S4 TStar — TXRF的明星

數十年來，X 射線熒光（XRF）光譜法在多個行業(yè)中被廣泛用于對固體和石油化工樣品進行元素分析，檢測限值低于PPb 量級。TXRF 擴展了XRF 的應用范圍，可以分析液體樣品、懸浮液和膜片中的超微量元素。因此，TXRF 成為原子吸收光譜法（AAS）以及電感耦合等離子體發(fā)射光譜法（ICP-OES）或質譜法（ICP-MS）的理想的替代性方法?，F在，S4 TStar 在臺式TXRF 光譜儀的性能、自控和質量方面開創(chuàng)了新的標準。

全反射X射線熒光光譜儀（TXRF）S4 TStar優(yōu)異的樣品通用性

S4 TStar 是一種通用性很強的工具，可以分析不同反射載體上的多種類型的樣品。它的樣品通用性ICP。

ICP 只能分析*溶解的液體樣品。

圖一：30 毫米石英片：對液體、固體和懸浮液進行元素分析

圖二：2 英寸晶片：污染分析、深度剖析和材料科學研究

圖三：顯微鏡載玻片：臨床和生物學樣品，直接分析細胞培養(yǎng)物、涂片和切片

圖四：矩形載體：尺寸小于54 毫米，用于膜片、濾片、納米顆粒層定制的反射介質

全反射X射線熒光光譜儀（TXRF）S4 TStar行業(yè)應用：

·  藥品

檢測活性藥物成分中的催化元素：液體或丸粒中的鉛含量小于0.1 / 0.5ppm

·  食品

糧農組織和世衛(wèi)組織的食品標準：大米中的砷含量小于10 / 40ppb。

·  環(huán)境監(jiān)測

環(huán)境監(jiān)測：地表水，廢水、污泥和核廢液中的污染物含量小于1 / 10ppb。