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超聲波探傷儀操作說明

閱讀:4860        發(fā)布時(shí)間:2021-6-17

數(shù)字式超聲波探傷儀

UTD800系列

使用說明書

 

 

 

 

北京鼎盛榮和科技有限公司

榮譽(yù)出品

 

目錄

序言 1

第一章 簡(jiǎn)介 2

1.1安全提示 2

1.2 UTD800系列概述 2

1.3 功能特點(diǎn) 3

1.4 技術(shù)參數(shù) 4

1.5 儀器主機(jī) 4

1.6 顯示界面簡(jiǎn)介 5

1.7按鍵介紹 6

1.8 菜單結(jié)構(gòu) 8

1.9 指示燈 8

1.10 充電說明 8

1.10.1 供電方式 8

1.10.2 充電方式 9

第二章 基本操作 10

2.1開關(guān)機(jī) 10

2.2探頭連接 10

2.3飛梭旋輪操作 10

2.4探頭參數(shù)設(shè)置 11

2.5 增益調(diào)節(jié) 11

2.6 檢測(cè)范圍調(diào)節(jié) 11

2.7 聲速和零偏校準(zhǔn) 11

2.8 閘門調(diào)節(jié) 12

2.9 讀數(shù)設(shè)置 12

2.10發(fā)射參數(shù)調(diào)節(jié) 12

2.11 回波 13

2.12 標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置 13

2.13 恢復(fù)出廠設(shè)置 13

2.14 凍結(jié) 13

2.15 其它參數(shù) 13

2.15.1  AWS標(biāo)準(zhǔn)使用方法: 13

2.15.2 屏幕亮度操作: 14

第三章 調(diào)校操作及其舉例 15

3.1直探頭校準(zhǔn) 15

3.1.1已知材料聲速、零點(diǎn)的校準(zhǔn) 15

3.1.2未知材料聲速、零點(diǎn)的校準(zhǔn) 16

3.2斜探頭校準(zhǔn) 17

3.2.1斜探頭材料聲速、探頭零偏、探頭前沿校準(zhǔn) 17

3.3.2斜探頭角度/K值的校準(zhǔn) 19

3.3雙晶探頭校準(zhǔn) 21

第四章 DAC/AVG曲線 22

4.1 DAC曲線 22

4.1.1 DAC曲線制作 22

4.1.2 DAC曲線調(diào)整 24

4.1.3 DAC曲線擬合 25

4.1.4 DAC曲線刪除 25

4. 2 AVG曲線(UTD804無此功能) 25

4.2.1  單點(diǎn)AVG 曲線制作 26

4.2.2 多點(diǎn)AVG制作 28

4.2.3  AVG 曲線擬合 28

第五章 探傷輔助功能應(yīng)用 29

5.1裂紋測(cè)深(僅UTD800有此功能) 29

5.2 動(dòng)態(tài)記錄(UTD804無此功能) 29

5.3 波峰記憶 31

5.4 回波包絡(luò)(UTD804無此功能) 31

5.5 孔徑 31

5.6 通訊 31

5.7 報(bào)警 32

5.8 通道 32

5.9 波形 33

5.10 曲面修正 35

5.11焊縫示意功能(僅UTD800有此功能) 35

5.12 B掃(UTD804無此功能) 36

5.13 展寬 37

第六章 檢測(cè)精度的影響因素及缺陷評(píng)估 39

6.1使用超聲探傷儀的必要條件 39

6.2影響檢測(cè)精度的因素 39

6.3缺陷評(píng)估方法 39

6.3.1缺陷邊界法 39

6.3.2回波顯示比較法 39

第七章 維修與保養(yǎng) 41

7.1使用注意事項(xiàng) 41

7.2保養(yǎng)與維護(hù) 41

一般故障及排除 41

附錄 42

附錄1:名詞術(shù)語 42

附錄2:與超聲波探傷有關(guān)的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與行業(yè)標(biāo)準(zhǔn) 43

 

 

序言

感謝您使用北京鼎盛榮和科技有限公司的超聲波探傷儀產(chǎn)品,您能成為我們的用戶,是我們莫大的榮幸。UTD800系列數(shù)字式智能超聲波探傷儀采用*的集成電路技術(shù)和新型TFT彩色顯示器件,其各項(xiàng)性能指標(biāo)均達(dá)到或超過較高水平。儀器采用人工智能技術(shù),功能強(qiáng)勁,使用方便。為了您能盡快熟練掌握該款超聲波探傷儀,請(qǐng)務(wù)必仔細(xì)閱讀本操作手冊(cè)以及隨機(jī)配送的其它相關(guān)資料,以便您更好地使用探傷儀。

請(qǐng)您仔細(xì)核對(duì)隨機(jī)資料是否齊全、所得儀器及配件與裝箱單是否一致,如果有不妥之處,您可拒收儀器。購(gòu)買儀器后,請(qǐng)您認(rèn)真仔細(xì)地閱讀儀器的相關(guān)資料,以保證您獲得應(yīng)有的權(quán)利和服務(wù)。

這款數(shù)字式超聲波探傷儀是設(shè)計(jì)*、制造精良的高科技產(chǎn)品,在研發(fā)和制造過程中經(jīng)過了嚴(yán)格的技術(shù)評(píng)測(cè),具有很高的可靠性。即使如此,您仍可能會(huì)在使用中遇到一些技術(shù)問題,為此我們?cè)诒臼謨?cè)中進(jìn)行了詳盡說明和示例,以方便您的使用。如果您在儀器使用過程中遇到問題,請(qǐng)查閱本操作手冊(cè)相關(guān)部分,或者直接與我公司聯(lián)系。感謝您的合作。

 

第一章 簡(jiǎn)介

UTD800系列超聲波探傷儀是一款便攜式、全數(shù)字式超聲波探傷儀,能夠快速、無損傷、精確地進(jìn)行工件內(nèi)部多種缺陷(焊接、裂紋、夾雜、氣孔等)的檢測(cè)、定位和評(píng)估。既可以用于實(shí)驗(yàn)室,也可以用于工程現(xiàn)場(chǎng)。本儀器能夠廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、鋼鐵冶金業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)等需要缺陷檢測(cè)和質(zhì)量控制的領(lǐng)域,也廣泛應(yīng)用于航空航天、鐵路交通、鍋爐壓力容器等領(lǐng)域的在役安全檢查與壽命評(píng)估。

1.1安全提示

本儀器為工業(yè)超聲波無損探傷設(shè)備,不可以用于醫(yī)療檢測(cè);

使用本儀器的人員必須具備專業(yè)無損檢測(cè)知識(shí),以保證安全操作;

本儀器必須在儀器允許的環(huán)境條件下使用,尤其不可在強(qiáng)磁場(chǎng)、強(qiáng)腐蝕的環(huán)境下使用;

在使用過程中請(qǐng)按照本手冊(cè)的介紹正確使用,保證安全操作,避免不必要的損失;

出現(xiàn)故障請(qǐng)與本公司聯(lián)系,切勿自行拆卸修理。

聲明:本公司對(duì)由于誤操作造成的任何后果不負(fù)任何責(zé)任,請(qǐng)您嚴(yán)格按照本手冊(cè)的介紹正確使用本儀器。

1.2 UTD800系列概述

UTD800系列超探儀共有5個(gè)型號(hào),各型號(hào)支持的功能/性能如表1所示。本說明書是按最高型號(hào)編寫,在介紹各個(gè)功能時(shí),會(huì)針對(duì)具體型號(hào)提示該型號(hào)是否有此功能。

 

1 各型號(hào)功能列表

型號(hào)

UTD804

UTD803

UTD802

UTD801

UTD800

顯示屏

TFT

TFT

TFT

TFT

TFT

DAC曲線

AVG曲線

內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)

閘門報(bào)警

曲線報(bào)警

波形凍結(jié)

通道

10

10

100

100

100

波形

100

100

1000

1000

1000

錄像

5min×10

5min×20

5min×20

5min×20

自動(dòng)校準(zhǔn)

脈沖幅度

固定

固定

可調(diào)

可調(diào)

可調(diào)

噪聲抑制

波峰記憶

回波包絡(luò)

厚度B

自動(dòng)增益

回波編碼

計(jì)算孔徑

焊縫圖示

裂紋測(cè)深

曲面修正

PC軟件

電池模塊

1

1

2

2

2

1.3 功能特點(diǎn)

儀器特點(diǎn) 

UTD800系列超探儀產(chǎn)品是全數(shù)字式超聲波探傷儀,高速度、高精度、高效率、可靠性高、綜合性能好、實(shí)時(shí)操作。采用*技術(shù),現(xiàn)場(chǎng)性能Z越。大容量電子硬盤,可長(zhǎng)時(shí)間性保存。

