Olympus45MG測厚儀奧林巴斯金屬腐蝕壁厚儀高溫測厚

應(yīng)用

檢測金屬管道中的內(nèi)壁減少情況。

背景

局部墻壁減少并不總是由腐蝕引起。在板材軋制期間或在管材制造過程中形成的初始階段可以產(chǎn)生壁減少。鋼中的印模可以通過成形輥產(chǎn)生。施加到成形輥的高表面壓力和熱量會(huì)引起剝落。剝落并從輥?zhàn)由厦撾x的金屬片可落入進(jìn)入板的路徑中，使得片件粘合到輥?zhàn)由稀Ｒ坏┧槠c輥?zhàn)咏Y(jié)合，就會(huì)在被軋制的板材中開始出現(xiàn)印痕。因此，由輥引起的印模的術(shù)語偽影看起來類似于由腐蝕引起的壁減少。

在許多情況下，新管道將投入使用此類工件。當(dāng)管道運(yùn)行后再進(jìn)行腐蝕檢查時(shí)，檢查人員可能會(huì)發(fā)現(xiàn)這些墻壁減少偽影并將其誤認(rèn)為是腐蝕單元。如果發(fā)生這種情況，工藝工程師可能會(huì)推斷出不正確的腐蝕速率并導(dǎo)致不正確的工藝變化和/或化學(xué)添加 然而，簡單的超聲測量程序可以在制造或安裝階段識(shí)別偽影。

設(shè)備

型號(hào)38DLP PLUS厚度計(jì)，或帶波形顯示選件的45MG型應(yīng)變計(jì)，以及D790雙元件傳感器（5 MHz）。

例

下圖中的管道是采用ERW工藝制造的8“x .250”壁碳鋼1018等級(jí)。深色凹痕是減少在管道形成過程中發(fā)生的壁厚的偽影。ID或OD上沒有腐蝕。

厚度測量以與腐蝕測量相同的方式進(jìn)行。在左圖中，量具讀取全壁厚度。在右圖中，較薄的讀數(shù)表示內(nèi)表面上的壁變薄偽影。

在試圖區(qū)分制造工件和腐蝕電池時(shí)，檢查員可能會(huì)考慮以下因素：

• 確定管道是ERW還是無縫管道。
• 確定墻體減少的方向是軸線而不是隨機(jī)。
• 如果管道回路中的多個(gè)或所有接頭都是ERW，請確定每個(gè)接頭上的工件所在的線。檢查員可能會(huì)發(fā)現(xiàn)線路相對于管道改變方位角位置。
• 如果發(fā)現(xiàn)電路中的管道連接是無縫的并且沒有墻壁減少。

結(jié)論

可以通過超聲波厚度測量來檢測管道中的制造偽影。執(zhí)行管道厚度測量的檢查員應(yīng)了解這種損壞機(jī)制。向過程工廠質(zhì)量控制檢查員通知該潛在問題以避免過高估計(jì)腐蝕速率也很重要。

對內(nèi)部腐蝕的金屬材料進(jìn)行厚度測量

使用雙晶探頭

45MG測厚儀的一個(gè)主要應(yīng)用是測量那些受腐蝕或侵蝕的管道、管件、箱體、壓力容器、船體外殼及其它結(jié)構(gòu)的剩余厚度。這些應(yīng)用中較常使用的是雙晶探頭。

• 用于標(biāo)準(zhǔn)D79X系列雙晶探頭的自動(dòng)探頭識(shí)別功能
• 當(dāng)校準(zhǔn)過程中出現(xiàn)雙回波時(shí)，會(huì)發(fā)出雙回波警告
• 回波到回波/穿透涂層選項(xiàng)可測量帶有漆層和涂層的表面
• 高溫測量：溫度可高達(dá)500 °C

B掃描成像（基于時(shí)間）

45MG儀器提供的B掃描功能，可在屏幕上將實(shí)時(shí)厚度讀數(shù)轉(zhuǎn)換為橫截面圖像。在觀察材料厚度在一定距離上發(fā)生的變化時(shí)，這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)功能非常有用。探頭一接觸到材料表面，就會(huì)激活B掃描。凍結(jié)小值功能用于顯示掃查區(qū)域的小厚度值?？蛇x45MG數(shù)據(jù)記錄器多可存儲(chǔ)單個(gè)B掃描中的10000個(gè)厚度讀數(shù)。

Olympus45MG測厚儀奧林巴斯金屬腐蝕壁厚儀高溫測厚

高溫表面

45MG測厚儀配上D932系列探頭（D790、D790-SM、D790-RL和D790-SL），是測量高溫材料（溫度高達(dá)500 ºC）的理想選擇，并可獲得穩(wěn)定的厚度讀數(shù)。45MG的零位補(bǔ)償功能，通過補(bǔ)償探頭延遲塊因熱漂移而產(chǎn)生的溫度變化，提高了在高溫表面上進(jìn)行測量的精確性。

