TH9120A/TH9120D 交/直流耐壓絕緣電阻測(cè)試儀是針對(duì)高壓光耦合器及高壓繼電器、高壓開(kāi)關(guān)、PV模組等絕緣耐受力較高的器件提供高壓的耐壓測(cè)試與分析。

在耐壓測(cè)試方面，輸出功率 AC：200VA（10kV、20mA），DC：120VA（12kV、 10mA），因此可用來(lái)為高耐壓的定子、電機(jī)等設(shè)備做耐壓測(cè)試，也可以對(duì)零件做同樣的測(cè)試。在絕緣電阻測(cè)試方面，所能顯示范圍為 0.1MΩ～50GΩ，測(cè)試電壓為 50V～5000V 可任意設(shè)定。在開(kāi)短路檢測(cè)測(cè)試方面，可在進(jìn)行高壓測(cè)試前，先判斷被測(cè)件是否可靠連接，再進(jìn)行高壓測(cè)試。在顯示方面，所有的測(cè)試模式、時(shí)間、電壓、電流、電阻值、測(cè)試步驟等都在顯示器上顯示，另有列表顯示模式，顯示多步驟的設(shè)置及順序測(cè)試結(jié)果。

儀器標(biāo)配HANDLER（機(jī)械手接口）、RS-232、LAN、USB DEVICE、USB HOST；選配GPIB接口，無(wú)論是連接上位機(jī)、PLC、自動(dòng)化系統(tǒng)都得心應(yīng)手。一件截屏、一鍵記錄功能方便將測(cè)試結(jié)果保存至U盤(pán)可定制上位機(jī)軟件，操作更靈活，記錄更方便。

功能特點(diǎn)

A.絕緣崩潰檢測(cè)

常規(guī)測(cè)試耐壓，如圖A-1所示，只是設(shè)定了上升時(shí)間和測(cè)試電壓值，如果在測(cè)試時(shí)間內(nèi)，被測(cè)件出現(xiàn)擊穿現(xiàn)象，則判斷耐壓不良，直接切斷測(cè)試電壓。因此，常規(guī)耐壓檢測(cè)僅能判斷在某電壓下耐壓是否合格。

但是有些被動(dòng)組件或者材料，需要檢測(cè)其高壓耐受程度，并得出準(zhǔn)確的崩潰電壓值，那么常規(guī)的耐壓檢測(cè)方法就無(wú)能為力了。因此TH9120A/TH9120D增加了崩潰電壓檢測(cè)功能，如圖A-2所示，崩潰電壓測(cè)試功能是根據(jù)設(shè)定爬升的起始電壓、截止電壓、電壓步進(jìn)及時(shí)間間隔，逐漸對(duì)被測(cè)件進(jìn)行測(cè)量，當(dāng)被測(cè)件出現(xiàn)耐壓絕緣不良的現(xiàn)象后，自動(dòng)保存此時(shí)的電壓值即為崩潰電壓。

如果電壓值爬升到截止電壓，被測(cè)件仍未出現(xiàn)崩潰現(xiàn)象，則可以重新設(shè)置截止電壓等，進(jìn)行進(jìn)一步分析，直至得到正確的崩潰電壓值。崩潰電壓測(cè)試模式，可以對(duì)被測(cè)件進(jìn)行分析，準(zhǔn)確獲知產(chǎn)生絕緣不良的耐壓程度，研究人員由此可針對(duì)組件絕緣較弱的部份進(jìn)行改善。

B. 耐壓絕緣測(cè)試和電弧偵測(cè)(ARC)

耐壓不良是指在耐壓測(cè)試中有電氣閃絡(luò)或絕緣破壞發(fā)生?，F(xiàn)在耐壓絕緣測(cè)試已經(jīng)成為各類(lèi)電器設(shè)備和絕緣材料安全測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)配備。但是,僅僅考慮到絕緣失效并不能完*產(chǎn)品安全問(wèn)題,另一類(lèi)現(xiàn)象,電弧放電ARC在耐壓測(cè)試中越來(lái)越得到重視,放電與絕緣能力之間具有*的相關(guān)性，所以ARC偵測(cè)是控制產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵。

以下兩種情況會(huì)出現(xiàn)電弧放電現(xiàn)象：

a) 當(dāng)材料承受較高電壓，電場(chǎng)強(qiáng)度大于氣體的電離能時(shí)，會(huì)讓材料表面氣體發(fā)生瞬時(shí)電離現(xiàn)象，此時(shí)會(huì)在材料表面形成打火并對(duì)材料形成溫升現(xiàn)象。長(zhǎng)期的打火和溫升可能會(huì)造成材料的質(zhì)變，進(jìn)而導(dǎo)致絕緣劣化，使得電壓耐受程度下降，終發(fā)生絕緣失效。

b) 被測(cè)件檢測(cè)點(diǎn)間距過(guò)小時(shí),在被測(cè)件兩端施加較高電壓，檢測(cè)點(diǎn)兩端空間里的空氣會(huì)被電離，形成打火現(xiàn)象，也就是拉弧現(xiàn)象。拉弧現(xiàn)象產(chǎn)生高頻的瞬時(shí)放電，在測(cè)試過(guò)程中產(chǎn)生了一個(gè)高頻電流信號(hào)如圖，電弧偵測(cè)（ARC）功能是用高頻電量量測(cè)的方式偵測(cè)，判斷出材料絕緣性能是否有不良。

C. 開(kāi)短路偵測(cè)功能（僅TH9120A）

在耐壓測(cè)試過(guò)程中由于被測(cè)件與測(cè)試線(xiàn)接觸不良、測(cè)試線(xiàn)損壞等，會(huì)發(fā)生開(kāi)路現(xiàn)象，導(dǎo)致不良品誤判為良品；被測(cè)件損壞或者被測(cè)端間距太小導(dǎo)致測(cè)試線(xiàn)短路現(xiàn)象，使用OCS功能，儀器可預(yù)先偵知測(cè)試端開(kāi)短路情況，減少對(duì)治具設(shè)備的傷害，節(jié)省測(cè)試成本。

一般耐壓測(cè)試產(chǎn)品皆呈電容性(CDUT)，在正常狀態(tài)下可能在數(shù)十pF至數(shù)μF之間。開(kāi)路時(shí)可等效為串聯(lián)一個(gè)低于10pF的小電容COPEN，使總?cè)萘窟h(yuǎn)低于正常產(chǎn)品。短路時(shí)電容量遠(yuǎn)大于正常容量。因此可利用電容量變化之上下限值判斷，減少產(chǎn)線(xiàn)接觸不良的問(wèn)題發(fā)生。

D. 引腳檢測(cè)（接觸檢查功能）

對(duì)于產(chǎn)線(xiàn)測(cè)試時(shí)的接觸檢查問(wèn)題，除OSC功能外，還增加了引腳檢測(cè)功能（圖D），確保被測(cè)件與測(cè)試線(xiàn)連接可靠，提升測(cè)試可靠度與效率。

E. 后面板輸出功能

可在儀器后面板輸出高壓(圖E)，自動(dòng)化測(cè)試或系統(tǒng)集成接線(xiàn)更美觀(guān)，更方便。