Messwelk測量顯微鏡 03990-600型號

普索貿(mào)易

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由于產(chǎn)品型號眾多，網(wǎng)上表述不全，如需型號確認(rèn)或，歡迎咨詢；我們將以認(rèn)真負(fù)責(zé)的態(tài)度、周到細(xì)致的服務(wù)處理您的每一次來電。

自1939年以來，Messwelk公司為工業(yè)提供優(yōu)質(zhì)的儀表和測量儀器。Messwelk公司的成功建立在專家的專業(yè)意見、優(yōu)良的品質(zhì)以及與客戶的緊密合作。

Messwelk主要產(chǎn)品：Messwelk傾角測量儀、Messwelk軸承測量系統(tǒng)、Messwelk光學(xué)計(jì)量儀、Messwelk測量工具

 Messwelk測量顯微鏡 03990-600型號

Messwelk光學(xué)測量儀器，Messwelk投影儀，Messwelk攝像機(jī)，Messwelk鏡頭，Messwelk測量表，Messwelk測量板，Messwelk瞄準(zhǔn)裝置，Messwelk棱鏡，Messwelk價(jià)格，Messwelk現(xiàn)貨，Messwelk代理，Messwelk中國，Messwelk廠家，Messwelk直接報(bào)價(jià)

品牌:MESSWELK 型號:齊全 類型:MESSWELK 萬能角度尺

德國Messwelk（麥斯維克）MESSWELK測厚儀

 型號:齊全 測量范圍:1-500（mm）

德國Messwelk（麥斯維克）MESSWELK卡鉗

 型號:齊全 類型:卡鉗

德國MESSWELK（麥斯維克）MESSWELK水平儀

 型號:03189-405 測量范圍:200（mm）

德國MESSWELK（麥斯維克）壓力計(jì)

型號:56800 類型:MESSWELK數(shù)字壓力計(jì)

MESSWELK氣動(dòng)測量、MESSWELK檢測儀器

齊全 外形尺寸:200（mm）

各類MESSWELK量規(guī)

 型號:16030 類型:MESSWELK螺紋量規(guī)

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Messwelk03870-437MESSWELK壓力計(jì)

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Messwelk03874-406MESSWELK壓力計(jì)

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Messwelk03874-417MESSWELK壓力計(jì)

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Messwelk03874-426MESSWELK壓力計(jì)

Messwelk03874-427

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Messwelk03874-434MESSWELK壓力計(jì)

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與STM類似，在AFM中，使用對微弱力非常敏感的彈性懸臂上的針尖對樣品表面作光柵式掃描。當(dāng)針尖和樣品表面的距離非常接近時(shí)，針尖原子與樣品表面的原子之間存在極微弱的作用力(10-12~10-6N)，此時(shí)，微懸臂就會(huì)發(fā)生微小的彈性形變。針尖與樣品之間的力F與微懸臂的形變之間遵循虎克定律:F=-k*x ，其中，k為微懸臂的力常數(shù)。所以，只要測出微懸臂形變量的大小，就可以獲得針尖與樣品之間作用力的大小。

針尖與樣品之間的作用力與距離有強(qiáng)烈的依賴關(guān)系，所以在掃描過程中利用反饋回路保持針尖與樣品之間的作用力恒定，即保持為懸臂的形變量不變，針尖就會(huì)隨樣品表面的起伏上下移動(dòng)，記錄針尖上下運(yùn)動(dòng)的軌跡即可得到樣品表面形貌的信息。這種工作模式被稱為"恒力"模式(Constant Force Mode)，是使用的掃描方式。

AFM的圖像也可以使用"恒高"模式(Constant Height Mode)來獲得，也就是在X，Y掃描過程中，不使用反饋回路，保持針尖與樣品之間的距離恒定，通過測量微懸臂Z方向的形變量來成像。這種方式不使用反饋回路，可以采用更高的掃描速度，通常在觀察原子、分子像時(shí)用得比較多，而對于表面起伏比較大的樣品不適用。與STM類似，在AFM中，使用對微弱力非常敏感的彈性懸臂上的針尖對樣品表面作光柵式掃描。當(dāng)針尖和樣品表面的距離非常接近時(shí)，針尖原子與樣品表面的原子之間存在極微弱的作用力(10-12~10-6N)，此時(shí)，微懸臂就會(huì)發(fā)生微小的彈性形變。針尖與樣品之間的力F與微懸臂的形變之間遵循虎克定律:F=-k*x ，其中，k為微懸臂的力常數(shù)。所以，只要測出微懸臂形變量的大小，就可以獲得針尖與樣品之間作用力的大小。