多通道探傷,可通道另存,便于探傷。

大容量波形存儲(chǔ),可波形調(diào)用。

高速、長(zhǎng)時(shí)間探傷過程錄像。

全中文顯示,菜單式操作,多個(gè)快捷鍵,數(shù)碼飛梭旋鈕。操作便捷。

真彩色液晶顯示屏,可根據(jù)環(huán)境選擇儀器配色方案,屏幕亮度可自由設(shè)定。

可拆卸式電池供電,可在線充電,亦可脫機(jī)充電??蛇吂ぷ鬟叧潆?。電池更換方便??砷L(zhǎng)時(shí)間在野外作業(yè)而無憂慮。其體積小,重量輕,便于攜帶。

發(fā)射脈沖

脈沖幅度和寬度可調(diào),使探頭工作在最佳狀態(tài)。

阻抗匹配可選,滿足靈敏度及分辨率的不同工作要求。

四種工作方式:直探頭,斜探頭,雙晶,透射探傷。

放大接收

實(shí)時(shí)采樣:高速ADC,充分顯示波形細(xì)節(jié)。

檢波方式:全波、正半波、負(fù)半波、射頻。

   門:雙閘門讀數(shù),支持時(shí)間閘門與聲程閘門。

   益:0-110dB多級(jí)步距可調(diào)??煞謩e調(diào)節(jié)基本增益、掃查增益、表面補(bǔ)償,方便探傷設(shè)置。支持增益鎖定,支持自動(dòng)增益。

報(bào)警類型

    閘門進(jìn)波、閘門失波、曲線進(jìn)波、曲線失波4種類型可選

數(shù)據(jù)存儲(chǔ)

設(shè)有存儲(chǔ)快捷鍵,便于操作??纱鎯?chǔ)10-100個(gè)探傷通道;100-1000個(gè)波形存儲(chǔ);10-205分鐘錄像、可快速另存、調(diào)用、回放與刪除。

探傷功能

波峰記憶:實(shí)時(shí)檢索缺陷最高波,記錄缺陷最大值

回波包絡(luò):對(duì)缺陷回波進(jìn)行波峰軌跡描繪,輔助對(duì)缺陷定性判斷。

裂紋測(cè)深:利用端點(diǎn)衍射波自動(dòng)測(cè)量、計(jì)算裂紋深度。

B型掃描:實(shí)時(shí)掃查、橫截面顯示,可顯示工件缺陷形狀,使探測(cè)結(jié)果更直觀。

   徑:在直探頭鍛件探傷工作中,對(duì)缺陷的大小進(jìn)行自動(dòng)計(jì)算即Ф值自動(dòng)計(jì)算功能。

DACAVG:直/斜探頭鍛件探傷找準(zhǔn)缺陷最高波自動(dòng)計(jì)算Φ值,可分段制作。

動(dòng)態(tài)記錄:快捷檢測(cè)實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)記錄波形,存儲(chǔ)、回放。

缺陷定位:水平值L、深度值H、聲程值S

缺陷定量:根據(jù)設(shè)定基準(zhǔn)靈活顯示。

缺陷定性:通過包絡(luò)波形,人工經(jīng)驗(yàn)判斷。

曲面修正:曲面工件探傷,修正曲率換算。

實(shí)時(shí)時(shí)鐘記錄

日期、時(shí)間跟蹤記錄,并存儲(chǔ)。

通訊接口

高速USB接口提供傳輸。

屏幕保護(hù)

待機(jī)時(shí),儀器屏幕會(huì)降低亮度或自動(dòng)關(guān)閉,可使儀器省電,延長(zhǎng)使用壽命

1.4 技術(shù)參數(shù)

UTD800系列5個(gè)型號(hào)的技術(shù)參數(shù)詳見表2。

2  各型號(hào)技術(shù)參數(shù)列表

 

UTD804

UTD803

UT802

UTD801

UTD800

檢測(cè)范圍

06000mm

09999mm

聲速范圍

10009999m/s

增益范圍

0dB110dB

顯示延遲

-20µs+3400µs

探頭零偏

0µs99.99µs

工作頻率

0.210MHz

0.215MHz

電噪聲水平

≤10

探頭阻尼

100Ω、150Ω200Ω、500Ω

重復(fù)頻率

101000Hz

靈敏度余量

62dB(深200mmФ2平底孔)

分 辨 力

40dB5P14

線性抑制

080%(數(shù)字抑制)

垂直線性誤差

≤3%

水平線性誤差

≤0.1%

動(dòng)態(tài)范圍

≥32dB

脈沖類型

方波

脈沖強(qiáng)度

固定

多級(jí)可調(diào)

脈沖寬度

50300ns

自動(dòng)匹配/ 501000ns

環(huán)境溫度

-10℃50℃

環(huán)境濕度

20%95RH

工作時(shí)間

≥ 20 hours

電源電壓

DC:7.2V;  AC:220V

尺寸

220×175×59mm

重量

1.3 kg 含電池

 

 

1.5 儀器主機(jī)

     

標(biāo)準(zhǔn)配置:
整機(jī)2年免費(fèi)維修,耗材除外。 

1.     UTD800數(shù)字超聲波探傷儀主機(jī)                1

2.     鋰電池組                                   2

3.     3A/9V電源適配器                           2

4.     探頭連接電纜                               2

5.     直探頭2.5MHzø20                           1

6.     斜探頭5MHz 13×13K2                              1

7.     真皮背包   1 , 耦合劑 1 , 中文說明書及文字資料1 ,  電腦連接線纜 1 ,  通訊軟件(探傷報(bào)告分析) 1。

 

UTD800系列探傷儀外觀如圖1.1所示,圖中標(biāo)出各部分名稱。

 

1.1

1-鍵盤 2-手持護(hù)帶 3-TFT真彩數(shù)字顯示屏 4-電源指示燈 5-報(bào)警指示燈 6-數(shù)碼飛梭旋鈕

7-支架 8-USB通訊口 9-復(fù)位關(guān)機(jī)孔 10-充電插孔 11-接收端口 12-/發(fā)端口   13-防護(hù)蓋

1.6 顯示界面簡(jiǎn)介

UTD800系列探傷儀主要有兩種顯示界面,分別為:回波界面和設(shè)置界面。回波界面主要由回波顯示區(qū) ,主菜單區(qū),子菜單區(qū)和基本信息顯示區(qū)等構(gòu)成,如圖1.21.3,1.41.5所示。

 

1.2 主界面

1.3 狀態(tài)條

    1.4 增益顯示                   圖1.5 標(biāo)志狀態(tài)顯示

 

 

1.7按鍵介紹

本儀器鍵盤設(shè)計(jì)有按鍵和數(shù)碼飛梭旋輪兩種操作方式,鍵位如圖1.6所示。

探傷人員對(duì)探傷儀發(fā)出的所有控制指令,均通過鍵盤操作或旋輪操作完成。鍵盤操作或旋輪操作過程中,探傷儀根據(jù)不同的狀態(tài)自動(dòng)識(shí)別各鍵的不同含義,執(zhí)行操作人員的指令。

 

 

1.6 儀器按鍵鍵位圖

 

                            

   

 

 

功能選擇鍵

 

 

下移鍵

 

 

確認(rèn)鍵

 

 

上移鍵

 

電源指示燈

 

報(bào)警指示燈

 

 

基本功能組鍵

 

 

調(diào)校功能組鍵

 

 

存儲(chǔ)功能組鍵

 

 

系統(tǒng)功能組鍵

 

 

功能功能組鍵

 

 

閘門快捷鍵

 

 

增益快捷鍵

 

 

通道快捷鍵

 

 

K值快捷鍵

 

 

曲線功能組鍵

 

 

展寬快捷鍵

 

 

顯示屏色彩快捷鍵

 

 

參數(shù)列表顯示鍵

 

 

標(biāo)準(zhǔn)列表顯示鍵

 

 

自動(dòng)增益鍵

 

 

波峰記憶快捷鍵

 

 

動(dòng)態(tài)回波記錄鍵

 

 

凍結(jié)鍵

 

 

電源開/關(guān)鍵

 

 

 

數(shù)碼飛梭旋輪

旋輪鍵主要用于數(shù)值增減、步距選擇等功能。

操作方式   

左旋、右旋:數(shù)值增減

單擊:輕輕按下旋輪,馬上松開,讓旋輪彈起,用于選擇步距

          

 

如上面的儀器按鍵鍵位圖,按鍵區(qū)分為三部分,第一部份為第一行功能選擇鍵行,由H1、H2H3、H4H5五個(gè)鍵組成。通過這五個(gè)按鍵可以選擇顯示屏下方主菜單中相對(duì)應(yīng)的功能選項(xiàng)。

