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 奧地利Anton Paar公司Litesizer 500納米粒度及Zeta電位分析儀的主要功能和優(yōu)勢(shì)：

1)     Litesizer 500納米粒度及Zeta電位分析儀采用40mW 658nm高能半導(dǎo)體激光器，結(jié)合超高靈敏的光路設(shè)計(jì)和APD檢測(cè)器，將粒度測(cè)試和Zeta電位測(cè)試的靈敏度和準(zhǔn)確度提高到*的高度；

2)      粒度測(cè)試采用三個(gè)角度(15º, 90º, 175º) ，結(jié)合非侵入式背散射技術(shù)，同時(shí)符合ISO13321和ISO22412標(biāo)準(zhǔn)，具有極寬的適用性；

3)     Zeta電位測(cè)試采用cmPALS專有技術(shù)，相比傳統(tǒng)的PALS技術(shù)，可在更低電壓下測(cè)試，縮短了測(cè)量時(shí)間，同時(shí)大大提高了重復(fù)性和準(zhǔn)確度；

4)      優(yōu)化的Zeta 電位樣品池，具有*的 Ω 形毛細(xì)管。這種形狀意味著電泳光散射 (ELS) 測(cè)量可不受測(cè)量位置影響，在測(cè)試通道內(nèi)形成均勻電場(chǎng)，保證結(jié)果的穩(wěn)定性和可重復(fù)性；

5)      實(shí)時(shí)測(cè)定透光率。儀器根據(jù)透光率自動(dòng)設(shè)置測(cè)試參數(shù)，比如聚焦位置、檢測(cè)角度、濾光強(qiáng)度以及測(cè)試時(shí)間；

6)      所有光學(xué)器件放置在內(nèi)置保護(hù)殼中，降低振動(dòng)帶來(lái)的影響，確保測(cè)量不受灰塵或溫度波動(dòng)影響；

7)      基于WIN10平臺(tái)開發(fā)的軟件，簡(jiǎn)明易用，所有內(nèi)容都集中在一個(gè)頁(yè)面上，輸入?yún)?shù)、測(cè)量和分析集中在一個(gè)頁(yè)面，只需輕觸一鍵即可完成測(cè)試；

8)     可測(cè)試分子量，第二維利系數(shù)A₂。