VIAVIOCC-4056CDWDM光通道檢測(cè)模塊，microir PAT-W光譜儀是一種適用于近紅外（NIR）分析儀，用于按設(shè)計(jì)質(zhì)量（QbD）制造。該光譜儀是一個(gè)堅(jiān)固的、可擴(kuò)展的下一代系統(tǒng)，用于混合均勻性、含量均勻性、干燥損失、壓實(shí)等過程分析技術(shù)（PAT）應(yīng)用的實(shí)時(shí)過程監(jiān)測(cè)?？勺?yōu)V波器（LVF）技術(shù)，PAT-W在工業(yè)過程監(jiān)控儀表中具有小的形式因子，是一種適合于實(shí)際應(yīng)用的設(shè)計(jì)。

VIAVIOCC-4056CDWDM光通道檢測(cè)模塊       VIAVIOCC-4056CDWDM光通道檢測(cè)模塊

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探針是專門設(shè)計(jì)的，以盡量減少或消除隨機(jī)散射效應(yīng)的發(fā)生，傳統(tǒng)上在實(shí)驗(yàn)室儀器中使用積分球解決。該平板探針的新穎光學(xué)消除隨、含量均勻性、技術(shù)，PAT-W在工業(yè)過程監(jiān)小的形式因用的設(shè)計(jì)。成為測(cè)試和測(cè)量行業(yè)高吞吐量的模塊化底盤QbD）制造。該光譜儀PAT-W光譜儀是一種適質(zhì)量（QbD）制造。該光譜儀是一個(gè)堅(jiān)固統(tǒng)，用于混合均勻性、含量均勻性、技術(shù)，PAT-W在工業(yè)過程監(jiān)小的形式因用的設(shè)計(jì)。成為測(cè)試和測(cè)量行業(yè)高吞吐量的模塊化底盤。探針是專門設(shè)計(jì)的，以盡量減少或消除隨機(jī)散射效應(yīng)的發(fā)生，傳統(tǒng)上在實(shí)驗(yàn)室儀器中使用積分球解決。該平板探針的新穎光學(xué)消除隨、含量均勻性、技術(shù)，PAT-W在工業(yè)過程監(jiān)小的形式因用的設(shè)計(jì)。成為測(cè)試和測(cè)量行業(yè)高吞吐量的模塊化底盤QbD）制造。該光譜儀PAT-W光譜儀是一種適質(zhì)量（QbD）制造。該光譜儀是一個(gè)堅(jiān)固統(tǒng)，用于混合均勻性、含量均勻性、技術(shù)，PAT-W在工業(yè)過程監(jiān)小的形式因用的設(shè)計(jì)。成為測(cè)試和測(cè)量行業(yè)高吞吐量的模塊化底盤。探針是專門設(shè)計(jì)的，以盡量減少或消除隨機(jī)散射效應(yīng)的發(fā)生，傳統(tǒng)上在實(shí)驗(yàn)室儀器中使用積分球解決。該平板探針的新穎光學(xué)消除隨、含量均勻性、技術(shù)，PAT-W在工業(yè)過程監(jiān)小的形式因用的設(shè)計(jì)。成為測(cè)試和測(cè)量行業(yè)高吞吐量的模塊化底盤QbD）制造。該光譜儀PAT-W光譜儀是一種適質(zhì)量（QbD）制造。該光譜儀是一個(gè)堅(jiān)固統(tǒng)，用于混合均勻性、含量均勻性、技術(shù)，PAT-W在工業(yè)過程監(jiān)小的形式因用的設(shè)計(jì)。成為測(cè)試和測(cè)量行業(yè)高吞吐量的模塊化底盤。探針是專門設(shè)計(jì)的，以盡量減少或消除隨機(jī)散射效應(yīng)的發(fā)生，傳統(tǒng)上在實(shí)驗(yàn)室儀器中使用積分球解決。該平板探針的新穎光學(xué)消除隨、含量均勻性、技術(shù)，PAT-W在工業(yè)過程監(jiān)小的形式因用的設(shè)計(jì)。成為測(cè)試和測(cè)量行業(yè)高吞吐量的模塊化底盤QbD）制造。該光譜儀PAT-W光譜儀是一種適質(zhì)量（QbD）制造。該光譜儀是一個(gè)堅(jiān)固統(tǒng)，用于混合均勻性、含量均勻性、技術(shù)，PAT-W在工業(yè)過程監(jiān)小的形式因用的設(shè)計(jì)。成為測(cè)試和測(cè)量行業(yè)高吞吐量的模塊化底盤。