第二部份為第二行的三個(gè)基本操作按鈕,分別為上移、確認(rèn)下移鍵,通過單擊上移下移鍵,可在屏幕右側(cè)的子菜單中的不同參數(shù)之間進(jìn)行切換,單擊確認(rèn)鍵,可對(duì)完成的操作進(jìn)行確認(rèn),進(jìn)入下一步操作。

第三部份為功能組及快捷功能區(qū)域。在2.8功能組鍵操作和2.9功能快捷鍵操作中會(huì)詳細(xì)介紹。

 

1.8 菜單結(jié)構(gòu)

基本

調(diào)校

存儲(chǔ)

系統(tǒng)

曲線

功能

檢測(cè)范圍mm

探頭類型

通道選擇

屏幕亮度

DAC

曲線制作

AVG

曲線制作

B掃模式

材料聲速m/s

探頭頻率

通道存儲(chǔ)

配色方案

基本增益

基本增益

B掃方向

顯示延遲us

探頭前沿

通道清空

 

測(cè)點(diǎn)波高

測(cè)點(diǎn)波高

掃描周期

探頭零偏us

晶片尺寸

通道另存

 

閘門起始mm

閘門起始mm

A掃顯示

閘門選擇

準(zhǔn)

 

自動(dòng)校準(zhǔn)

波形選擇

標(biāo)

網(wǎng)格顯示

調(diào)

曲線調(diào)整

調(diào)

曲線調(diào)整

焊縫參數(shù)

閘門起始mm

手動(dòng)設(shè)置

波形存儲(chǔ)

標(biāo)度單位

測(cè)點(diǎn)順序

測(cè)點(diǎn)順序

 

閘門寬度mm

前端距離

波形調(diào)用

水平標(biāo)度

測(cè)點(diǎn)波高

測(cè)點(diǎn)波高

 

閘門高度

探頭零偏

波形清空

 

起始閘門

起始閘門

 

基本增益dB

自動(dòng)校準(zhǔn)

錄像編號(hào)

報(bào)

按鍵聲音

判廢線RL

AVG

當(dāng)量孔徑

增益步距dB

手動(dòng)設(shè)置

錄像制作

蜂鳴報(bào)警

定量線SL

AVG

閘門起始

掃查增益dB

探頭角度

錄像回放

閃光報(bào)警

評(píng)定線EL

AVG

晶片直徑

表面補(bǔ)償dB

探頭K

錄像清空

報(bào)警類型

報(bào)警基準(zhǔn)

報(bào)警曲線

探頭頻率

數(shù)

讀數(shù)方式

發(fā)

發(fā)射強(qiáng)度

所有通道

AWS

AWS功能

設(shè)

缺陷類型

設(shè)

曲線基準(zhǔn)

測(cè)

裂紋測(cè)深

自動(dòng)捕捉

脈沖寬度

所有波形

 

缺陷直徑

基準(zhǔn)孔徑

端點(diǎn)A

檢測(cè)方式

重復(fù)頻率

所有錄像

 

缺陷長(zhǎng)度

晶片直徑

端點(diǎn)B

 

探頭阻尼

恢復(fù)出廠

關(guān)閉系統(tǒng)

當(dāng)量基準(zhǔn)

探頭頻率

起始閘門

檢波方式

設(shè)

工件厚度

預(yù)

 

當(dāng)前日期

曲線顯示

曲線顯示

工件外徑

噪聲抑制

自動(dòng)波高

 

當(dāng)前時(shí)間

曲線類型

曲線類型

工件內(nèi)徑

波形填充

波峰記憶

 

軟件版本

曲線擬合

曲線擬合

曲面修正

回波編碼

回波包絡(luò)

 

其他信息

曲線刪除

曲線刪除

 

1.9 指示燈

報(bào)警指示燈:當(dāng)前閘門內(nèi)回波峰值超出閘門或曲線高度(進(jìn)波報(bào)警),當(dāng)前閘門內(nèi)回波峰值低于閘門或曲線高度(失波報(bào)警)時(shí),該報(bào)警指示燈閃爍報(bào)警;

電源指示燈:開機(jī)狀態(tài)下儀器電源指示燈亮。關(guān)機(jī)狀態(tài)下儀器電源指示燈滅。電池電量低時(shí),電源指示燈的紅燈亮同時(shí)報(bào)警指示燈閃爍。

充電器指示燈:該指示燈位于充電器。充電開始,指示燈變紅色。充電完成,指示燈由紅色變成綠色。

1.10 充電說明

1.10.1 供電方式

UTD800系列電源供電方式有兩種:外部電源充電器和儀器專配鋰離子電池組。

外部電源充電器:電源充電器工作電壓:市電交流220V,50Hz。供電方式:

  • 儀器沒有裝載電池時(shí),外部電源充電器市電插頭插入市電插座,電源充電器指示燈變亮,顯示充電器正常工作,將充電器DC插頭插入UTD800系列插孔,超探儀即可正常工作。
  • 儀器裝載電池組時(shí),連接好儀器和市電,儀器正常工作。

注意:請(qǐng)使用穩(wěn)定可靠的220V50Hz的交流市電對(duì)儀器供電,以免損壞電源充電器、鋰電池或者儀器;如需要停止電源充電器的工作,先拔掉電源充電器與市電連接,再斷開電源充電器與儀器的連接。

儀器專配鋰離子電池組儀器頂部設(shè)置電池組充電的插口,并且電池組亦內(nèi)嵌充電插口??梢圆粚㈦姵厝〕鲋苯訉?duì)電池充電,亦可將電池取出進(jìn)行充電。在電池電量不足時(shí),及時(shí)對(duì)電池充電或利用電源充電器供電,也可更換備用電池組。更換電池過程中,請(qǐng)先關(guān)閉儀器。

1.10.2 充電方式

在線充電

在線充電方法如下(開機(jī)或關(guān)機(jī)狀態(tài)均可充電,可以邊工作邊充電):

  • 打開儀器頂部防水塞。
  • 將充電器的市電插頭插入市電電源插座,然后將充電插頭插入儀器頂部的充電插座,儀器自動(dòng)開始對(duì)電池充電。充電過程中,充電器指示燈顯示為紅色。
  • 電池充滿后,儀器自動(dòng)停止充電。充電器指示燈顯示為綠色。

脫機(jī)充電

脫機(jī)充電步驟如下:

  • 將儀器關(guān)機(jī)。
  • 將電池模塊從電池倉(cāng)中取出。
  • 將充電器的市電插頭插入電源插座,然后將充電插頭插入電池模塊的充電插座,開始對(duì)電池充電。充電過程中,充電器指示燈顯示紅。
  • 電池充滿后自動(dòng)停止充電。充電器指示燈由紅色轉(zhuǎn)為綠色。移除電源插座后,充電器指示燈滅。充電過程結(jié)束。

充電注意事項(xiàng):

◇  請(qǐng)務(wù)必使用專用的充電器給電池充電。若使用非本機(jī)專用的充電器對(duì)儀器充電,而導(dǎo)致儀器出現(xiàn)問題不屬于保修范圍。

◇  鋰電池存在自放電問題。電池充滿后,如果短期不用,電量會(huì)有一定的衰減;長(zhǎng)期不用會(huì)導(dǎo)致電池過放而進(jìn)入休眠狀態(tài)。為保護(hù)探傷儀及電池,至少每個(gè)月要開機(jī)通電一到兩個(gè)小時(shí),并給電池充電,以免儀器內(nèi)的元器件受潮和電池虧電而影響使用壽命。

◇  電池是消耗品,雖然可以進(jìn)行上百次的充放電,但其最終會(huì)失效。當(dāng)您發(fā)現(xiàn)電池工作時(shí)間明顯縮短已不能滿足性能要求時(shí),請(qǐng)更換新電池。

◇  電池存放環(huán)境和充電場(chǎng)所應(yīng)避免高溫和潮濕,并要求潔凈,切不可有油污、腐蝕液體等,尤其注意電池的正負(fù)極部位不要與金屬物品等接觸。

◇  鋰電池由多個(gè)單元組合而成,內(nèi)部有特殊的保護(hù)電路和裝置,嚴(yán)禁擅自對(duì)電池拆卸或者改裝,嚴(yán)禁擠壓電池,嚴(yán)禁使電池短路。否則可能會(huì)造成嚴(yán)重后果。

◇  電池在運(yùn)輸和使用過程中,要小心謹(jǐn)慎,防止電池過量沖擊,更應(yīng)避免電池跌落、撞擊、刺穿、水浸、雨淋等情況發(fā)生。

◇  在充電過程當(dāng)中,如發(fā)現(xiàn)有過熱等異?,F(xiàn)象發(fā)生,請(qǐng)立即切斷電源,并與我公司聯(lián)系。

 

