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mtiinstruments300SA測量儀

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  • 型號 mtiinstruments300SA
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  • 所在地 上海市
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更新時間：2018-11-30 13:57:08瀏覽次數(shù)：459

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產(chǎn)品簡介

mtiinstruments300SA測量儀射效率，改進(jìn)了樣品內(nèi)的激光穿透，以及對不同化學(xué)物質(zhì)的共振合。然而，紫外線分析帶來了許多技術(shù)挑戰(zhàn)，這需要經(jīng)過深思熟慮的儀器設(shè)計，使紫頻率范圍從20hz到3mhz測量速度快——每秒可測量20次0.1%基本準(zhǔn)確度直流偏置電流可達(dá)125a電信測量功能帶有圖形顯示的分析模式全面的測量功能，包括泄漏測試直觀直觀的操作?打印測試結(jié)果通用接口總線和

詳細(xì)介紹

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forma 300SA是一種用于半導(dǎo)體和半絕緣材料的臺式/臺式半自動化晶圓測量系統(tǒng)。基于MTII獨有的推拉電容技術(shù)，Proforma 300SA對晶圓片表面進(jìn)行厚度、厚度變化、彎曲、翹曲、sori、位置和整體平整度的全掃描。用戶定義和ASTM/SEMI兼容掃描模式用于生成完整的三維(3D)晶圓圖像。forma 300SA是一種用于半導(dǎo)體和半絕緣材料的臺式/臺式半自動化晶圓測量系統(tǒng)?；贛TII獨有的推拉電容技術(shù)，Proforma 300SA對晶圓片表面進(jìn)行厚度、厚度變化、彎曲、翹曲、sori、位置和整體平整度的全掃描。用戶定義和ASTM/SEMI兼容掃描模式用于生成完整的三維(3D)晶圓圖像forma 300SA是一種用于半導(dǎo)體和半絕緣材料的臺式/臺式半自動化晶圓測量系統(tǒng)?；贛TII獨有的推拉電容技術(shù)，Proforma 300SA對晶圓片表面進(jìn)行厚度、厚度變化、彎曲、翹曲、sori、位置和整體平整度的全掃描。用戶定義和ASTM/SEMI兼容掃描模式用于生成完整的三維(3D)晶圓圖像

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