VIAVI Xgig1K-3225-8分析儀，microir PAT-W光譜儀是一種適用于近紅外（NIR）分析儀，用于按設(shè)計(jì)質(zhì)量（QbD）制造。該光譜儀是一個(gè)堅(jiān)固的、可擴(kuò)展的下一代系統(tǒng)，用于混合均勻性、含量均勻性、干燥損失、壓實(shí)等過(guò)程分析技術(shù)（PAT）應(yīng)用的實(shí)時(shí)過(guò)程監(jiān)測(cè)?？勺?yōu)V波器（LVF）技術(shù)，PAT-W在工業(yè)過(guò)程監(jiān)控儀表中具有小的形式因子，是一種適合于實(shí)際應(yīng)用的設(shè)計(jì)。

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VIAVI Xgig1K-3225-8分析儀                    VIAVI Xgig1K-3225-8分析儀

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ViaviXgig 1000 32/128 G光纖通道和25/50/100 G以太網(wǎng)平臺(tái)是可解決具有可重構(gòu)端口的便攜式集成平臺(tái)中的8G/16G/32G/128 G FC和10/25/50/100 GE問(wèn)題的一產(chǎn)品。本產(chǎn)品是Xgig 1000 16 GFC和10/40 GE平臺(tái)的后續(xù)產(chǎn)品，它與制造商研發(fā)實(shí)驗(yàn)室中的協(xié)議測(cè)試工具具有同樣的價(jià)值，并可幫助現(xiàn)場(chǎng)安裝人員部署數(shù)據(jù)中心并對(duì)其進(jìn)行故障排查.并且，它還是可執(zhí)行內(nèi)聯(lián)非侵入性捕獲和分析以及內(nèi)聯(lián)干擾(錯(cuò)誤注入)的一平它與制造商研發(fā)實(shí)驗(yàn)室中的協(xié)議測(cè)試工具具有同樣的價(jià)值，并可幫助現(xiàn)場(chǎng)安裝人員部署數(shù)據(jù)中心并對(duì)其進(jìn)行故障排查.并且，它還是可執(zhí)行內(nèi)聯(lián)非侵入性捕獲和分析以及內(nèi)聯(lián)干擾(錯(cuò)誤注入)的一平臺(tái).XGIG 1000 32/128 GFC和25/50/100 GE平臺(tái)使用業(yè)界真正的模擬直通適配器，可保留銅纜連接信號(hào)的線性性質(zhì)。該平臺(tái)對(duì)OSI物理層提供了的可見(jiàn)性，例如自動(dòng)協(xié)調(diào)、鏈路訓(xùn)練以及前向糾錯(cuò)。它與制造商研發(fā)實(shí)驗(yàn)室中的協(xié)議測(cè)試工具具有同樣的價(jià)值，并可幫助現(xiàn)場(chǎng)安裝人員部署數(shù)據(jù)中心并對(duì)其進(jìn)行故障排查.并且，它還是可執(zhí)行內(nèi)聯(lián)非侵入性捕獲和分析以及內(nèi)聯(lián)干擾(錯(cuò)誤注入)的一平臺(tái).XGIG 1000 32/128 GFC和25/50/100 GE平臺(tái)使用業(yè)界真正的模擬直通適配器，可保留銅纜連接信號(hào)的線性性質(zhì)。該平臺(tái)對(duì)OSI物理層提供了的可見(jiàn)性，例如自動(dòng)協(xié)調(diào)、鏈路訓(xùn)練以及前向糾錯(cuò)。它與制造商研發(fā)實(shí)驗(yàn)室中的協(xié)議測(cè)試工具具有同樣的價(jià)值，并可幫助現(xiàn)場(chǎng)安裝人員部署數(shù)據(jù)中心并對(duì)其進(jìn)行故障排查.并且，它還是可執(zhí)行內(nèi)聯(lián)非侵入性捕獲和分析以及內(nèi)聯(lián)干擾(錯(cuò)誤注入)的一平臺(tái).XGIG 1000 32/128 GFC和25/50/100 GE平臺(tái)使用業(yè)界真正的模擬直通適配器，可保留銅纜連接信號(hào)的線性性質(zhì)。該平臺(tái)對(duì)OSI物理層提供了的可見(jiàn)性，例如自動(dòng)協(xié)調(diào)、鏈路訓(xùn)練以及前向糾錯(cuò)。臺(tái).XGIG 1000 32/128 GFC和25/50/100 GE平臺(tái)使用業(yè)界真正的模擬直通適配器，可保留銅纜連接信號(hào)的線性性質(zhì)。該平臺(tái)對(duì)OSI物理層提供了的可見(jiàn)性，例如自動(dòng)協(xié)調(diào)、鏈路訓(xùn)練以及前向糾錯(cuò)。