第二章 基本操作

2.1開關(guān)機(jī)

開機(jī):請(qǐng)按鍵,啟動(dòng)儀器。

關(guān)機(jī):

在開機(jī)狀態(tài)下,長(zhǎng)按鍵,關(guān)閉儀器。

在死機(jī)狀態(tài)下,請(qǐng)連續(xù)5次按擊鍵,關(guān)閉儀器。

為了避免關(guān)機(jī)鍵失靈,本儀器添加了軟件關(guān)機(jī)功能。操作方法:系統(tǒng)”//“顯示”//“關(guān)閉系統(tǒng)來關(guān)閉儀器。

自動(dòng)關(guān)機(jī):當(dāng)電池電壓太低時(shí),屏幕上報(bào)警指示燈會(huì)閃爍,1鐘后探傷儀會(huì)自動(dòng)保存數(shù)據(jù)并關(guān)機(jī)。

硬件關(guān)機(jī):硬件復(fù)位,儀器頂部防水塞處,有復(fù)位鍵,按下此鍵儀器關(guān)機(jī)。

儀器關(guān)機(jī)后,所調(diào)試和設(shè)置的探傷參數(shù)不會(huì)丟失,下次開機(jī)后會(huì)利用默認(rèn)的系統(tǒng)文件將儀器參數(shù)自動(dòng)恢復(fù)。

2.2探頭連接

使用本探傷儀進(jìn)行探傷工作前,需要連接上合適的探頭和探頭線,儀器的探頭線應(yīng)該是75Ω的同軸電纜。

儀器頂部有兩個(gè)Q9探頭插座,為探頭線連接插座。使用單探頭(直探頭或斜探頭)時(shí),探頭線可以連接到儀器頂部任何一個(gè)探頭插座上;使用雙晶探頭(一個(gè)晶片發(fā)射、另一個(gè)晶片接收)或穿透探頭(兩個(gè)探頭,一個(gè)探頭發(fā)射,另一個(gè)探頭接收)時(shí),要把發(fā)射的探頭線連接到發(fā)射探頭插座,接收的探頭線連接到接收探頭插座。

探頭線質(zhì)量對(duì)儀器指標(biāo)測(cè)試的結(jié)果也有相應(yīng)的影響。

儀器使用雙晶探頭時(shí),發(fā)射探頭線和接收探頭線連接的不正確,可能會(huì)導(dǎo)致回波損耗或波形紊亂的后果

2.3飛梭旋輪操作

旋輪操作模式分為三種即:左向旋轉(zhuǎn)、右向旋轉(zhuǎn)、按擊。左向旋轉(zhuǎn)時(shí),減小數(shù)值;右向旋轉(zhuǎn)時(shí),增大數(shù)值;按擊時(shí),增大或減小調(diào)節(jié)步距。

部分參數(shù)可調(diào)范圍較大,參數(shù)調(diào)節(jié)時(shí)可以改變調(diào)節(jié)步距。調(diào)節(jié)步距分為三檔,低檔、中檔、高檔,調(diào)節(jié)步距為最大步距(高檔)時(shí)顯示為。如圖2.1檢測(cè)范圍子菜單:

如需檢測(cè)范圍的調(diào)節(jié)步距減小,可按擊旋輪,隨后,步距顯示條由三條,變?yōu)橐粭l,調(diào)節(jié)步距變?yōu)?/font>z

低檔,如圖2.2所示,如需再增大調(diào)節(jié)步距,再次按擊旋輪,步距顯示條會(huì)從一條變?yōu)槎l,調(diào)節(jié)步距變?yōu)橹袡n。

   

2.1            2.2

2.4探頭參數(shù)設(shè)置

探頭參數(shù)包含4項(xiàng),分別為探頭類型、探頭頻率、探頭前沿、晶片尺寸。

操作:

  • 調(diào)校鍵,進(jìn)入到調(diào)校功能主菜單,按相對(duì)應(yīng)的功能鍵選擇探頭,探頭欄被選中,如圖2.3.

 

 

2.3

  • 通過按向上向下鍵選擇探頭類型,再左旋或右旋飛輪,選擇直探頭、斜探頭、雙晶探頭、或透射探。該項(xiàng)參數(shù)變更后,儀器須重新調(diào)校。

當(dāng)設(shè)置為直探頭時(shí),在屏幕上顯示為圖標(biāo);設(shè)置為斜探頭時(shí),顯示為圖標(biāo);雙晶探頭顯示為圖標(biāo);穿透探頭顯示為。

  • 探頭頻率、探頭前沿和晶片尺寸設(shè)置方式如同探頭類型。

注意:探傷前,需要按探頭標(biāo)稱值將探頭頻率和晶片尺寸輸入儀器。

2.5 增益調(diào)節(jié)

本系列儀器包含兩種增益調(diào)節(jié)方式,分別為:自動(dòng)增益調(diào)節(jié)和手動(dòng)增益調(diào)節(jié)。

自動(dòng)增益調(diào)節(jié)操作

1、先改變自動(dòng)增益的增益值,

2、操作:按調(diào)校鍵,選擇設(shè)置主菜單,把自動(dòng)波高子菜單的數(shù)值調(diào)節(jié)到需要的增益值;以后再按自動(dòng)增益鍵,儀器就會(huì)自動(dòng)按照此增益放大回波。

3、在進(jìn)行校準(zhǔn)或探傷操作時(shí),用閘門套住回波后,單擊自動(dòng)增益鍵,閘門內(nèi)回波就會(huì)自動(dòng)達(dá)到預(yù)設(shè)波高。

手動(dòng)增益調(diào)節(jié)操作

  • 可通過按快捷鍵增益,直接進(jìn)入增益調(diào)節(jié)菜單,也可以按基本鍵,進(jìn)入基本功能組菜單,使用功能組鍵選擇增益;
  • 再通過向上向下鍵選擇基本增益,再左旋或右旋飛梭旋輪調(diào)節(jié)增益的大小。
  • 如需調(diào)節(jié)增益步距,通過向上向下鍵選擇增益步距,再左旋或右旋飛梭旋輪調(diào)節(jié)步距的大小。

2.6 檢測(cè)范圍調(diào)節(jié)

1、按基本鍵進(jìn)入到基本功能組主菜單,如圖2.3所示,通過功能組鍵選擇范圍;

 

2.3 主菜單

2、再通過向上向下鍵選擇范圍,再左旋或右旋飛輪,調(diào)節(jié)范圍的大小。

2.7 聲速和零偏校準(zhǔn)

1、按基本鍵進(jìn)入到基本功能組主菜單,如圖2.3所示,通過功能組鍵選擇范圍;

2、再通過向上向下鍵選擇材料聲速,材料聲速欄被反選,如圖2.4所示,再左旋或右旋飛輪,調(diào)節(jié)聲速的大小。

3、通過向上向下鍵選擇探頭零偏,再左旋或右旋飛輪,調(diào)節(jié)零偏的大小。

注意:對(duì)于一次操作中,一旦調(diào)校好零偏,就不能再改變,否則,影響探傷精度。

2.4

2.8 閘門調(diào)節(jié)

數(shù)字式探傷儀的突出的特點(diǎn)是能夠把所有的有關(guān)反射波的模擬量用數(shù)字信號(hào)顯示在屏幕上。當(dāng)要求儀器對(duì)某一信號(hào)波進(jìn)行比較、計(jì)算時(shí),需要告訴它是對(duì)哪一個(gè)回波進(jìn)行跟蹤。我們約定使用閘門來鎖定待測(cè)回波,儀器處理、計(jì)算閘門內(nèi)的回波,并實(shí)時(shí)顯示最高回波的所有參數(shù)(包括聲程距離、水平距離和垂直距離,以及回波高度、當(dāng)量dB、缺陷當(dāng)量尺寸等數(shù)據(jù))。

閘門功能包含4個(gè)參數(shù)項(xiàng),分別為閘門選擇、閘門起始、閘門寬度、閘門高度。

操作如下:

可通過快捷鍵閘門,直接進(jìn)入到閘門菜單,也可以基本鍵,進(jìn)入基本功能組菜單,使用功能組鍵選擇閘門,進(jìn)入閘門菜單中。

1、閘門選擇操作

本儀器有兩個(gè)閘門:A閘門和B閘門。用戶可以選擇任意閘門作為當(dāng)前使用閘門,下面將要介紹的閘門起始、閘門寬度、閘門高度的調(diào)節(jié)都是針對(duì)當(dāng)前使用閘門而言。

