測(cè)試膜：又名X射線熒光光譜儀樣品薄膜，邁拉膜，麥拉膜，XRF測(cè)試薄膜，XRF樣品膜，樣品薄膜，EDX薄膜，EDX樣品薄膜，ROHS檢測(cè)膜，光譜儀樣品薄膜；是應(yīng)用于X熒光光譜儀的用于保留液體、粉末、泥漿或固體樣本在樣本杯內(nèi)的物質(zhì)。專(zhuān)用樣品薄膜是使用方便簡(jiǎn)捷，無(wú)污染的測(cè)試用樣品薄膜，廣泛應(yīng)用于Elite、fischer、牛津、博曼、先鋒、日立、天瑞等各種品牌的EDX/XRF光譜儀。

光譜儀樣品薄膜 測(cè)試膜 XRF樣品膜 光譜儀樣品薄膜

常用的鎳銀或鎳金層一般1~3微米。鎳層較厚， 要起阻擋層作用。
另外鍍的方法上有電鍍和EN鍍，鍍層表面質(zhì)量不一樣。
分立半導(dǎo)體器件的電鍍一般采用純錫或錫基和金電鍍，這幾年由于歐洲RoHS指令生效，純錫電鍍較為流行。純錫電鍍有Wisker的問(wèn)題，所以鍍層厚度的最小值一般要求超過(guò)8微米，并配合150C回火。
不同的封裝工藝，對(duì)鍍層的要求不盡一樣，業(yè)界沒(méi)有固定的標(biāo)準(zhǔn)。只要能做到滿足可靠性就可以了，200-600微英寸。