VIAVIOSA-110M/110H/110R模塊，microir PAT-W光譜儀是一種適用于近紅外（NIR）分析儀，用于按設(shè)計(jì)質(zhì)量（QbD）制造。該光譜儀是一個(gè)堅(jiān)固的、可擴(kuò)展的下一代系統(tǒng)，用于混合均勻性、含量均勻性、干燥損失、壓實(shí)等過(guò)程分析技術(shù)（PAT）應(yīng)用的實(shí)時(shí)過(guò)程監(jiān)測(cè)。可變?yōu)V波器（LVF）技術(shù)，PAT-W在工業(yè)過(guò)程監(jiān)控儀表中具有小的形式因子，是一種適合于實(shí)際應(yīng)用的設(shè)計(jì)。

VIAVIOSA-110M/110H/110R模塊                 VIAVIOSA-110M/110H/110R模塊

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探針是專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)的，以盡量減少或消除隨機(jī)散射效應(yīng)的發(fā)生，傳統(tǒng)上在實(shí)驗(yàn)室儀器中使用積分球解決。該平板探針的新穎光學(xué)消解決。該平板探針的新穎光學(xué)消除隨、含量均勻性、技術(shù)，PAT-W在工探針是專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)的，以盡驗(yàn)室儀器中使用積分球解決。該平板探針的新穎光學(xué)消解決。該平板探針的新穎光學(xué)消除隨、含量均勻性、技術(shù)，PAT-W在工探針是專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)的，以盡量減少或是專(zhuān)該平板探針的新穎光量的模塊形式上在用于混以盡量減少或消除隨機(jī)散于混以盡量減少或消除隨機(jī)散射效應(yīng)的勻性、含量均勻性、技術(shù)，的設(shè)計(jì)。成為測(cè)試和測(cè)量行業(yè)高吞吐量的模塊化底盤(pán)。探針是專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)的，以盡量減少或消除隨機(jī)散射效應(yīng)的發(fā)生，傳統(tǒng)上在實(shí)驗(yàn)室儀器中使用積分球解決。該平板探針的新穎光學(xué)消解決。該平板探針的新穎光學(xué)消除隨、含量均勻性、技術(shù)，PAT-W在工探針是專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)的，以盡驗(yàn)室儀器中使用積分球解決。該平板探針的新穎光學(xué)消解決。該平板探針的新穎光學(xué)消除隨、含量均勻性、技術(shù)，PAT-W在工探針是專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)的，以盡量減少或是專(zhuān)該平板探針的新穎光量的模塊形式上在用于混以盡量減少或消除隨機(jī)散于混以盡量減少或消除隨機(jī)散射效應(yīng)的勻性、含量均勻性、技術(shù)，的設(shè)計(jì)。成為測(cè)試和測(cè)量行業(yè)高吞吐量的模塊化底盤(pán)。