儀器默認(rèn)的當(dāng)前閘門為閘門A,當(dāng)用戶要選擇閘門B作為當(dāng)前閘門時(shí), 通過旋轉(zhuǎn)數(shù)碼飛梭旋輪或單擊確認(rèn)鍵進(jìn)行AB之間的切換。在屏幕上,當(dāng)前閘門顯示為實(shí)線;非當(dāng)前閘門顯示為虛線。

2、閘門起始操作

閘門起始是對(duì)當(dāng)前使用閘門的起始位置進(jìn)行調(diào)節(jié),用戶可根據(jù)需要將閘門平行移動(dòng)到想要的位置來鎖定待測(cè)的回波。選擇閘門起始項(xiàng),然后轉(zhuǎn)動(dòng)旋輪進(jìn)行調(diào)節(jié)。

3、閘門寬度和高度操作

選擇閘門寬度項(xiàng),然后轉(zhuǎn)動(dòng)旋輪進(jìn)行調(diào)節(jié)。

閘門高度指的是閘門相對(duì)于回波顯示區(qū)滿幅的百分比。閘門高度的調(diào)節(jié)范圍是080%。

2.9 讀數(shù)設(shè)置

讀數(shù)設(shè)置菜單中包含讀數(shù)方式,自動(dòng)捕捉和檢測(cè)方式三種?;静僮魅缦拢?/font>

1、按基本鍵進(jìn)入到基本功能組主菜單,如圖2.5所示,通過與讀數(shù)相應(yīng)的功能組鍵選擇讀數(shù);

 

2.5

2、再通過向上向下鍵選擇讀數(shù)方式,再左旋或右旋飛輪,選擇單閘門或雙閘門讀數(shù)。

3、如需要自動(dòng)捕捉功能,需再按向下鍵,選擇自動(dòng)捕捉,再左旋或右旋飛輪,開啟自動(dòng)捕捉功能。

4、檢測(cè)方式的設(shè)置方式如同讀數(shù)方式或自動(dòng)捕捉。

2.10發(fā)射參數(shù)調(diào)節(jié)

發(fā)射功能包含4個(gè)參數(shù)項(xiàng),分別為發(fā)射強(qiáng)度、脈沖寬度、重復(fù)頻率、探頭阻尼。

操作:

  • 調(diào)校快捷鍵,直接進(jìn)入調(diào)校功能組主菜單,再按與發(fā)射相應(yīng)的功能鍵,進(jìn)入到發(fā)射子菜單,如圖2.5所示。

2.5

2、通過向上向下鍵,選擇發(fā)射強(qiáng)度,再左右旋飛輪或者 確認(rèn)鍵,調(diào)節(jié)發(fā)射強(qiáng)度大小。

3、脈沖寬度調(diào)節(jié)的操作方法同發(fā)射強(qiáng)度,另外,可以在調(diào)節(jié)完發(fā)射前度后,按向下鍵,選擇脈沖寬度,然后左右旋飛輪或者 確認(rèn)鍵,調(diào)節(jié)脈沖寬度大小。

4、重復(fù)頻率和探頭阻尼的調(diào)節(jié)方法同發(fā)射強(qiáng)度和脈沖寬度。

2.11 回波介紹

回波功能包含4個(gè)參數(shù)項(xiàng),分別為檢波方式、噪聲抑制、波形填充、回波編碼。

1、按基本鍵,直接進(jìn)入基本功能組主菜單,再按與回波相應(yīng)的功能鍵,進(jìn)入到回波子菜單。

2、通過向上向下鍵,選擇檢波方式,再左右旋飛輪或者 確認(rèn)鍵,選擇檢波方式為正半波、負(fù)半波、全波、射頻中的一種。

3、噪聲抑制的操作方法同檢波方式,另外,可以在調(diào)節(jié)完檢波方式后,按向下鍵,選擇噪聲抑制,然后左右旋飛輪或者 確認(rèn)鍵,調(diào)節(jié)噪聲抑制的大小。

4、通過向上向下鍵,選擇波形填充,再左右旋飛輪或者 確認(rèn)鍵打開或關(guān)閉波形填充。

5、回波編碼功能用于直觀識(shí)別回波信號(hào)是第幾次回波,操作同波形填充

2.12 標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置

在制作DAC曲線之前,應(yīng)該選擇遵循的標(biāo)準(zhǔn),標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置的操作方法如下:

1、按標(biāo)準(zhǔn)鍵,可直接進(jìn)入標(biāo)準(zhǔn)選擇界面,通過飛輪選擇需要的探傷標(biāo)準(zhǔn)。

2、包括的標(biāo)準(zhǔn)有GB 11345-1989、JB/T 4730-2005、JG/T 203-2007SY 4065-1993、JIS Z 3060:2002、ASME-3GB/T 3559-1994、DT/T 820-2002、Custom(自行設(shè)置任意標(biāo)準(zhǔn))。

3、通過向下鍵選擇退出,按確認(rèn)鍵退出標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置界面,或者按標(biāo)準(zhǔn)鍵退出。

2.13 恢復(fù)出廠設(shè)置

存儲(chǔ)鍵,進(jìn)入到存儲(chǔ)功能組菜單中,按H4”鍵,選擇清除菜單,通過按向上向下鍵,選擇恢復(fù)出廠項(xiàng),然后按確認(rèn)鍵執(zhí)行恢復(fù)出廠設(shè)置。

注意:當(dāng)恢復(fù)出廠設(shè)置后,所有數(shù)據(jù)都被刪除,請(qǐng)謹(jǐn)慎使用。

清除菜單中包含所有通道、所有波形、所有錄像的清除功能。通過按向上向下鍵,選擇需要清除的項(xiàng)目,然后按確認(rèn)鍵清除。

2.14 凍結(jié)

在工作過程中,按“凍結(jié)”鍵,可以將當(dāng)時(shí)屏幕上顯示的波形以及數(shù)據(jù)凍結(jié),再次按該鍵即可解除凍結(jié)。當(dāng)用戶發(fā)現(xiàn)感興趣的回波,可以凍結(jié)該回波信息。

另外,當(dāng)用戶調(diào)出已存儲(chǔ)的波形后,需按“凍結(jié)”鍵解凍。

2.15 其它參數(shù)

系統(tǒng)功能組菜單中:顯示(屏幕亮度、配色方案)、標(biāo)度(網(wǎng)格顯示、標(biāo)度單位、水平標(biāo)度)、AWS、信息(當(dāng)前日期、當(dāng)前時(shí)間、軟件版本、其他信息)。

2.15.1  AWS標(biāo)準(zhǔn)使用方法:

  • 首先在參考試塊上,調(diào)整參考增益:按系統(tǒng)鍵進(jìn)入到系統(tǒng)功能組菜單中,再按“H4”鍵選擇“AWS”;
  • 通過向上向下鍵,選擇閘門起始,調(diào)整閘門位置,鎖定所需回波。使用增益,將所需回波波高調(diào)整到10%~90%,回到AWS界面,按確認(rèn)鍵,此時(shí)得到參考增益值。
  • 當(dāng)用戶需要使用AWS功能時(shí),進(jìn)入到AWS界面,單擊飛梭旋輪或者確認(rèn)鍵,將該功能打開;調(diào)整閘門鎖定目標(biāo)回波,此時(shí),缺陷分級(jí)顯示出來。

2.15.2 屏幕亮度操作:

  • 系統(tǒng)鍵直接進(jìn)入到系統(tǒng)功能組主菜單,通過相應(yīng)的功能鍵選擇顯示;
  • 再通過向上向下鍵,選擇屏幕亮度,左旋或右旋飛輪或者按確認(rèn)鍵,調(diào)整屏幕亮度。

其它參數(shù)調(diào)節(jié)同屏幕亮度。

 

第三章 調(diào)校操作及其舉例

本章主要介紹數(shù)字超聲波探傷儀的調(diào)校及使用數(shù)字式超聲波探傷儀對(duì)鍛件、鋼板及焊縫的檢測(cè)方法。本文中以全國(guó)無損檢測(cè)人員資格考試委員會(huì)提供的探傷方法及報(bào)表格式為依據(jù),(檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)為JB4730-94)敬請(qǐng)參考。

本探傷儀的調(diào)校是指聲速校準(zhǔn)、探頭的零偏校準(zhǔn)和K值測(cè)量。

本儀器的調(diào)校操作有兩種方式:手動(dòng)設(shè)置和自動(dòng)校準(zhǔn)。手動(dòng)設(shè)置是在已知探頭的準(zhǔn)確校準(zhǔn)參數(shù)時(shí),通過直接輸入這些參數(shù)來實(shí)現(xiàn)校準(zhǔn)功能。自動(dòng)校準(zhǔn)是充分發(fā)揮了數(shù)字式超聲波探傷儀的程序控制和數(shù)據(jù)處理能力,由儀器自動(dòng)完成最高峰值狀況下的探頭零偏的調(diào)校。

