)厚儀的工作原理如下：它的脈沖發(fā)生器以一個(gè)窄電脈沖激勵(lì)高阻尼壓電換能器，此脈沖為始脈沖，一部分由始脈沖激勵(lì)產(chǎn)生的超聲信號(hào)在材料界面反射，這信號(hào)稱為始波。其余部分透入材料，并從平行對(duì)面反射回來。這一返回信號(hào)稱為背面回波。始波與背面回波之間的時(shí)間間隔代表了超聲信號(hào)穿過被測(cè)件的聲程時(shí)間。 如測(cè)得聲程時(shí)間則可由下式確定被測(cè)件厚度，測(cè)厚時(shí)聲速是確定的。
式中d為被測(cè)件厚度，C為超聲波在被測(cè)件中的傳播速度（即聲速），t為聲程時(shí)間。
反之由上式可知，如測(cè)得工件厚度和聲程時(shí)間則可求出被測(cè)工件中的聲速，聲速是描述超聲波在介質(zhì)中傳播特性的基本物理量，它的大小由傳播介質(zhì)決定，即與材料的彈性模量、密度、超聲波波型和泊松比有關(guān)。金屬材料的彈性模量盡管對(duì)組織結(jié)構(gòu)不敏感，但由于它與原子間作用力和原子間距有關(guān)，而原子間距與晶體結(jié)構(gòu)有關(guān)，所以它還是受到組織結(jié)構(gòu)的影響。此外金屬材料的密度從微觀上來講也與組織結(jié)構(gòu)有關(guān)，而晶胞的體積則與組織結(jié)構(gòu)有關(guān)，所以聲速與金屬材料內(nèi)部的組織結(jié)構(gòu)有必然的聯(lián)系，這樣使用超聲波測(cè)厚儀測(cè)出被測(cè)件中的聲速變化，可判斷被測(cè)件中內(nèi)部組織結(jié)構(gòu)的異常。

組成

編輯
超聲波測(cè)厚儀主要有主機(jī)和探頭兩部分組成。
主機(jī)電路包括發(fā)射電路、接收電路、計(jì)數(shù)顯示電路三部分，由發(fā)射電路產(chǎn)生的高壓沖擊波激勵(lì)探頭，產(chǎn)生超聲發(fā)射脈沖波，脈沖波經(jīng)介質(zhì)介面反射后被接收電路接收，通過單片機(jī)計(jì)數(shù)處理后，經(jīng)液晶顯示器顯示厚度數(shù)值，它主要根據(jù)聲波在試樣中的傳播速度乘以通過試樣的時(shí)間的一半而得到試樣的厚度。超聲波測(cè)厚儀在采用*技術(shù)的基礎(chǔ)上，運(yùn)用單片機(jī)技術(shù)研制的一種低功耗低下限袖珍式的智能測(cè)量儀器，不僅有測(cè)量不同材質(zhì)厚度的儀器，而且有單測(cè)鋼，超薄型的，同時(shí)均可配套高溫測(cè)厚探頭。

測(cè)厚儀分割式直探頭

5M10FG-HC配CTS-30C測(cè)厚儀

2Z12FG-H/HX

5Z6FG-H/HX

5Z8FG-H/HX

H配CTS-30B/CTS-30C

HX配CTS-39

2Z12FG-HL00配CTS-49/59

5Z10FG-HJL00配CTS-49/59

5Z10FG-GHL00配CTS-49/59

7.5Z6FG-HL00配CTS-49/59

5Z10FG-GH配CTS-30B/CTS-30C

7.5Z6FG-H配CTS-30B/CTS-30C

5Z10FG-HX配30/39

5Z10FG-HC配30A/B

名稱	型號(hào)
測(cè)厚儀分割式直探頭	2Z12FG-H	5M10FG-H（穿透涂層專業(yè)）
測(cè)厚儀分割式直探頭	5Z6FG-HX	2Z12FG-H
測(cè)厚儀分割式直探頭	5Z8FG-HX	5Z6FG-H
測(cè)厚儀分割式直探頭	5Z10FG-HX	5Z8FG-H
測(cè)厚儀分割式直探頭	5Z10FG-HC	5Z10FG-H/HJ
測(cè)厚儀分割式直探頭	5Z10FG-GH	5Z10FG-GH(高溫）
測(cè)厚儀分割式直探頭	7.5Z6FG-HX	7.5Z6FG-H
測(cè)厚儀分割式直探頭	2Z12FG-HL00
測(cè)厚儀分割式直探頭	5Z10FG-HJL00
測(cè)厚儀分割式直探頭	5Z10FG-GHL00
測(cè)厚儀分割式直探頭	7.5Z6FG-HL00

 

GE/德國KK公司超聲橫波單晶斜探頭

具體型號(hào)：

WB45-1，

WB45-1-EN，WB45-O1，WB60-1，WB60-1-EN，WB60-O1，WB70-1，WB70-1-EN，WB70-O1，WB35-2，
WB35-2-EN，WB35-O2，WB35-O2EN，WB45-2，WB45-2-EN，WB45-O2，WB45-O2EN，WB60-2，WB60-2-EN，
WB60-O2，WB60-O2EN，WB70-2，WB70-2-EN，WB70-O2，WB70-O2EN，WB80-2，WB80-2-EN，WB80-O2，
WB90-2，WB90-2-EN，WB90-O2，WB35-4，WB35-O4，WB45-4，WB45-4-EN，WB45-O4，WB60-4，WB60-4-EN，
WB60-O4，WB70-4，WB70-4-EN，WB70-O4，WB80-4，WB80-O4，SWB45-2，SWB60-2，SWB70-2，SWB45-5，
SWB60-5，SWB70-5， WK45-2，WK60-2，WK70-2，SWK45-2，SWK60-2，SWK70-2

MWB35-2、MWB45-2、MWB60-2、MWB70-2、MWB35-4、MWB45-4、MWB60-4、MWB70-4、MWB80-4

電纜線： PKLL2  用于WB...,WK....
         MPKL2  用于SWB..,SWK..