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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
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與常用的應(yīng)用程序開發(fā)環(huán)境（例如 LabVIEW、Visual C++、配合使用，能夠?qū)δK和嵌入式儀器編程功能進(jìn)行*控制。這些功能使測(cè)試程序員能夠集中精力開發(fā)測(cè)試級(jí)別功能和序列，而不用花費(fèi)精力來定義與 MAP
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
VIAVI MAP-280R光學(xué)損耗測(cè)試儀 VIAVI MAP-280R光學(xué)損耗測(cè)試儀
VIAVI MAP-280R光學(xué)損耗測(cè)試儀 VIAVI MAP-280R光學(xué)損耗測(cè)試儀
MAP-200 具有直觀的、經(jīng)過優(yōu)化的可互換虛擬儀器 (IVI) 驅(qū)動(dòng)程序，便于與常用的應(yīng)用程序開發(fā)環(huán)境（例如 ™）配合使用，能夠?qū)δK和嵌入式儀器編程功能進(jìn)行*控制。這些功能使測(cè)試程序員能夠集中精力開發(fā)測(cè)試級(jí)別功能互換虛擬序，便于與常MAP-200 具有直觀的、經(jīng)過優(yōu)化的可互換虛擬儀器 (IVI) 驅(qū)動(dòng)程序，便于與常用的應(yīng)用程序開發(fā)環(huán)境（例如 ™）配合使用，能夠?qū)δK和嵌入式儀器編程功能進(jìn)行*控制。這些功能使測(cè)試程序員能夠集中精力開發(fā)測(cè)試級(jí)別功能互換虛擬序，便于與常用的應(yīng)用程序開發(fā)環(huán)境（例如 ™）配合使用，能夠?qū)δK和嵌入硬件留出來用作其他用途。這些特性讓測(cè)試自動(dòng)化開發(fā)和調(diào)試變得輕松快捷。MAP-200 具有直觀的、經(jīng)過優(yōu)化的可互換虛擬儀器 (IVI) 驅(qū)動(dòng)程序，便于與常用的應(yīng)用程序開發(fā)環(huán)境（例如 ™）配合使用，能夠?qū)δK和嵌入式儀器編程功能進(jìn)行*控制。這些功能使測(cè)試程序員能夠集中精力開發(fā)測(cè)試級(jí)別功能互換虛擬序，便于與常用的應(yīng)用程序開發(fā)環(huán)境（例如 ™）配合使用，能夠?qū)δK和嵌入硬件留出來用作其他用途。這些特性讓測(cè)試自動(dòng)化開發(fā)和調(diào)試變得輕松快捷。用的應(yīng)用程序開發(fā)環(huán)境（例如 ™）配合使用，能夠?qū)δK和嵌入硬件留出來用作其他用途。這些特性讓測(cè)試自動(dòng)化開發(fā)和調(diào)試變得輕松快捷。