VIAVI OMK-34測(cè)試儀，microir PAT-W光譜儀是一種適用于近紅外（NIR）分析儀，用于按設(shè)計(jì)質(zhì)量（QbD）制造。該光譜儀是一個(gè)堅(jiān)固的、可擴(kuò)展的下一代系統(tǒng)，用于混合均勻性、含量均勻性、干燥損失、壓實(shí)等過(guò)程分析技術(shù)（PAT）應(yīng)用的實(shí)時(shí)過(guò)程監(jiān)測(cè)?？勺?yōu)V波器（LVF）技術(shù)，PAT-W在工業(yè)過(guò)程監(jiān)控儀表中具有小的形式因子，是一種適合于實(shí)際應(yīng)用的設(shè)計(jì)。

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