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     在許多應用領域，如可再生能源（光伏或氫氣技術）、航空航天和電子領域，半導體（尤其是硅）是不可少的基礎材料。為了保證高效率和產(chǎn)品質量，以雜質的識別和定量、缺陷的檢測或光學器件的功能測試為形式的硅質量控制成為半導體工業(yè)中一項關鍵而艱巨的任務。

     在免費的兩部分網(wǎng)絡研討會中，我們將向您介紹使用傅立葉變換紅外光譜進行半導體質量控制的高靈敏度解決方案，歡迎屆時參加。

主題：

High sensitivity Silicon QC using FT-IR Spectroscopy

語言：英文（English）

時間：

（以上為北京時間）


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