貝克休斯BakerHughes德國KK美國GEB2S探頭
探頭選擇準則與性能說明：
接觸法探頭
直探頭---單晶
• 被檢測件有規(guī)則外形和相對光滑的 接觸表面
• 接觸面或平或曲
• 缺陷或背反射平行于表面，可被垂 直于表面的聲束探測
• 適于穿透厚部件
• 延遲塊用以提高近場分辨率
• 需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
• 通常用于手動檢測
直探頭---雙晶
• 接受發(fā)射單元用串擾擋板分開
• 缺陷或背反射平行于表面，可被垂 直于表面的聲束探測
• 近表面分辨率好，用于較薄部件
• 需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
• 通常用于手動檢測
斜探頭
• 晶片安裝在內置的或者可更換的斜塊上
• 利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
• 大多數標準探頭通過模式轉換產生橫波
• 適于傾斜缺陷的檢測，如焊縫
• 有單晶探頭和雙晶探頭
• 需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
• 有時用于機械化或自動化檢測
水浸法探頭
• 在水中匹配好，效率高
• 適于具有不規(guī)則表面的被檢測件
• 通常用于機械化或者自動化檢測
• 耦合一致性好，檢測重復性高
• 大型零件可以采用探頭架， 溢流法或者水射流法
• 探頭聚焦可以增進效果聚焦的優(yōu)點
• 球面聚焦形成點狀
• 柱面聚焦形成線狀
探頭選擇準則—歐洲規(guī)格
按照歐洲標準生產的探頭, 本目錄提供的技術性能信息依照下表定義。 絕大多數的探傷儀探頭都免費提供性能數據表。
性能參數 | 解釋 |
晶片尺寸 D 或 a ×b | 探頭晶片的直徑D或長度×寬度a ×b 。它的尺寸大小對聲波的傳輸有極大的影響 。輕微的偏差，如形狀的偏差,或粘接不良造成的位置偏差而產生的聲能衰減，即使是利用參考缺陷進行標定,都將產生嚴重的評估誤差。 |
標稱頻率f | 所有相同類型探頭的均值頻率，頻率對反射體的評定有大的影響 。對斜反射體，頻率甚至影響聲場 波形和反射特性 。隨著頻率的增加，非垂直反射體對聲束的反射回波減小 。這就是為什么每一個探頭都要由我們的質量控制部門根據鑒定標準進行嚴格檢測，以確定其頻率是否與標稱頻率相一致，保證在一定的誤差范圍內。這個數據輸入到探頭的數據參數表。 |
帶寬B | 脈沖回波的幅值比最高幅值下降6dB之間的頻率范圍。 fo=幅值下降6dB的上限頻率，fu=幅值下降6dB的下限頻率，f為標稱頻率。 例如，當B=100%， 一個4 MHz的探頭的fo為6 MHz，而fu為2 MHz。 大的帶寬意味著更短的脈沖回波，也就意味著高的分辨率和更好的穿透能力， 因為低頻脈沖比標稱頻 率脈沖的衰減小 。在高衰減情形下，與標稱頻率相比，隨著距離的增加，反射信號的頻率減小 。這一 點在進行缺陷評估時必須要加以考慮 。因此每一個探頭的帶寬都要進行檢查，并且與所有探頭的平均值相一致，保證在一定的誤差范圍內。 |
焦距F | F ：小缺陷產生蕞大回波時探頭到小缺陷的距離。探頭要進行聚焦以便探測小缺陷并得到蕞大的回波幅值，只有在探頭的近場才可能聚焦。 |
近場長度N | 近場長度N是非聚焦探頭的焦距長度，它是聲軸線上能得到聲壓ji大值的最遠距離 。N的大小由D 、c 和f來決定 。 其中λ為波長，c為聲速， Deff是單元有效直徑 焦點處和近場長度處聲能最為集中，反射體最易識別。因此重要測試場合一般預期缺陷在焦距或近場長度處。表中的數據對鋼材而言，而水浸探頭為水。 |
焦點直徑FD6 | 在焦距或近場長度附近，聲壓值比主聲軸下降6dB處到主聲軸的距離 。 |
脈沖形狀 | 來自于平面反射面的信號表述。 |
頻譜 | 回波脈沖中所有頻率的顯示，頻率幅值在頻率上顯示。 |
聲束角度 β | 主聲束與檢測面法線之間的夾角 |
貝克休斯BakerHughes德國KK美國GEB2S探頭
化工儀器網