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詳細介紹
同惠 TH2840A/TH2840B 精密LCR數(shù)字電橋
同惠 TH2840A/TH2840B 精密LCR數(shù)字電橋
性能特點
■ 高穩(wěn)定性和一致性：14個量程配置
■ 高功率：信號電平：20VAC/100mAAC 內置直流偏置：±40VDC/100mADC 內置電流源：±2A
■ DCR電平：20VDC/100mADC
■ 高速度：測試速度高達0.56ms（1800次/秒）
■ 高分辨：10.1英寸，分辨率1280*800，電容式觸摸屏
■ 點測、列表掃描、圖形掃描三種測試方式
■ 四參數(shù)測量
■ 201點多參數(shù)列表掃描功能
■ 圖形掃描功能，4軌跡任意選擇，支持1/2/4分屏
■ 分選功能：LCR模式10檔分選
■ 高兼容性：支持SCPI/MODBUS指令集， 兼容KEYSIGHT E4980A、E4980AL、HP4284A
應用
■ 無源元件：
電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡元件等的阻抗參數(shù)評估和性能分析。
■ 半導體元件：
LED驅動集成電路寄生參數(shù)測試分析；變容二極管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析
■ 其它元件：
印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等的阻抗評估
■ 介質材料：
塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評估
■ 磁性材料：
鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估
■ 半導體材料：
半導體材料的介電常數(shù)、導電率和C-V特性
技術參數(shù)
產(chǎn)品型號
TH2840A
TH2840B
顯示
顯示器
10.1英寸電容觸摸屏
比例
16:9
分辨率
1280×RGB×800
測量參數(shù)
方式
四參數(shù)任意選擇
AC
Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、VAC、IAC
DC
RDC、VDC、IDC
測試頻率
范圍
20Hz-500kHz
20Hz-2MHz
精度
0.01%
分辨率
0.1mHz (20.0000Hz-99.9999Hz)
1mHz (100.000Hz-999.999Hz)
10mHz (1.00000kHz-9.99999kHz)
100mHz (10.0000kHz-99.9999kHz )
1Hz (100.000kHz-999.999kHz)
10Hz (1.00000MHz-2.00000MHz)
AC測試信號模式
額定值(ALC OFF)
設定電壓為測試端開路時Hcur電壓
設定電流為測試端短路時從Hcur流出電流
恒定值(ALC ON)
保持DUT上電壓與設定值相同
保持DUT上電流與設定值相同
測試電平
電壓范圍
5mVrms-20Vrms
F≤1MHz 5mVrms-20Vrms
F＞1MHz 5mVrms-15Vrms
準確度
±（10%×設定值+2mV）（AC≤2Vrms）
±（10%×設定值+5mV）（AC＞2Vrms）
分辨率
1mVrms（5mVrms-0.2Vrms）
1mVrms（0.2Vrms-0.5Vrms）
1mVrms(0.5Vrms-1Vrms)
10mVrms(1Vrms-2Vrms)
10mVrms(2Vrms-5Vrms)
10mVrms(5Vrms-10Vrms)
10mVrms(10Vrms-20Vrms)
電流范圍
50μArms-100mArms
分辨率(100Ω內阻)
10μArms (50μArms-2mArms)
10μArms (2mArms-5mArms)
10μArms (5mArms-10mArms)
100μArms (10mArms-20mArms)
100μArms (20mArms-50mArms)
100μArms (50mArms-100mArms)
RDC測試
電壓范圍
100mV-20V
分辨率
1mV(0V-1V)
10mV(1V-20V)
電流范圍
0mA-100mA
分辨率
10μA(0mA-10mA)
100μA(10mA-100mA)
DC偏置
電壓范圍
0V-±40V
準確度
AC≤2V 1%×設定電壓+5mV
AC>2V 2%×設定電壓+8mV
分辨率
1mV(0V-1V)
10mV(±1V- ±40V)
電流范圍
0mA-±100mA
分辨率
10μA(0mA-10mA)
100μA(10mA-100mA)