針尖與樣品之間的作用力與距離有強(qiáng)烈的依賴關(guān)系，所以在掃描過程中利用反饋回路保持針尖與樣品之間的作用力恒定，即保持為懸臂的形變量不變，針尖就會(huì)隨樣品表面的起伏上下移動(dòng)，記錄針尖上下運(yùn)動(dòng)的軌跡即可得到樣品表面形貌的信息。這種工作模式被稱為"恒力"模式(Constant Force Mode)，是使用方式。

AFM的圖像也可以使用"恒高"模式(Constant Height Mode)來獲得，也就是在X，Y掃描過程中，不使用反饋回路，保持針尖與樣品之間的距離恒定，通過測量微懸臂Z方向的形變量來成像。這種方式不使用反饋回路，可以采用更高的掃描速度，通常在觀察原子、分子像時(shí)用得比較多，而對于表面起伏比較大的樣品不適用。與STM類似，在AFM中，使用對微弱力非常敏感的彈性懸臂上的針尖對樣品表面作光柵式掃描。當(dāng)針尖和樣品表面的距離非常接近時(shí)，針尖原子與樣品表面的原子之間存在極微弱的作用力(10-12~10-6N)，此時(shí)，微懸臂就會(huì)發(fā)生微小的彈性形變。針尖與樣品之間的力F與微懸臂的形變之間遵循虎克定律:F=-k*x ，其中，k為微懸臂的力常數(shù)。所以，只要測出微懸臂形變量的大小，就可以獲得針尖與樣品之間作用力的大小。

針尖與樣品之間的作用力與距離有強(qiáng)烈的依賴關(guān)系，所以在掃描過程中利用反饋回路保持針尖與樣品之間的作用力恒定，即保持為懸臂的形變量不變，針尖就會(huì)隨樣品表面的起伏上下移動(dòng)，記錄針尖上下運(yùn)動(dòng)的軌跡即可得到樣品表面形貌的信息。這種工作模式被稱為"恒力"模式(Constant Force Mode)，是使用掃描方式。

AFM的圖像也可以使用"恒高"模式(Constant Height Mode)來獲得，也就是在X，Y掃描過程中，不使用反饋回路，保持針尖與樣品之間的距離恒定，通過測量微懸臂Z方向的形變量來成像。這種方式不使用反饋回路，可以采用更高的掃描速度，通常在觀察原子、分子像時(shí)用得比較多，而對于表面起伏比較大的樣品不適用。與STM類似，在AFM中，使用對微弱力非常敏感的彈性懸臂上的針尖對樣品表面作光柵式掃描。當(dāng)針尖和樣品表面的距離非常接近時(shí)，針尖原子與樣品表面的原子之間存在極微弱的作用力(10-12~10-6N)，此時(shí)，微懸臂就會(huì)發(fā)生微小的彈性形變。針尖與樣品之間的力F與微懸臂的形變之間遵循虎克定律:F=-k*x ，其中，k為微懸臂的力常數(shù)。所以，只要測出微懸臂形變量的大小，就可以獲得針尖與樣品之間作用力的大小。

針尖與樣品之間的作用力與距離有強(qiáng)烈的依賴關(guān)系，所以在掃描過程中利用反饋回路保持針尖與樣品之間的作用力恒定，即保持為懸臂的形變量不變，針尖就會(huì)隨樣品表面的起伏上下移動(dòng)，記錄針尖上下運(yùn)動(dòng)的軌跡即可得到樣品表面形貌的信息。這種工作模式被稱為"恒力"模式(Constant Force Mode)，是使用掃描方式。

AFM的圖像也可以使用"恒高"模式(Constant Height Mode)來獲得，也就是在X，Y掃描過程中，不使用反饋回路，保持針尖與樣品之間的距離恒定，通過測量微懸臂Z方向的形變量來成像。這種方式不使用反饋回路，可以采用更高的掃描速度，通常在觀察原子、分子像時(shí)用得比較多，而對于表面起伏比較大的樣品不適用。