納米粒度及Zeta電位分析儀是一種專業(yè)的 分析測試儀器，用于測量和分析物質(zhì)的粒度大小以及電位特性。它具有高靈敏度和高分辨率的特點(diǎn)，能夠?qū){米級顆粒進(jìn)行準(zhǔn)確的粒度分析，并測量物質(zhì)的電位。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

· 納米粒度及Zeta電位分析儀具有高速、準(zhǔn)確的檢測能力

· 高性能自適應(yīng)光子相關(guān)器，提高檢測的實(shí)時(shí)性、準(zhǔn)確性和重復(fù)性

· 自適應(yīng)光源強(qiáng)度調(diào)節(jié)，保證測量裝置檢測性能的穩(wěn)定性和重復(fù)性

· 高靈敏度和穩(wěn)定度的光子計(jì)數(shù)級光電信號檢測能力，

· 可靠的光纖耦合裝置，高效地增加DLS和ELS信號的信噪比，提高測量穩(wěn)定性

· 準(zhǔn)確智能的頻譜分析算法，提高ELS的測量精度

· 高穩(wěn)定性的光路與電路設(shè)計(jì)：消除雜散光和噪聲信號的影響，結(jié)果穩(wěn)定性和重復(fù)性高

應(yīng)用領(lǐng)域：

磨料、化學(xué)機(jī)械拋光液、陶瓷、粘土、涂料、污染監(jiān)測、化妝品、乳劑、食品、液體工作介質(zhì)/油、墨水、  乳液、色漆、制藥粉體、顏料、聚合物、蛋白質(zhì)大分、二氧化硅以及自組裝TiO2納米管(TNAs)等

技術(shù)參數(shù)：

粒徑測量范圍：0.7-10um(動態(tài)光散射法)；

Zeta電位測試范圍：-500~﹢500mV；

準(zhǔn)確性與重復(fù)性：優(yōu)于2%（國家標(biāo)準(zhǔn)樣品 D50 值）；

檢測角度：90°、18°；

樣品池：塑料樣品池、Zeta電位樣品池；

溫控范圍：10℃-50℃，精度±0.1℃，半導(dǎo)體制冷；

激光光源：可調(diào)半導(dǎo)體激光器，波長635nm、35mW；

檢測器：光子計(jì)數(shù)級的光電倍增管（PMT）；

數(shù)字相關(guān)器：集成的光子相關(guān)器，雙通道。1000 通道，最小采樣時(shí)間 100ns；

納米粒度儀軟件：納米粒度儀分析軟件是用于測試納米粒徑及粒徑分布的全新軟件，采用動態(tài)光散射技術(shù)及電泳光散射技術(shù)，可以實(shí)時(shí)、準(zhǔn)確地檢測膠體溶液中納米顆粒的粒徑及粒徑分布，以及Zeta電位等參數(shù)；

計(jì)算機(jī)接口：USB3.0及以上。