目錄:深圳喬邦儀器有限公司>>電鍍鍍層膜厚分析儀>> 鍍層測厚儀XRFXD-1000
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更新時(shí)間:2024-04-28 13:52:31瀏覽次數(shù):997評(píng)價(jià)
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產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),電子,印刷包裝 |
儀器簡介:
廣泛用于鍍層厚度的測量、電鍍液濃度的測量。
X熒光光譜測厚儀是能譜分析方法,屬于物理分析方法。樣品在受到X射線照射時(shí),其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會(huì)發(fā)射出各自的特征X射線,不同的元素有不同的特征X射線;探測器探測到這些特征X射線后,將其光信號(hào)轉(zhuǎn)變?yōu)槟M電信號(hào);經(jīng)過模擬數(shù)字變換器將模擬電信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)并送入計(jì)算機(jī)進(jìn)行處理;計(jì)算機(jī)的特殊應(yīng)用軟件根據(jù)獲取的譜峰信息,通過數(shù)據(jù)處理測定出被測鍍層樣品中所含元素的種類及各元素的鍍層厚度。
它能檢測出常見金屬鍍層厚度,無需樣品預(yù)處理;分析時(shí)間短,僅為數(shù)十秒,即可分析出各金屬鍍層的厚度;分析測量動(dòng)態(tài)范圍寬,可從0.005μm到60μm。
鍍層測厚儀XRFXD-1000
開放式樣品腔。
精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái),探測器和X光管上下可動(dòng),實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
信號(hào)檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護(hù)傳感器
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)
鍍層測厚儀XRFXD-1000應(yīng)用
黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè);銀行,首飾銷售和檢測機(jī)構(gòu);電鍍行業(yè)。
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