內置電流源
電流范圍
0mA-2A
準確度
I>5mA ±（2%×設定值+2mA）
分辨率
1mA
測試端配置
四端對
測試電纜長度
0m、1m、2m、4m
輸出阻抗
30Ω，±4%@1kHz
100Ω，±2%@1kHz
數(shù)學運算
與標稱值的絕對偏差Δ，與標稱值的百分比偏差Δ%
等效方式
串聯(lián)、并聯(lián)
校準功能
開路OPEN、短路SHORT、負載LOAD
測量平均
1-255次
量程選擇
自動AUTO、手動HOLD
量程配置
LCR
100mΩ、1Ω、10Ω、20Ω、50Ω、100Ω、200Ω、500Ω、1kΩ、2kΩ、5kΩ、10kΩ、20kΩ、50kΩ、100kΩ
RDC
1Ω、10Ω、20Ω、50Ω、100Ω、200Ω、500Ω、1kΩ、2kΩ、5kΩ、10kΩ、20kΩ、50kΩ、100kΩ
測量時間（ms）
快速+:0.56ms
快速:3.3ms
中速: 90ms
慢速: 220ms
最高準確度
0.05%（具體參考說明書）
測量顯示范圍
Cs、Cp
0.00001pF-9.99999F
Ls、Lp
0.00001μH-99.9999kH
D
0.00001-9.99999
Q
0.00001-99999.9
R、Rs、Rp、X、Z、RDC
0.001mΩ-99.9999MΩ
G、B、Y
0.00001μs-99.9999S
VDC
±0V-±999.999V
IDC
±0A-±999.999A
θr
-3.14159-3.14159
θd
-179.999°-179.999°
Δ%
±（0.000%-999.9%）
多功能參數(shù)列表掃描
點數(shù)
201點，每個點可設置平均次數(shù)，每個點可單獨分選
參數(shù)
測試頻率、AC電壓、AC電流、DC BIAS電壓、DC BIAS電流(100mA)、DC BIAS電流(2A)
觸發(fā)模式
順序SEQ：當一次觸發(fā)后，在所有掃描點測量，/EOM/INDEX只輸出一次
步進STEP：每次觸發(fā)執(zhí)行一個掃描點測量，每點均輸出/EOM/INDEX，但列表掃描比較器結果只在最后的/EOM才輸出
其他特點
1.掃描參數(shù)與測試參數(shù)都有多種復制功能
2.每個掃描點均可設置延時
比較器
每個掃描點最多可測量四個測試參數(shù)，每個參數(shù)均可設置上下限，所有測試參數(shù)都合格輸出PASS信號，否則輸出FAIL信號，未設上下限則不判斷
圖形掃描
掃描點數(shù)
51、101、201、401、801點可選
結果顯示
每個參數(shù)的極值以及光標所在點的掃描參數(shù)值與對應的測試參數(shù)值
掃描軌跡
1-4個測試參數(shù)任意選擇，掃描曲線可以一分屏、二分屏、四分屏
顯示范圍
實時自動、鎖定
坐標標尺
對數(shù)、線性
掃描參數(shù)
頻率、AC電壓、AC電流、DCV BIAS / DCI BIAS(100mA) / DCI BIAS(2A)
觸發(fā)方式
單次
手動觸發(fā)一次，從起點到終點一次掃描完成，下個觸發(fā)信號啟動新一次掃描
連續(xù)
從起點到終點無限次循環(huán)掃描
結果保存
圖形、文件
比較器
Bin分檔
10Bin、PASS、FAIL
Bin偏差設置
偏差值、百分偏差值、關
Bin模式
容差、連續(xù)
Bin計數(shù)
0-99999
檔判別
每檔最多可設置四個參數(shù)極限范圍，四個測試參數(shù)結果設檔范圍內顯示對應檔號，超出設定最大檔號范圍則顯示FAIL，未設置上下限的測試參數(shù)自動忽略檔判別
PASS/FAIL指示
滿足Bin1-10,前面板PASS燈亮，否則FAIL燈量
數(shù)據(jù)緩存
201個測量結果可分批讀取
存儲調用
內部
約100M非易失存儲器測試設定文件
外置USB
測試設定文件、截屏圖形、記錄文件
鍵盤鎖定
可鎖定前面板按鍵，其他功能待擴充
接口
USB HOST
2個USB HOST接口，可同時接鼠標、鍵盤，U盤同時只能使用一個
USB DEVICE
通用串行總線插座，小型B類（4個接觸位置）；與USB TMC-USB488和USB2.0相符合，陰接頭用于連接外部控制器。
LAN
10/100M以太網(wǎng)自適應
HANDLER
用于Bin分檔信號輸出
外部DC BIAS控制
支持TH1778A
RS232C
標準9針，交叉
RS485
可以接受改制或外接RS232轉RS485模塊
開機預熱時間
60分鐘
輸入電壓
100-120VAC/198-242VAC可選擇，47-63Hz
功耗
不小于130VA
尺寸（WxHxD）mm3
430x177x265
重量（kg）
11kg
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