30-70-70裂紋探測(cè)技術(shù)使用一個(gè)帶有CDS楔塊的單晶探頭，探測(cè)并定量接觸到內(nèi)壁的裂紋。這種技術(shù)使用一種三聲波組合來(lái)定量不同深度的缺陷。

• 一個(gè)外壁爬波生成一個(gè)31.5度的間接橫波（左圖中的紅色波），其模式會(huì)轉(zhuǎn)換為內(nèi)壁爬波；這樣就會(huì)在所有接觸到內(nèi)壁的裂紋處生成反射信號(hào)。

• 一個(gè)30度橫波（左圖中的黃色波）將從材料內(nèi)壁以臨界角反射，且其模式轉(zhuǎn)換為70度縱波；探頭將接收到來(lái)自管壁中深裂紋發(fā)出的信號(hào)。

• 一個(gè)70度縱波（左圖中的藍(lán)色波）將在壁中深裂紋的端部處反射。

基于這3個(gè)聲波是否會(huì)產(chǎn)生反射信號(hào)，可以探測(cè)并定量接觸到內(nèi)壁的裂紋。