目錄:卡爾蔡司(上海)管理有限公司>>電子顯微鏡>>場發(fā)射掃描電鏡>> SEM-蔡司掃描電鏡Sigma系列
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
---|---|---|---|
儀器種類 | 場發(fā)射 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 地礦,能源,電子,冶金,綜合 |
[ 產(chǎn)品簡介 ]
蔡司新一代蔡司場發(fā)射掃描電子顯微鏡,具有高質(zhì)量的成像和分析能力,將先進(jìn)的場發(fā)射掃描電子顯微鏡技術(shù)與優(yōu)秀的用戶體驗(yàn)結(jié)合。利用Sigma系列直觀的4步工作流程,在更短的時間內(nèi)獲得更多的數(shù)據(jù),提高測試與生產(chǎn)效率。可選配多種探測器,以滿足半導(dǎo)體、能源等新材料、磁性樣品、生物樣品、地質(zhì)樣品等不同的應(yīng)用需求。結(jié)合蔡司原位電鏡實(shí)驗(yàn)平臺,可以實(shí)現(xiàn)自動智能化的原位實(shí)驗(yàn)工作流程,高效率獲取高通量、高質(zhì)量的原位實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。EDS幾何設(shè)計保證了出色的元素分析性能,分析速度高、精度好、結(jié)果可靠。高分辨、全分析、多擴(kuò)展、強(qiáng)智能、廣應(yīng)用,全新Sigma系列是助力于材料研究、生命科學(xué)和工業(yè)檢測等領(lǐng)域的“多面手"。
[ 產(chǎn)品特點(diǎn) ]
ü Gemini鏡筒設(shè)計,低電壓高分辨,無漏磁
ü 廣泛全面的應(yīng)用場景
ü 豐富靈活的探測手段
ü 智能高效的工作流程
ü 先進(jìn)可靠的分析系統(tǒng)
ü 強(qiáng)大完善的擴(kuò)展平臺
[ 應(yīng)用領(lǐng)域 ]
ü 材料科學(xué),如納米材料高分辨成像,高分子聚合物等不導(dǎo)電樣品成像,電池材料成分襯度成像,二維材料分析
ü 生命科學(xué),如生物樣品超微結(jié)構(gòu)成像,冷凍樣品高分辨成像
ü 地質(zhì)礦物學(xué),如地質(zhì)樣品高分辨成像、成分分析以及原位拉曼聯(lián)用分析
ü 工業(yè)應(yīng)用,如組件失效分析,工藝診斷
ü 電子半導(dǎo)體行業(yè),如質(zhì)量控制與分析,6英寸Wafer快速換樣,電子束曝光技術(shù)(EBL)
ü 鋼鐵行業(yè),如夾雜物分析,金屬材料自動原位成像分析
ü 刑偵、法醫(yī)學(xué)
ü 考古學(xué)、文物保護(hù)與修復(fù)
NanoVP lite模式下斷裂的聚苯乙烯表面成像
氧化鋁顆粒高分辨二次電子成像
ETSE探測器氧化鋅枝晶成像 InLens SE探測器氧化鋯&氧化鐵復(fù)合材料成像
Sense BSD探測器刺毛苔蘚蟲超微結(jié)構(gòu)成像 aBSD探測器超導(dǎo)合金成像
(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)