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FIB顯微鏡 Thermo Scientific Scios 2 DualBeam 是一款超高分辨率分析系統(tǒng)，可為的廣泛類型的樣品，包括磁性和不導電材料提供出色的樣品制備和三維表征性能。
Scios 2 DualBeam系統(tǒng)創(chuàng)新性的功能設計，優(yōu)化了樣品處理能力、分析精度和易用性，是滿足科學家和工程師在學術和工業(yè)環(huán)境中進行高級研究和分析的理想解決方案。
Scios 2 DualBeam可快速輕松的定位制備各類材料的高分辨S/TEM樣品。系統(tǒng)配備Thermo Scientific Auto Slice&View軟件，可以高質量、全自動地采集多種三維信息。無論是在STEM模式下以30kV來獲取結構信息，還是在較低的能量下從樣品表面獲取無荷電信息，系統(tǒng)可在廣泛的工作條件下提供出色的納米級細節(jié)。Scios 2 DualBeam可幫助所有經驗水平的用戶更快、更輕松的獲得高質量、可重復的結果，此外，系統(tǒng)專為材料科學中具挑戰(zhàn)的材料微觀表征需求而設計，配備了全集成化、極快速MEMS熱臺，可在更接近真實環(huán)境的工作條件下進行樣品表征。
FIB顯微鏡 Thermo Scientific Scios 2 DualBeam 特點：
☆ 使用Sidewinder HT離子鏡筒快速、簡便地制備高質量、定位TEM和原子探針樣品；
☆ Thermo Scientific NICol 電子鏡筒可進行超高分辨成像，滿足廣泛類型樣品的成像需求；
☆ 各類集成化鏡筒內及極靴下探測器，采集優(yōu)質、銳利、無荷電圖像，提供完整的樣品信息；
☆ 高度靈活的110mm樣品臺和內置的Thermo Scientific Nav-Cam相機實現樣品導航；
☆ DCFI、漂移抑制技術和Thermo Scientific SmartScan等模式實現無偽影成像和圖形加工；
☆ 靈活的DualBeam配置，優(yōu)化解決方案滿足特定應用需求。
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