探傷準(zhǔn)備:

工件表面溫度不能過熱,應(yīng)該小于120

工件表面粗糙度不能過大,否則會(huì)影響探傷效果。工件的被測(cè)表面須露出金屬光澤,并且平整、光滑。

耦合:工件表面需要涂敷適量的耦合劑,以利于探傷。

探頭準(zhǔn)備:儀器啟動(dòng)前,根據(jù)工件形狀、缺陷的性質(zhì)選擇合適的探頭,并將探頭聯(lián)接到儀器頂端的探頭插座上。

選擇儀器的系統(tǒng)狀態(tài)。探傷儀的發(fā)射、接收系統(tǒng)所處的組合狀態(tài)的不同適用于不同的檢測(cè)任務(wù)。對(duì)于特定的要求,選取某種狀態(tài)組合,將起到優(yōu)化回波波形、改善信噪比、獲得較好的分辨力或最佳的探傷靈敏度的作用。

探傷前,儀器、探頭參數(shù)必須經(jīng)過校準(zhǔn)。

3.1直探頭校準(zhǔn)

為保證探傷的準(zhǔn)確性,下面詳細(xì)介紹校準(zhǔn)的操作流程。

單晶直探頭的校準(zhǔn)對(duì)象為:材料聲速(縱波)、探頭零點(diǎn);

單晶直探頭的校準(zhǔn)分為以下幾種情況:

  • 已知材料聲速、零點(diǎn)的校準(zhǔn);
  • 未知材料聲速、零點(diǎn)的校準(zhǔn);

3.1.1已知材料聲速、零點(diǎn)的校準(zhǔn)

1選擇參數(shù)通道,并清空該通道。

2單擊調(diào)校鍵,進(jìn)入調(diào)校操作界面,選擇探頭主菜單,在它子菜單中設(shè)置探頭類型為直探頭,輸入探頭頻率,晶片尺寸。

3選擇校準(zhǔn)主菜單,再選擇手動(dòng)設(shè)置子菜單,如圖3.1所示,單擊旋輪開始手動(dòng)設(shè)置,按照提示依次輸入聲速和零偏。

 

3.1  

3.1.2未知材料聲速、零點(diǎn)的校準(zhǔn) 

直探頭校準(zhǔn)的目的是得到探頭零點(diǎn)(探頭防磨層、發(fā)射同步的誤差等引起的延遲,以us為單位)和材料聲速。

所需材料:一個(gè)與被測(cè)材料相同并且厚度已知的試塊,耦合劑。

1材料聲速未知,直探頭自動(dòng)校準(zhǔn)。 

測(cè)試儀器:1數(shù)字式超聲波探傷儀

測(cè)試探頭:直探頭2.5MHz Φ20

試塊類型:CS-1-5

         

     

  • 選擇參數(shù)通道,并清空該通道。

2單擊調(diào)校鍵,進(jìn)入調(diào)校操作界面,選擇探頭主菜單,在它的探頭類型子菜單中設(shè)置探頭類型為直探頭,輸入探頭頻率2.5MHz,晶片尺寸Φ20。

4選擇校準(zhǔn)主菜單,在選擇自動(dòng)校準(zhǔn)子菜單,單擊確認(rèn)鍵或旋輪按照提示開始自動(dòng)校準(zhǔn)。

5將探頭耦合到CS-1-5的標(biāo)定試塊上,設(shè)置接近的材料聲速為5920m/s,探頭零偏采用默認(rèn)值,一點(diǎn)聲程設(shè)為225mm,二點(diǎn)聲程設(shè)為450mm,如圖3.2所示;單擊確認(rèn)鍵,此時(shí)發(fā)現(xiàn)兩個(gè)閘門分別自動(dòng)套住了兩點(diǎn)的最高回波。如圖3.3所示。單擊確認(rèn)鍵,自動(dòng)校準(zhǔn)完成。

 

3.2

 

    

3.3

 

3.2斜探頭校準(zhǔn)

斜探頭的校準(zhǔn)也分為手動(dòng)設(shè)置和自動(dòng)校準(zhǔn),手動(dòng)設(shè)置和直探頭的手動(dòng)設(shè)置操作一樣,只需要按照提示輸入已知校準(zhǔn)參數(shù)即可。這里主要介紹自動(dòng)校準(zhǔn)。

斜探頭校準(zhǔn)的對(duì)象為:材料聲速(橫波)、探頭前沿(入射點(diǎn))、探頭零偏、折射角度/K值。可以分成聲速、零偏、入射點(diǎn)校準(zhǔn)和折射角K值校準(zhǔn)兩組。一般先校聲速、零偏、入射點(diǎn),再校折射角K值。

斜探頭校準(zhǔn)一般需要CSK-IA試塊或IIW試塊或其它試塊及直尺,耦合劑。

3.2.1斜探頭材料聲速、探頭零偏、探頭前沿校準(zhǔn)

2:用CSK-IA試塊對(duì)2.5P13×13,K2斜探頭進(jìn)行自動(dòng)校準(zhǔn),步驟如下:

測(cè)試儀器:1數(shù)字式超聲波探傷儀

測(cè)試探頭:斜探頭2.5P13×13K2

試塊類型:CSK-IA

  • 選擇參數(shù)通道,并清空該通道。

(2) 單擊調(diào)校,選擇探頭主菜單,探頭類型設(shè)置為斜探頭,探頭頻率設(shè)置為“2.5MHz”,探頭前沿采用默認(rèn)值,晶片尺寸設(shè)為“13”

(3) 將探頭耦合到CSK-IA的標(biāo)定試塊上,如圖3.4所示。選擇校準(zhǔn)主菜單,選擇自動(dòng)校準(zhǔn)子菜單,按確認(rèn)鍵,屏幕變成如圖3.5所示:

 

 

3.4

 

 

3.5

(4) 設(shè)置大概的材料聲速值、探頭零偏值,設(shè)置 “一點(diǎn)聲程”=50mm,二點(diǎn)聲程”=100mm。設(shè)置完二點(diǎn)聲程后,按確認(rèn)

(5)打開波峰記憶或回波包絡(luò)功能,沿R100半徑方向前后移動(dòng)探頭,使回波最高,保持探頭不動(dòng);如圖3.6所示,單擊確認(rèn)鍵,完成聲速和零偏的校準(zhǔn)。此時(shí)屏幕變?yōu)槿鐖D3.7所示,開始檢測(cè)探頭前沿。

 

3.6

 

 

3.7

(6)用直尺量出探頭前端至R100圓弧前端的距離,輸入前端距離子菜單。本例量得結(jié)果為87mm,輸入后按確認(rèn)鍵,完成探頭前沿即入射點(diǎn)的檢測(cè)。

3.3.2斜探頭角度/K值的校準(zhǔn)

3:用CSK-IAΦ50圓孔對(duì)2.5MHz K2斜探頭自動(dòng)校準(zhǔn)。                                

測(cè)試儀器:1數(shù)字式超聲波探傷儀

測(cè)試探頭:斜探頭2.5P13×13K2

試塊類型:CSK-IA

步驟如下:

(1)按照例2 的操作完成儀器聲速、零偏校準(zhǔn)后,選擇角度主菜單,選擇自動(dòng)校準(zhǔn)子菜單,按確認(rèn)鍵,開始角度自動(dòng)校準(zhǔn)。如圖3.8所示;                                         

(2)按提示輸入目標(biāo)直徑為50mm,中心深度為30mm,標(biāo)稱角度為63.4˙/K2;

 

3.8 

  • 單擊波峰記憶鍵,打開波峰記憶或回波包絡(luò)功能,探頭沿試塊前后移動(dòng)(如圖3.9),會(huì)看到回波包絡(luò)軌跡,如圖3.10按照提示,目標(biāo)反射波最高時(shí)按確定,完成折射角/K值自動(dòng)校準(zhǔn)??梢钥吹秸凵浣?/font>/K值已修正為實(shí)際值,如圖3.11所示。

 

 

 

 

 

 

3.9

 

        

3.10

 

3.11

3.3雙晶探頭校準(zhǔn)

雙晶探頭的校準(zhǔn)與直探頭類似,需要注意雙晶探頭存在焦點(diǎn)深度,測(cè)零偏聲速時(shí)注意選取與焦點(diǎn)深度接近的試塊作為起始距離,否則測(cè)得的零偏聲速誤差可能較大。

 

                                   

第四章 DAC/AVG曲線

4.1 DAC曲線

4.1.1 DAC曲線制作

DAC曲線(距離波幅曲線)是一種描述反射點(diǎn)至波源的距離、回波高度及當(dāng)量大小之間相互關(guān)系的曲線。尺寸大小相同的缺陷由于距離不同,回波高度也不相同。因此,DAC曲線對(duì)缺陷的定量非常有用。本儀器可自動(dòng)制作DAC曲線。

