產品名稱：植物冠層分析儀/植物光譜儀/冠層分析儀 產品型號：TC-2000

植物冠層分析儀 植物光譜儀 冠層分析儀  型號：TC-2000

操作原理：

任何物質都具有發(fā)射、吸收及反射電磁波的特性，這是光譜信息檢測的基本原理。通過測量每一波長輻射的吸收、發(fā)送或反射，物質的特性就能被確定。在實際應用時，僅需要選擇某些特定波段來識別被選定物質的特性。利用窄帶過濾器來選擇可見光和近紅外(NIR) 區(qū)電磁波譜的某些波段。此波段區(qū)域可以用于量化各種脅迫導致的植物冠層發(fā)射率差異。750-900納米的近紅外波段對探測和評估植物葉片病害的嚴重性十分有用。近紅外區(qū)的長波波段可以用于估計植物的生物化學成份。

采用可見/近紅外光反射光譜技術和多通道光譜信息掃描技術，可快速測定植被表面參數、植物冠層信息、植物養(yǎng)分信息、土壤養(yǎng)分信息、環(huán)境參數、植物病蟲害程度等。

儀器為8通道通用光譜檢測分析儀，可支持16通道不同波段的通用光譜信息采集儀器，用戶可以根據實際須要定制不同波段的濾光片進行光譜檢測。

儀器自帶8個波段的濾光片，主要中心波段為：550nm,600nm,650nm,730nm, 940nm,1100nm,1250nm,1550nm.

內置傳感器自動校正模塊。

植物冠層分析儀TC-2000應用范圍：

*描述:

-植物正常生長

-植物冠層顔色

-植物生長環(huán)境

*評估:

-作物生物量

-生物化學含量

-作物產量組成

-作物質量因子

-葉面積指數

-由于病蟲害、空氣污染、養(yǎng)分不足和化學植物毒素等造成的作物產量損失與品質降低

*植物生長調節(jié)劑的評估

*客觀有效地對各種葉片病害的評級

*監(jiān)測應用除草劑的效果

*用于土壤改善和肥力的研究

*葉面施肥的研究

*灌溉日程安排的研究

*干旱對植物生長和產量的影響

*不同基因型的特性

*試驗地變異的評估

植物冠層分析儀TC-2000特點：

輻射計方向360度可調，可以自動校準太陽方向角對測量造成的影響

儀器高矮可調節(jié)

能夠在少云的情況下使用

8個波段與Lsat衛(wèi)星熱波譜圖的前8條波段相似

重量輕、便于攜帶

可以用于無人值守的操作

大屏幕中文液晶顯示

手持機可存儲，通過按鍵存儲

帶計算機接口，可以將數據導入計算機，以便分析之用

技術指標：

現(xiàn)在已定標的有：

A、歸一化植被指數NDVI、SA-NDVI，WDR-NDVI，RVI

B、光化學反射系數PRI

C、葉面積指數（LAI）

D、冠層林隙比例（GAP SIZE）

E、植物冠層吸收的光合有效輻射分量(FPAR)

波段:8個

中心波長:  550nm,600nm,650nm,730nm, 940nm,1100nm,1250nm,1550nm 

操作范圍:0到+50℃,0到100%相對濕度不凝結,<20%的相對濕度下貯藏

反射率區(qū)間:0到100%

分辨率:0.06%

精確度:+/-4%

檢波器:發(fā)光二管

尺寸：100×100×80mm

存儲數據：1000組

響應時間：2秒

重量:1kg

植物冠層分析儀配置：

該系統(tǒng)包括輻射計、數據記錄器（手持表）、伸長桿 (可伸長到3.5米)、 AC適配器及充電器、軟件光盤、數據連接線、使用手冊

植物冠層分析儀操作方法：

在田間，通過支持架（桿）將輻射計保持在作物冠層上面的水平位置。田間的觀測直徑是反射計高于冠層的高度的一半。系統(tǒng)內置的數據獲取程序便于對電壓數字化和記錄每一選擇波長的反射百分數。該程序同時允許對多個樣本取平均值。各種輔助數據，如時間、入射輻射水平和輻射計內部的溫度，均可在每次掃描時記錄下來。

通過手動開關或按手持機觸發(fā)的一次掃描只需約2秒鐘。各種操作過程均有屏幕提示。

輻射計設計允許幾乎同時輸入代表入射輻射和反射輻射的電壓值。這一特性允許在非理想的太陽角度和光照條件下精確測量作物冠層的反射率。在多云條件下，利用系統(tǒng)校準程序進行環(huán)境校準，仍然可以獲得有用的反射率觀測值。