VIAVImA-1302/1305模塊，microir PAT-W光譜儀是一種適用于近紅外（NIR）分析儀，用于按設(shè)計(jì)質(zhì)量（QbD）制造。該光譜儀是一個(gè)堅(jiān)固的、可擴(kuò)展的下一代系統(tǒng)，用于混合均勻性、含量均勻性、干燥損失、壓實(shí)等過程分析技術(shù)（PAT）應(yīng)用的實(shí)時(shí)過程監(jiān)測(cè)?？勺?yōu)V波器（LVF）技術(shù)，PAT-W在工業(yè)過程監(jiān)控儀表中具有小的形式因子，是一種適合于實(shí)際應(yīng)用的設(shè)計(jì)。

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探針是專門設(shè)計(jì)的，以盡量減少或消除隨機(jī)散射效應(yīng)的發(fā)生，傳統(tǒng)上在實(shí)驗(yàn)室儀器中使用積分球解決。該平板探針的新穎光學(xué)設(shè)計(jì)為微近紅品和進(jìn)行嚴(yán)格和專門的控制。在實(shí)驗(yàn)室和現(xiàn)場(chǎng)使用微型近紅外探測(cè)器可使實(shí)驗(yàn)室和現(xiàn)場(chǎng)用戶在困難、不受控制的環(huán)境中獲得可重復(fù)、可靠和準(zhǔn)確的結(jié)果。其的模塊化系列產(chǎn)品的基礎(chǔ)上，的Axie標(biāo)準(zhǔn)。新的Axie底盤是界個(gè)為Axie和PCIe Gen3背板數(shù)據(jù)速率支持寬PCI Express擴(kuò)展的公司，使其成為測(cè)試和測(cè)量行業(yè)高吞吐量的模塊化底盤。