 

假設(shè)測(cè)試條件和要求如下:

探頭:2.5P13×13K2斜探頭

試塊:CSK-ⅠA,CSK-ⅢA (圖4.1

DAC法;

DAC點(diǎn)數(shù):310、20、40

判廢線偏移量:0dB

定量線偏移量:-10dB

評(píng)定線偏移量:-16dB

                                         

                        4.1

 

 

現(xiàn)簡(jiǎn)要介紹以上功能的實(shí)現(xiàn)步驟。

  • 選擇參數(shù)通道,并清空該通道
  • 設(shè)置探頭參數(shù)。設(shè)置探頭頻率為2.5MHz,晶片直徑為13mm。其它探傷參數(shù)可在測(cè)試過程中或測(cè)試結(jié)束后設(shè)置。
  • 測(cè)斜探頭的探頭零偏和材料橫波聲速。(參見上文斜探頭零偏自動(dòng)校準(zhǔn)例2
  • 測(cè)探頭K值。(參見上文斜探頭K值自動(dòng)校準(zhǔn)例3)。
  • 制作DAC曲線。

單擊曲線鍵,屏幕下方出現(xiàn)DAC曲線制作主菜單行,選擇“DAC”主菜單,再選擇曲線制作子菜單,單擊旋輪或確認(rèn)鍵,開始制作DAC曲線,回波顯示區(qū)右上角出現(xiàn)“DAC”字符顯示,同時(shí)儀器自動(dòng)選擇閘門起始子菜單,且屏幕右上角“DAC”字符下方顯示數(shù)值“1”

 

將探頭放置在CSK-ⅢA試塊上,如圖4.1,對(duì)準(zhǔn)第一個(gè)測(cè)試孔(10mm深度的孔),移動(dòng)探頭直到找到最高回波,旋轉(zhuǎn)旋輪移動(dòng)閘門鎖定此回波,單擊確認(rèn)鍵,儀器自動(dòng)記錄下該波峰的高度和位置,完成該點(diǎn)的測(cè)試,此時(shí)“DAC”字符下方顯示數(shù)值“2”,表示進(jìn)入下一個(gè)測(cè)試點(diǎn)的采樣,如圖4.2所示。

按照上面的步驟依次順序鎖定并記錄下一個(gè)測(cè)點(diǎn)(20mm40mm)。

 

4.2

 

記錄完成兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)后,儀器依據(jù)剛才完成的測(cè)點(diǎn)自動(dòng)生成一條平滑的DAC曲線,如圖4.3所示。此后,每添加一個(gè)測(cè)試點(diǎn),這條DAC曲線就會(huì)自動(dòng)進(jìn)行修正并重新生成。

 

制作DAC曲線的測(cè)試點(diǎn)最少要兩個(gè)或兩個(gè)以上,最多可記錄32個(gè)測(cè)試點(diǎn),一般可根據(jù)探傷實(shí)際情況,記錄3~5點(diǎn)即可。

 

 

4.3

 

DAC制作過程中,隨時(shí)可以按曲線鍵退出DAC制作過程。

選擇完成所有測(cè)試點(diǎn)后,選擇曲線制作子菜單,單擊確認(rèn)鍵,完成DAC曲線制作。

此時(shí)得到的DAC曲線是以Φ1×6mm的基準(zhǔn)線(母線)為基準(zhǔn)生成的。DAC曲線制作完成后,儀器根據(jù)該基準(zhǔn)線以及判廢線、定量線和評(píng)定線的偏移設(shè)置,在屏幕上同時(shí)顯示出判廢線、定量線和評(píng)定線,共三條DAC曲線,如圖4.4所示。

判廢偏移是指面板曲線中判廢線(RL線)與母線可選擇的偏移量;定量偏移是指面板曲線中定量線(SL線)與母線可選擇的偏移量;評(píng)定偏移(測(cè)長(zhǎng)偏移)是指面板曲線中評(píng)定線(測(cè)長(zhǎng)線,EL線)與母線可選擇的偏移量。

 

4.4

 

根據(jù)探傷要求和相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)不同,可以調(diào)整三條曲線的偏移量,調(diào)整范圍在-50dB~50dB

本例中,根據(jù)探傷要求,判廢偏移調(diào)整到0dB,定量偏移調(diào)整到-10dB,評(píng)定偏移調(diào)整到-16dB。如圖4.5所示.。

DAC曲線主要是對(duì)缺陷當(dāng)量進(jìn)行探測(cè),缺陷當(dāng)量是指當(dāng)前閘門內(nèi)的缺陷回波的當(dāng)量值是以何線作為計(jì)算基準(zhǔn),可以選擇母線、判廢線、定量線和評(píng)定線四個(gè)選項(xiàng),常用母線或定量線。缺陷當(dāng)量dB顯示僅在制作成功DAC曲線后才有效,對(duì)AVG無效。

 

4.5

 

如果要保存做好的DAC曲線,單擊存儲(chǔ)鍵,選擇波形主菜單,在波形選擇子菜單中選擇波形號(hào),再選中波形存儲(chǔ)子菜單,單擊確認(rèn)鍵,完成存儲(chǔ)。

注意:必須測(cè)準(zhǔn)探頭零點(diǎn)、材料聲速和探頭K值,否則所制作的DAC曲線不準(zhǔn)確;

4.1.2 DAC曲線調(diào)整

如果已經(jīng)制作出的DAC曲線與實(shí)際回波不吻合,偏差太大時(shí),可利用調(diào)整功能局部的調(diào)整。操作如下:

選擇DAC“調(diào)整功能,按上移鍵或下移鍵選中屏幕右側(cè)曲線調(diào)整子菜單,按確認(rèn)鍵開始對(duì)已經(jīng)完成的DAC曲線進(jìn)行調(diào)整。(如果沒有制作DAC曲線的話,儀器將會(huì)提示:當(dāng)前通道下未找到DAC曲線)此時(shí),光標(biāo)自動(dòng)選擇測(cè)點(diǎn)順序子菜單,測(cè)點(diǎn)順序的默認(rèn)值為“1”,屏幕上在1號(hào)測(cè)點(diǎn)處出現(xiàn)一個(gè)閃動(dòng)的“╳”標(biāo)志,如圖4.6所示:

 

 

4.6

 

旋轉(zhuǎn)數(shù)碼飛梭旋輪,選擇想要改變波高的測(cè)點(diǎn),閃動(dòng)的“╳”標(biāo)志會(huì)移動(dòng)到該測(cè)點(diǎn)處,選好后,再選中測(cè)點(diǎn)波高子菜單,旋轉(zhuǎn)數(shù)碼飛梭旋鈕,改變波高,單擊確定鍵,儀器會(huì)提示“DAC曲線的當(dāng)前測(cè)點(diǎn)重測(cè)完成;再用相同的方法調(diào)整下一個(gè)測(cè)點(diǎn);測(cè)點(diǎn)調(diào)整完畢后,選擇曲線調(diào)整子菜單,單擊確認(rèn)鍵,完成曲線調(diào)整,DAC曲線就會(huì)根據(jù)調(diào)整后的測(cè)點(diǎn)高度自動(dòng)進(jìn)行修正并重新生成。

對(duì)于測(cè)點(diǎn)波高的調(diào)整,也可通過將光標(biāo)移動(dòng)到閘門起始,套住回波后按下確認(rèn)鍵實(shí)現(xiàn)。

4.1.3 DAC曲線擬合

當(dāng)DAC 曲線的類型為曲線時(shí),為了使曲線形狀更光滑,用戶可以使用本儀器設(shè)計(jì)的曲線擬合功能。操作如下:在DAC 曲線功能組主菜單中,選擇顯示,通過向上向下鍵選擇擬合,并按確認(rèn)鍵打開曲線擬合功能,此時(shí),曲線變光滑。

注意制作DAC曲線的測(cè)試點(diǎn)最少3個(gè)3個(gè)以上,曲線擬合功能才有效。

4.1.4 DAC曲線刪除

當(dāng)用戶需要?jiǎng)h除已制作的DAC曲線,或者想重新制作DAC曲線時(shí),就要利用曲線的的刪除功能(如果沒有DAC曲線的話,儀器會(huì)提示:當(dāng)前通道下未找到DAC曲線)。在DAC操作界面下,選擇顯示主菜單,再選擇曲線刪除子菜單,單擊確定鍵,儀器提示刪除DAC曲線?,再單擊確定鍵,即可刪除該DAC曲線。