回波到回波回波到回波/穿透涂層選項(xiàng)

測厚儀使用多個(gè)底面回波，顯示不計(jì)涂層厚度的實(shí)際金屬厚度：

自動(dòng)回波到回波

手動(dòng)回波到回波（僅出現(xiàn)于A掃描選項(xiàng)），

可進(jìn)行以下操作：

增益調(diào)整

擴(kuò)展空白

回波空白

調(diào)整*個(gè)回波空白的手動(dòng)回波到回波模式          顯示可選波形的穿透涂層模式

用于此應(yīng)用的產(chǎn)品

38DL PLUS

38DL PLUS是一款高級(jí)超聲測厚儀。這款儀器可使用雙晶探頭對內(nèi)部腐蝕的部件進(jìn)行檢測。其性能包含THRU-COAT®（穿透涂層）和回波到回波。還可以使用單晶探頭對薄材料、厚材料以及多層材料進(jìn)行非常精確的厚度測量。

45MG

手持式45MG是一款配置有各種測量功能和軟件選項(xiàng)的超聲測厚儀。這款*的儀器與所有Olympus雙晶和單晶探頭探頭兼容，是一款集所有解決方案于一機(jī)的創(chuàng)新型儀器，可用于幾乎所有測厚應(yīng)用。

產(chǎn)品規(guī)格：

標(biāo)準(zhǔn)包裝

• 45MG數(shù)字超聲波測厚儀
• AA堿性電池
• 兩步試塊和耦合劑
• USB電纜
• CD上的用戶手冊
• 測量功能：小/大 模式，兩種報(bào)警模式，差分，模式，B掃描，降低率，可編程鎖定

軟件選項(xiàng)

• 45MG-SE（U8147022）：單元件選項(xiàng)，使用頻率范圍為2.25 MHz至30 MHz的單元件傳感器。
• 45MG-HP（U8147023）：單元件高穿透選項(xiàng)使用頻率范圍為0.5 MHz至30 MHz的單元件傳感器。
• 45MG-EETC（U8147021）： Echo-to-Echo和THRU-COAT®
• 45MG-WF（U8147019）：波形選項(xiàng)
• 45MG-DL（U8147020）：內(nèi)部數(shù)據(jù)記錄器，包括GageView接口程序

可選配件

• MICROSSD-ADP-2GB（U8779307）： 2 GB外部microSD存儲(chǔ)卡
• 45MG-RPC（U8779 676）：帶支架的橡膠保護(hù)套

Panametrics-NDT Microscan傳感器經(jīng)常與25系列和35系列厚度計(jì)以及其他市售厚度計(jì)，探傷儀和超聲波儀器一起使用。

Microscan傳感器部件號(hào)反映連接器的名稱： 
RM =直角Microdot®SM 
=直式微棒 
RB =直角BNC 
SB =直式BNC 
SU =直式UHF

選擇傳感器時(shí)，請查看下面的圖表或參考隨您的量具附帶的使用說明書中的傳感器頻率范圍。

厚度計(jì)型號(hào)

傳感器頻率范圍

45MG 
38DL PLUS

2.0到30 MHz

接觸傳感器

Panametrics-NDT Microscan接觸式傳感器的優(yōu)勢之一是其多功能性; 單個(gè)換能器可以覆蓋許多工程材料的寬廣的厚度范圍。接觸式傳感器采用*的WC-5耐磨板構(gòu)造，具有更高的耐用性和更長的使用壽命。

RM =直角微米; SM =直的微米; SB =直BNC 

SONOPEN®傳感器

Sonopen®傳感器具有一個(gè)可更換的延遲線，可以逐漸變細(xì)至較小的接觸面積。這種傳感器可以在諸如渦輪機(jī)葉片，塑料瓶頸上的螺紋以及塑料容器上的緊縮半徑等應(yīng)用中進(jìn)行可靠的厚度測量。高溫Sonopen延遲線也可用。

*使用高達(dá)350°F（175°C）的高溫延遲

延遲線傳感器

Panametrics-NDT Microscan延遲線傳感器可在薄的材料，高溫或需要高度厚度分辨率的應(yīng)用中提供出色的性能。

可更換的延遲線

標(biāo)準(zhǔn)延遲線

標(biāo)準(zhǔn)延遲線用于許多應(yīng)用中。諸如高表面溫度，材料曲率或難以接近區(qū)域的特殊條件可能需要使用特殊的延遲線。

*精確范圍取決于材料聲速，傳感器頻率，零件幾何形狀和表面狀況。

高溫延遲線

高溫延遲線用作測試片熱表面和傳感器晶體之間的保護(hù)性緩沖區(qū)。在溫度升高的情況下，建議間歇式接觸以保護(hù)傳感器免受熱損傷。