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MD-1型粉塵粒度分析

一、產(chǎn)品介紹

本產(chǎn)品采用斯托克斯原理和比爾定律進(jìn)行分析檢測(cè)，能準(zhǔn)確測(cè)定粉塵粒度分布。讀數(shù)直觀(guān)，測(cè)定結(jié)果自動(dòng)儲(chǔ)存，也可由用戶(hù)根據(jù)需要選擇，把結(jié)果通過(guò)顯示屏或打印機(jī)輸出。儀器具有掉電保護(hù)功能，可儲(chǔ)存粒度分布數(shù)據(jù)。

主要用于實(shí)驗(yàn)室測(cè)定粉塵粒度分布。

二、產(chǎn)品參數(shù)

（1）粉塵粒度分布測(cè)定范圍：0～150µm。測(cè)定粉塵累積質(zhì)量篩上分布，粉塵粒度分級(jí)為
150µm、100、80µm、60µm、50µm、40µm、30µm、20µm、10µm、8µm、7µm、6µm、5µm、
4µm、3µm、2µm、1µm。
（2）測(cè)定誤差：d＜40µm時(shí)，粉塵粒度分布重復(fù)測(cè)定誤差≤10%；
（3）工作電源：220VAC。
（4）外形尺寸：430㎜×285㎜×300㎜。
（5）重量：15kg。

三、產(chǎn)品特點(diǎn)

（1）采用斯托克斯原理和比爾定律進(jìn)行分析檢測(cè)，能準(zhǔn)確測(cè)定粉塵粒度分布。
（2）讀數(shù)直觀(guān)，測(cè)定結(jié)果自動(dòng)儲(chǔ)存，也可由用戶(hù)根據(jù)需要選擇，把結(jié)果通過(guò)顯示屏或打印機(jī)輸出。
（3）儀器具有掉電保護(hù)功能，可儲(chǔ)存粒度分布數(shù)據(jù)。

粒度分析又稱(chēng)"機(jī)械分析。是研究碎屑沉積物(或巖石)中各種粒度的百分含量及粒度分布的一種方法。對(duì)易于分解離開(kāi)的碎屑沉積，通常采用篩析法和沉速法;對(duì)固結(jié)較緊且又不易解離的碎屑沉積，通常采用薄片鑒定法;對(duì)粗大的礫石通常采用直接測(cè)量法。根據(jù)分析結(jié)果，可推測(cè)沉積物的形成條件和環(huán)境。對(duì)于不同原理的粒度分析儀器，所依據(jù)的測(cè)量原理不同，其顆粒特性也不相同，只能進(jìn)行等效對(duì)比，不能進(jìn)行橫向直接對(duì)比。

種類(lèi)

1.顯微鏡法(Microscopy)

SEM、TEM；1nm～5μｍ范圍。

適合納米材料的粒度大小和形貌分析。

2.沉降法(Sedimentation Size Analysis)

沉降法的原理是基于顆粒在懸浮體系時(shí)，顆粒本身重力(或所受離心力)、所受浮力和黏滯阻力三者平衡，并且黏滯力服從斯托克斯定律來(lái)實(shí)施測(cè)定的，此時(shí)顆粒在懸浮體系中以恒定速度沉降，且沉降速度與粒度大小的平方成正比。10nm～20μｍ的顆粒。

MD-1型粉塵粒度分析儀