FT/HP系列四探針測(cè)試儀探頭
采用綜合性能優(yōu)異的航空工程塑料、機(jī)械結(jié)構(gòu)優(yōu)良彈huang片、耐磨和硬度高的探針研制的測(cè)量數(shù)據(jù)穩(wěn)定、可靠、準(zhǔn)確度高、耐用性能好四探針探頭。所有技術(shù)指標(biāo)符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，同時(shí)符合ASTM標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)規(guī)定；
可安裝于探針測(cè)試臺(tái)也可手持探頭對(duì)樣品進(jìn)行測(cè)試，如對(duì)樣品手持探頭測(cè)試可搭配PH-Ⅱ型把手有效提高測(cè)試效率,此測(cè)試方式廣泛應(yīng)用于硅多晶料、頭尾料、鍋底料的電阻率分揀；

FT/HP系列四探針測(cè)試儀探頭

FT/HP系列四探針測(cè)試儀探頭

FT系列四探針探頭

FT系列四探針探頭是采用綜合性能優(yōu)異的航空工程塑料、機(jī)械結(jié)構(gòu)優(yōu)良彈huang片、耐磨和硬度高的探針研制的測(cè)量數(shù)據(jù)穩(wěn)定、可靠、準(zhǔn)確度高、耐用性能好四探針探頭。所有技術(shù)指標(biāo)符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，同時(shí)符合ASTM標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)規(guī)定；
 FT系列四探針探頭可安裝于探針測(cè)試臺(tái)也可手持探頭對(duì)樣品進(jìn)行測(cè)試，如對(duì)樣品手持探頭測(cè)試可搭配PH-Ⅱ型把手有效提高測(cè)試效率,此測(cè)試方式廣泛應(yīng)用于硅多晶料、頭尾料、鍋底料的電阻率分揀；與原有的TZT(9A、9B、9C、9D)系列四探針探頭可替換使用

由于采用了綜合性能優(yōu)異的航空工程塑料四探針探頭有如下特點(diǎn)：

①尺寸穩(wěn)定性好，成型收縮率小于0．3％，線膨漲系數(shù)小于3x10-6；
②機(jī)械性能優(yōu)異，抗張強(qiáng)度高于120MPa，彎曲強(qiáng)度大于150MPa，彎曲模量大于12GPa；
③電性能優(yōu)異，介電強(qiáng)度大于17kv／mm，介電系數(shù)小于4，體積電阻率在1016數(shù)量級(jí)；
④耐腐蝕，除氧化性介質(zhì)外，可以耐幾乎所有的無機(jī)物質(zhì)腐蝕；在200℃下，不溶于已知的所有機(jī)溶劑；
⑤低吸濕，在23℃水中經(jīng)24小時(shí)浸泡后吸水率小于0．05％；
⑥阻燃性好，其氧指數(shù)大于40，為UV—94V—00／5—V級(jí)；
⑦耐高溫，長(zhǎng)期使用溫度180℃；

技術(shù)參數(shù)

①探針間距：1±0.010mm；
②探針材料：高速鋼或碳化鎢；
③探針壓力：5～8牛頓或12～16牛頓；
④探針機(jī)械游移率：小于0.3%；
⑤探針伸出的長(zhǎng)度：3mm；
⑥針尖錐體夾角：60°；
⑦針間絕緣電阻：大于109Ω；

HP系列四探針探頭

HP系列四探針探頭是一種專門測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測(cè)試儀配用的四探針測(cè)試探頭，可用于測(cè)量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。

特性及規(guī)格：

特制之手握式探筆

球形探針、鍍金探針有效接觸被測(cè)材料及保護(hù)薄膜不被損傷

探頭帶抗靜電模塊有效防止方塊電阻測(cè)試儀采集數(shù)據(jù)集成模塊燒壞

探頭使用壽命長(zhǎng)

探針間距：1mmm、1.59mm、3.8m；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