X射線(xiàn)鍍層測(cè)厚儀可檢測(cè)電子電鍍層厚度,可測(cè)單鍍層,雙鍍層,及多鍍層。

單層:如各種底材上鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍銀,鍍錫,鍍金等

雙層:如銅上鍍鎳再鍍金,銅上鍍鎳再鍍銀,鐵上鍍銅再鍍鎳等

多層:如ABS上鍍銅鍍鎳再鍍鉻,鐵上鍍銅鍍鎳再鍍金等?

合金鍍層：鐵上鍍鋅鎳,銅上鍍鎳磷等

XRF-2020測(cè)試范圍

金：0.03-6um

鈀：0.03-6um

鎳：0.5-30um

錫：0.3-50um

銀：0.1-50um

鉻：0.5-30um

鋅：0.5-30um

鋅鎳合金：0.5-30um

韓國(guó)先鋒XRF-2020X射線(xiàn)鍍層測(cè)厚儀精度

首層：±5%以?xún)?nèi)

第二層：±10%以?xún)?nèi)

第三層：±15%以?xún)?nèi)

韓國(guó)微先鋒MicopioneerXRF-2020

L型XRF-2020鍍層測(cè)厚儀:測(cè)量樣品高3cm內(nèi),

H型XRF-2020鍍層測(cè)厚儀型容納樣品10cm,長(zhǎng)寬均為55cm

X射線(xiàn)鍍層測(cè)厚儀:-X射線(xiàn)或粒子射線(xiàn)經(jīng)物質(zhì)照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來(lái)，而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來(lái)。熒光X射線(xiàn)鍍層厚度測(cè)量?jī)x或成分分析儀的原理就是測(cè)量這被釋放出來(lái)的熒光的能量及強(qiáng)度，來(lái)進(jìn)行定性和定量分析