VIAVI OLP-85光功率計(jì)，microir PAT-W光譜儀是一種適用于近紅外（NIR）分析儀，用于按設(shè)計(jì)質(zhì)量（QbD）制造。該光譜儀是一個(gè)堅(jiān)固的、可擴(kuò)展的下一代系統(tǒng)，用于混合均勻性、含量均勻性、干燥損失、壓實(shí)等過(guò)程分析技術(shù)（PAT）應(yīng)用的實(shí)時(shí)過(guò)程監(jiān)測(cè)?？勺?yōu)V波器（LVF）技術(shù)，PAT-W在工業(yè)過(guò)程監(jiān)控儀表中具有小的形式因子，是一種適合于實(shí)際應(yīng)用的設(shè)計(jì)。

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使技術(shù)人員能夠?qū)y(cè)試和認(rèn)證效率提升到一個(gè)全新水平.像我們的所有第1層(基礎(chǔ))光纖認(rèn)證解決方案一樣，我們提供了同極性結(jié)果需不到6秒的需不到6秒的時(shí)間便可提供連接器全部12條光纖的全面測(cè)試結(jié)果同時(shí)可提供每條mpo光纖彩色編碼的通過(guò)使技術(shù)人員能夠?qū)y(cè)試和認(rèn)證效率提升到一個(gè)全新水平.像我們的所有第1層(基礎(chǔ))光纖認(rèn)證解決方案一樣，我們提供了同極性結(jié)果需不到6秒的需不到6秒的時(shí)間便可提供連接器全部12條光纖的全面測(cè)試結(jié)果同時(shí)可提供每條mpo光纖彩色編碼的通過(guò)/失敗測(cè)試結(jié)果、測(cè)試限制、光纖長(zhǎng)度、測(cè)試波長(zhǎng)、損耗值、裕量以及極性結(jié)果，從而可確?？焖俚墓ぷ髁鞒?使技術(shù)人員能夠?qū)y(cè)試和認(rèn)證效率提升到一個(gè)全新水平.像我們的所有第1層(基礎(chǔ))光纖認(rèn)證解決方案一樣，我們提供了同極性結(jié)果需不到6秒的需不到6秒的時(shí)間便可提供連接器全部12條光纖的全面測(cè)試結(jié)果同時(shí)可提供每條mpo光纖彩色編碼的通過(guò)/失敗測(cè)試結(jié)果、測(cè)試限制、光纖長(zhǎng)度、測(cè)試波長(zhǎng)、損耗值、裕量以及極性結(jié)果，從而可確?？焖俚墓ぷ髁鞒?使技術(shù)人員能夠?qū)y(cè)試和認(rèn)證效率提升到一個(gè)全新水平.像我們的所有第1層(基礎(chǔ))光纖認(rèn)證解決方案一樣，我們提供了同極性結(jié)果需不到6秒的需不到6秒的時(shí)間便可提供連接器全部12條光纖的全面測(cè)試結(jié)果同時(shí)可提供每條mpo光纖彩色編碼的通過(guò)/失敗測(cè)試結(jié)果、測(cè)試限制、光纖長(zhǎng)度、測(cè)試波長(zhǎng)、損耗值、裕量以及極性結(jié)果，從而可確?？焖俚墓ぷ髁鞒?/失敗測(cè)試結(jié)果、測(cè)試限制、光纖長(zhǎng)度、測(cè)試波長(zhǎng)、損耗值、裕量以及極性結(jié)果，從而可確?？焖俚墓ぷ髁鞒?