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產(chǎn)品簡介
BX51-P偏光顯微鏡是利用偏光識別樣品的不同特性的高級偏光系統(tǒng)顯微鏡。適用于各向同性、各向異性材料的鑒別，廣泛應(yīng)用于礦物、化工產(chǎn)品，醫(yī)學(xué)、植物學(xué)等分析。
詳細介紹
BX51-P偏光顯微鏡
UIS2物鏡觀察到的鮮明影像
能夠?qū)崿F(xiàn)小光學(xué)失真的偏振光用物鏡ACHN-P、UPLFLN-P系列產(chǎn)品中選擇所需產(chǎn)品。UPLFLN-P系列物鏡是能夠用于微分干涉觀察和包括紫外線激發(fā)的熒光觀察的通用物鏡，能應(yīng)對包含偏振光觀察的多種研究和檢查。
*EF值：平行尼科爾和正交尼科爾亮度比較，EF值越高光學(xué)失真越少，表明偏振光特性越好。
觀察影像實例
石英閃長巖中的斜長石帶狀結(jié)構(gòu)
液晶MBBA(甲氧基的氨基聯(lián)苯丁基苯胺)
UPLFLN-P系列產(chǎn)品
| UPLFLN-P系列產(chǎn)品規(guī)格 | ||
| 產(chǎn)品名稱 | 數(shù)值孔徑 (N.A.) | 工作距離 (W.D.) |
| UPLFLN4XP | 0.13 | 17.0mm |
| UPLFLN10XP | 0.3 | 10.0mm |
| UPLFLN20XP | 0.5 | 2.1mm |
| UPLFLN40XP | 0.75 | 0.51mm |
| UPLFLN100XOP | 1.3 | 0.2mm |
ACHN-P系列產(chǎn)品
| ACHN-P系列產(chǎn)品規(guī)格 | ||
| 產(chǎn)品名稱 | 數(shù)值孔徑 (N.A.) | 工作距離 (W.D.) |
| ACHN10xP | 0.25 | 6.0mm |
| ACHN20xP | 0.40 | 3.0mm |
| ACHN40xP | 0.65 | 0.45mm |
| ACHN100xOP | 1.25 | 0.13mm |
的操作性能和光學(xué)性能
操作簡便、觀察清晰的顯微鏡機體
*追求人機工程學(xué)的Y形框架，操作更為舒適，提高了觀察效率。極大地降低了長時間觀察的疲勞度。
視場數(shù)達到了22，與一般視場數(shù)為20的顯微鏡相比，觀察的范圍增寬了21%。此外，照明系統(tǒng)采用了12 V，100W明亮的鹵素?zé)?，能觀察明亮逼真的偏振光影像。
支持更高效的偏振光觀察的載物臺
帶有旋轉(zhuǎn)中心輸出機構(gòu)的旋轉(zhuǎn)載物臺，樣品可以流暢旋轉(zhuǎn)。此外，每隔45°裝有的鎖定機構(gòu)，提高了觀察效率。
旋轉(zhuǎn)載物臺上裝有復(fù)式機械載物臺，能夠控制樣品的細微移動。
旋轉(zhuǎn)載物臺
復(fù)式機械載物臺
對應(yīng)高級偏振光觀察的附件
偏振光性能優(yōu)異的附件
各種補償板的延遲測量范圍
全面改良了偏振光用聚光鏡和偏振光板的設(shè)計，提高了偏振光性能，實現(xiàn)了高EF值*、高對比度的偏振光觀察。
*EF值：平行尼科爾和正交尼科爾亮度比較，EF值越高光學(xué)失真越少，表明偏振光特性越好。
| 各種補償板的延遲測量范圍 | ||
| 補償板 | 測量范圍 | 主要用途 |
| U-CTB厚型Berek | 0-11,000nm | 較大的延遲測量（R*＞3λ）。（結(jié)晶、高分子、纖維、光彈性失真等） |
| U-CBE Berek | 0-1,640nm | 延遲測量（結(jié)晶、高分子、纖維、生物體組織等） |
| U-CSE Senarmont | 0-546nm | 延遲測量（結(jié)晶、生物體組織等）對比度增強（生物體組織等） |
| U-CBR1 Brace-Kohler 1/10λ | 0-55nm | 微小延遲測量（結(jié)晶、生物體組織等） 對比度增強（生物體組織等 |
| U-CBR2 Brace-Kohler 1/30λ | 0-20nm | |
| U-CWE2 石英楔子 | 500-2,200nm | 延遲的近似測量（結(jié)晶、高分子等） |
*R表示延遲。
為提高測量精度，建議與干涉濾鏡45IF546一起使用。（U-CWE2除外）
鮮明的正像鏡影像和錐光鏡影像
錐光鏡／正像鏡觀察單元
簡單的操作就可以切換正像鏡和錐光鏡，并且能夠?qū)瑰F光鏡影像。此外，采用了伯特蘭透鏡，即使是樣本的微小范圍，也能觀察到逼真的錐光鏡影像。