EXFO WA-1100 光波長(zhǎng)計(jì)

詳情介紹

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

Burleigh WA-1100光波長(zhǎng)計(jì)采用基于邁克爾遜干涉計(jì)的W**波長(zhǎng)計(jì)技術(shù)，通過(guò)將被測(cè)光信號(hào)的干涉條紋圖與內(nèi)置的HeNe激光波長(zhǎng)標(biāo)準(zhǔn)相比較，確定被測(cè)光信號(hào)的波長(zhǎng)。

WA-1100波長(zhǎng)光學(xué)波長(zhǎng)計(jì)可提供精度的波長(zhǎng)測(cè)量和同時(shí)的功率測(cè)量，并且專為表征制造環(huán)境中的WDM組件而設(shè)計(jì)。

這些系統(tǒng)采用了Burleigh業(yè)已證明的基于邁克爾遜干涉儀的掃描型Wavemeter技術(shù)，通過(guò)將其干涉條紋圖案與內(nèi)置HeNe激光波長(zhǎng)標(biāo)準(zhǔn)的干涉條紋圖案進(jìn)行比較，來(lái)確定測(cè)試激光的波長(zhǎng)。與其他波長(zhǎng)計(jì)不同，要考慮所有可能影響波長(zhǎng)測(cè)量的因素，以使WA-1100達(dá)到±1 ppm的高波長(zhǎng)精度。

為了提供對(duì)WDM組件的更完整分析，這些波長(zhǎng)表可同時(shí)測(cè)量光輸入信號(hào)的總功率。此外，漂移功能可自動(dòng)監(jiān)測(cè)波長(zhǎng)或功率的任何變化，并隨時(shí)間變化。顯示電流值及其與測(cè)量起點(diǎn)的偏差，以提供測(cè)試激光器的實(shí)時(shí)狀態(tài)。還報(bào)告了大值和小值以給出在測(cè)量過(guò)程中達(dá)到的極限。

EXFO WA-1100 光波長(zhǎng)計(jì)

主要特征：

范圍:700 - 1650 nm (181 - 428 THz)。

準(zhǔn)確度:±1.5 pm。

顯示分辨率:0.001 nm。

準(zhǔn)確度:±0.5 dB(1310和1550 nm處±30 nm處)。

功率分辨率:0.01 dB。功率線性:±0.3 dB。

功率顯示分辨率:0.01 dB。

光學(xué)輸入信號(hào)靈敏度:-30 dBm(0.1圀),1200 - 1600海里;-20年dBm(1.0圀),700 - 1650 nm。大輸入電平(所有線路的總和):+ 10 dBm (10 mW)。

測(cè)量周期:0.1秒(10次/秒)。

儀器接口:GPIB (IEEE-488.2)， RS-232, LabVIEW, LabWindows