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當(dāng)前位置:> 供求商機(jī)> HC-OMS2-非接觸光學(xué)變形綜合測(cè)量系統(tǒng)
一、概述
建研華測(cè)(杭州)科技有限公司推出的HC-OMS2非接觸光學(xué)變形綜合測(cè)量系統(tǒng),是結(jié)合數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)(DIC)與雙目立體視覺(jué)的一種非接觸測(cè)量技術(shù),主要原理是通過(guò)雙目立體視覺(jué)方法,通過(guò)獲取物體表面變形前后的數(shù)字散斑圖像,追蹤散斑位置和形狀的變化,實(shí)現(xiàn)變形過(guò)程中物體表面位移及應(yīng)變的測(cè)量。本產(chǎn)品獲得多項(xiàng)自主知識(shí)產(chǎn)權(quán),多項(xiàng)指標(biāo)和整機(jī)處于水平,具有精度高、速度快、易于操作、非接觸以及全場(chǎng)數(shù)據(jù)測(cè)量的優(yōu)勢(shì)。
主要功能
◆實(shí)時(shí)精確測(cè)量二維和三維參數(shù)
◆位移、應(yīng)變、泊松比等,應(yīng)力/應(yīng)變曲線、彈性模量(力信號(hào)接入)
◆實(shí)時(shí)測(cè)量多個(gè)目標(biāo)點(diǎn),橫縱向均可測(cè)量
◆同步測(cè)量多個(gè)參數(shù),比如: 同時(shí)測(cè)量位移、變形、泊松比等
◆拍攝實(shí)驗(yàn)過(guò)程, 后期可對(duì)錄像進(jìn)行再分析
二、性能特點(diǎn)
測(cè)量所需前期準(zhǔn)備簡(jiǎn)單,只需保證被測(cè)試件表面具有灰度隨機(jī)變化散斑或者標(biāo)記點(diǎn)。如無(wú)明顯特征, 標(biāo)記筆做形狀各異的顏色標(biāo)記,或?qū)Ρ槐砻鎳娖岙a(chǎn)生隨機(jī)分布的黑白斑點(diǎn);視頻引伸計(jì)的測(cè)量簡(jiǎn)單,將相機(jī)正對(duì)著表面有散斑圖案的試驗(yàn)件后,即可在圖像中任意一測(cè)量區(qū)域或一系列的目標(biāo)點(diǎn),隨后分析軟件將實(shí)時(shí)、準(zhǔn)確跟蹤視頻中這些目標(biāo)點(diǎn)在不同視頻圖像中的亞像素位置,并根據(jù)已獲得的位移實(shí)時(shí)計(jì)算應(yīng)變以及其它信息。
作為一種非接觸的光學(xué)測(cè)量方法,視頻引伸計(jì)避免了應(yīng)變電測(cè)法中在被測(cè)試件上粘貼應(yīng)變片的繁瑣過(guò)程。視頻引伸計(jì)可以同時(shí)獲得圖像中任意多個(gè)點(diǎn)的位移和變形信息,相當(dāng)于安裝幾百甚至幾萬(wàn)個(gè)位移計(jì)和應(yīng)變片和引伸計(jì),可清晰觀察到位移和應(yīng)變變化。
通過(guò)實(shí)時(shí)分析 CCD 相機(jī)拍攝表面的視頻圖像進(jìn)行位移和應(yīng)變場(chǎng)的測(cè)量,測(cè)量范圍從幾毫米到數(shù)十米,應(yīng)變范圍從微米級(jí)到毫米級(jí),對(duì)測(cè)量環(huán)境和測(cè)量物的材料和幾何形狀沒(méi)有任何限制。適用于尺寸極小、超大的物體;極低溫、超高溫環(huán)境等。
三、技術(shù)參數(shù)
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