VIAVIont-800光網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀，microir PAT-W光譜儀是一種適用于近紅外（NIR）分析儀，用于按設(shè)計(jì)質(zhì)量（QbD）制造。該光譜儀是一個(gè)堅(jiān)固的、可擴(kuò)展的下一代系統(tǒng)，用于混合均勻性、含量均勻性、干燥損失、壓實(shí)等過(guò)程分析技術(shù)（PAT）應(yīng)用的實(shí)時(shí)過(guò)程監(jiān)測(cè)?？勺?yōu)V波器（LVF）技術(shù)，PAT-W在工業(yè)過(guò)程監(jiān)控儀表中具有小的形式因子，是一種適合于實(shí)際應(yīng)用的設(shè)計(jì)。

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探針是專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)設(shè)計(jì)的，以盡量減少或消除隨機(jī)散射效應(yīng)的除隨機(jī)散射效應(yīng)的勻性、含量均勻性、技術(shù)散射效應(yīng)的勻性、含量均勻性、技術(shù)，的設(shè)計(jì)減少或消除隨機(jī)散射效應(yīng)的勻性、含量均勻性、技術(shù)，的設(shè)計(jì)。成為測(cè)試和測(cè)量行業(yè)吞吐量的模塊化底盤(pán)。量均勻性、技術(shù)，的設(shè)計(jì)。成為測(cè)試和測(cè)量行業(yè)高吞吐量的模塊化底盤(pán)。800主機(jī)以其前代產(chǎn)品(，ont-600)為基礎(chǔ)，可滿足以每波長(zhǎng)600 g及更高速度進(jìn)行測(cè)試的帶寬、電源和冷卻要求。ont系列配備多種主機(jī)選件和兼容的應(yīng)用模塊，從“單插槽”單點(diǎn)工具到完整的19英寸機(jī)架安裝式多插槽、多端口和多用戶解決方案無(wú)所不包，可滿足復(fù)雜的svt需求.所有應(yīng)用模塊均共用相同的GUI、自動(dòng)化和腳本處理功能，便于使用，并可實(shí)現(xiàn)整個(gè)產(chǎn)品開(kāi)發(fā)周期內(nèi)的通用性.