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當(dāng)前位置：北京斯達(dá)沃科技有限公司>>激光粒度分析儀系列>>Zeta電位儀/微電泳儀>> SZ901型納米粒度及Zeta電位分析儀 SZ901
SZ901納米粒度及Zeta電位分析儀產(chǎn)品介紹：
SZ901納米粒度及Zeta電位分析儀是在SZ900基礎(chǔ)上基于多年的科研成果開發(fā)的新一代納米粒度和Zeta電位分析系統(tǒng)，采用動態(tài)光散射(DLS)和電泳光散射(ELS)原理分別進行納米粒度測量和Zeta電位分析，被廣泛應(yīng)用于有機或無機納米顆粒、乳液、高分子聚合物、膠束、病毒抗體及蛋白質(zhì)等樣品的顆粒表征及樣品體系穩(wěn)定性及顆粒團聚傾向性的檢測和分析。
SZ901的性能和主要特點包括：
◆經(jīng)典90°動態(tài)光散射技術(shù)測量粒徑，測量范圍覆蓋0.3nm – 15μm
◆激光多普勒電泳技術(shù)用于Zeta電位分析，可預(yù)知分散體系的穩(wěn)定性及顆粒團聚的傾向性
◆加持自動恒溫技術(shù)的功率可達(dá)50mW, 波長638nm的固體激光光源，儀器即開即用
◆激光光源與照明光及參考光的一體化及光纖分束技術(shù)
◆ 信號光與參考光的光纖合束及干涉技術(shù)
◆ 集成光纖技術(shù)的高靈敏度和極低暗電流(20cps)的光子檢測器
◆ 常規(guī)溫度控制范圍可達(dá)0°C - 90°C, 可選120°C, 精度±0.1°C
◆新一代高速數(shù)字相關(guān)器，動態(tài)范圍大于1011
◆冷凝控制–干燥氣體吹掃技術(shù)
技術(shù)指標(biāo)：
測量原理 | 動態(tài)光散射（DLS）、靜態(tài)光散射（SLS）、電泳光散射（ELS） |
粒徑測量角度 | 90° |
粒徑測量范圍 | 0.3nm -15μm* |
粒徑度 | 優(yōu)于±1% （平均粒徑，NIST可溯源標(biāo)準(zhǔn)樣品） |
粒徑重復(fù)性 | 優(yōu)于±1% （平均粒徑，NIST可溯源標(biāo)準(zhǔn)樣品） |
粒徑測量小樣品濃度 | 0.1mg/ml |
粒徑測量小樣品量 | 3ul* |
Zeta電位測量范圍 | -600mV - +600mV |
電導(dǎo)率 | 270mS/cm |
適用Zeta電位測量的粒徑 | 3nm – 100μm* |
電導(dǎo)率度 | ±10% |
分子量范圍 | 340Da-2 x 107Da |
溫度控制范圍 | 0°C - 90°C (120°C可選) |
溫度控制精度 | ±0.1°C |
光源 | 集成恒溫系統(tǒng)及光纖耦合的功率50mW, 波長638nm固體激光器 |
相關(guān)器 | 高速數(shù)字相關(guān)器，自適應(yīng)通道配置 |
檢測器 | 高靈敏度APD |
系統(tǒng)重量 | 17kg |
外形尺寸 | 365mm x 475mm x 180mm（LxWxH） |