該操作只是將儀器內(nèi)存中的DAC曲線刪除,并未刪除波形文件中存儲(chǔ)的DAC曲線。如果要?jiǎng)h除波形文件中存儲(chǔ)的DAC曲線,則須進(jìn)行波形清空操作。

4. 2 AVG曲線

AVG曲線分單點(diǎn)制作和多點(diǎn)制作。單點(diǎn)AVG曲線是理論曲線,多點(diǎn)制作AVG曲線,考慮了實(shí)際情況,因此做出的曲線更準(zhǔn)確些。下面詳細(xì)介紹曲線制作過程。

4.2.1  單點(diǎn)AVG 曲線制作

假設(shè)測(cè)試條件和要求如下:

  • 探頭:2.5Φ20,直探頭
  • 試塊: CS-1-5
  • AVG

現(xiàn)簡(jiǎn)要介紹以上功能的實(shí)現(xiàn)步驟。

  • 選擇參數(shù)通道,并清空該通道。
  • 設(shè)置探頭參數(shù)。設(shè)置探頭頻率為2.5MHz,晶片直徑為20mm。其它探傷參數(shù)可在測(cè)試過程中或測(cè)試結(jié)束后設(shè)置。
  • 測(cè)直探頭的探頭零偏和材料縱波聲速。
  • 制作AVG曲線。操作步驟如下:

曲線鍵進(jìn)入DAC基準(zhǔn)設(shè)置和制作界面,再按曲線鍵,切換到AVG基準(zhǔn)設(shè)置和制作界面,選擇設(shè)置主菜單,把曲線基準(zhǔn)子菜單設(shè)置為平底孔類型,如圖4.7所示。

 

 

4.7

 

選擇“AVG”主菜單,選擇曲線制作子菜單,單擊確認(rèn)鍵,開始AVG制作,曲線制作子菜單中的開始變?yōu)?/font>結(jié)束。波形顯示區(qū)右上角出現(xiàn)“AVG”字符提示,如圖4.8所示。

 

4.8

將探頭在CS-1-5試塊上移動(dòng),調(diào)節(jié)閘門位置以鎖定Φ2平底孔回波后,單擊確認(rèn)鍵,則儀器自動(dòng)記錄下閘門內(nèi)的波峰位置和高度,選擇曲線制作子菜單,單擊確認(rèn)鍵,結(jié)束AVG曲線的制作。

AVG制作完成后,屏幕上顯示出三條AVG曲線,這是基于Φ2平底孔自動(dòng)生成的三條AVG曲線,分別對(duì)應(yīng)儀器中設(shè)置的上AVG線、中AVG線和下AVG線三種不同孔徑的AVG曲線,如圖4.9所示。

 

 

4.9

 

可以對(duì)AVG線上、AVG線中和AVG線下三條AVG曲線進(jìn)行重新設(shè)置,如圖4.10所示,以得到孔徑的AVG曲線,以方便對(duì)缺陷的分析比較。

 

4.10

 

AVG曲線制作完成后,狀態(tài)條上會(huì)實(shí)時(shí)顯示閘門內(nèi)最高回波的孔徑Φ值。

缺陷孔徑Φ值:僅在制作成功AVG曲線后方才有效,對(duì)DAC無效。AVG曲線制作完成并顯示后,用當(dāng)前閘門鎖定缺陷回波,則儀器自動(dòng)計(jì)算缺陷的孔徑Φ值和位置,并實(shí)時(shí)顯示于狀態(tài)條上。

在制作AVG曲線時(shí),要注意所用的直探頭的頻率和晶片尺寸是否適宜,各參數(shù)值的設(shè)置是否正確;在制作AVG曲線時(shí),理論上只計(jì)算了三倍近場(chǎng)區(qū)之后的數(shù)值,三倍近場(chǎng)區(qū)之前僅顯示為直線。如果所用試塊厚度較小,則需要用多次波,使所需回波處于三倍近場(chǎng)區(qū)之后。

在制作完成任何基準(zhǔn)平底孔、大平底的AVG曲線后,儀器會(huì)自動(dòng)轉(zhuǎn)換為上AVG線、中AVG線和下AVG線三種不同孔徑的AVG曲線。

4.2.2 多點(diǎn)AVG制作

操作步驟:

  • 選擇參數(shù)通道,并清空該通道。
  • 設(shè)置探頭參數(shù)。設(shè)置探頭頻率為2.5MHz,晶片直徑為20mm。其它探傷參數(shù)可在測(cè)試過程中或測(cè)試結(jié)束后設(shè)置。
  • 測(cè)直探頭的探頭零偏和材料縱波聲速。
  • 制作多點(diǎn)AVG曲線。

曲線鍵進(jìn)入DAC基準(zhǔn)設(shè)置和制作界面,再按曲線鍵,切換到AVG基準(zhǔn)設(shè)置和制作界面,選擇設(shè)置主菜單,把曲線基準(zhǔn)子菜單設(shè)置為大平底類型。

選擇“AVG”主菜單,選擇曲線制作子菜單,單擊確認(rèn)鍵,開始AVG制作,曲線制作子菜單中的開始變?yōu)?/font>結(jié)束。波形顯示區(qū)右上角出現(xiàn)“AVG”字符提示。

將探頭耦合在CS-1-5試塊上,調(diào)節(jié)閘門位置以鎖定大平底回波后,單擊確認(rèn)鍵,則儀器自動(dòng)記錄下閘門內(nèi)的波峰位置和高度,調(diào)節(jié)閘門位置以鎖定大平底的下一次以及后續(xù)的多次回波,并單擊確認(rèn)鍵,選擇曲線制作子菜單,單擊確認(rèn)鍵,結(jié)束多點(diǎn)AVG曲線的制作。

4.2.3  AVG 曲線擬合

AVG 曲線擬合的目的如同DAC。

操作如下:在AVG 曲線功能組主菜單中,選擇顯示,通過向上向下鍵選擇擬合,并按確認(rèn)鍵打開曲線擬合功能,此時(shí),曲線變得很光滑。

注意制作AVG曲線的測(cè)試點(diǎn)最少3個(gè)3個(gè)以上,曲線擬合功能才有效。

 

提示:DACAVG曲線制作完成后,可以利用作好的曲線進(jìn)行曲線進(jìn)波和曲線失波報(bào)警操作,來提醒操作人員。

 

第五章 探傷輔助功能應(yīng)用

5.1裂紋測(cè)深

測(cè)裂紋功能包含4個(gè)參數(shù)項(xiàng),分別為裂紋測(cè)深、端點(diǎn)A、端點(diǎn)B、閘門起始。

 

用于縱向裂紋深度測(cè)量。在測(cè)量前,探頭零點(diǎn)和K值均需要經(jīng)過校準(zhǔn)。

操作步驟:

a單擊功能鍵,進(jìn)入功能功能組操作界面,選擇測(cè)裂紋主菜單,再選擇裂紋測(cè)深子菜單;

b在試件上移動(dòng)探頭,如圖5.1,找到裂紋上端端點(diǎn)回波,單擊確認(rèn)鍵,根據(jù)屏幕下方提示用閘門套住缺陷波,單擊確認(rèn)鍵,此時(shí)端點(diǎn)A”子菜單顯示上端點(diǎn)深度;

c移動(dòng)探頭,找到裂紋下端端點(diǎn)回波,根據(jù)屏幕下方提示用閘門套住缺陷波,單擊確認(rèn)鍵,此時(shí)端點(diǎn)B”子菜單顯示下端點(diǎn)深度,裂紋測(cè)深子菜單顯示裂紋深度。

 

5.1

5.2 動(dòng)態(tài)記錄

本儀器可以在檢測(cè)現(xiàn)場(chǎng)實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)記錄特性回波與用戶操作過程,以便給檢測(cè)人員事后來識(shí)別、分析缺陷的性質(zhì)。也可動(dòng)態(tài)記錄一些特點(diǎn)的缺陷回波,以便對(duì)特征性的波型進(jìn)行識(shí)別和示范。操作步驟如下:

  • 單擊動(dòng)態(tài)記錄鍵,進(jìn)入錄像操作界面,如圖5.2所示。在錄像編號(hào)子菜單中通過選擇旋鈕選擇錄像文件(REC-XX),再選擇錄像制作子菜單,并按確認(rèn)鍵開始錄像。如果錄像文件中已存有數(shù)據(jù),則儀器會(huì)提示文件中已存有數(shù)據(jù),清空后方可重新錄制,并返回。

 

 

5.2

 

  • 錄像開始后,屏幕上方顯示當(dāng)前時(shí)間日期和“REC”標(biāo)志,如圖5.3所示,表示正在錄像中。錄像過程中,前后移動(dòng)探頭尋找缺陷波,也可以操作菜單、調(diào)整參數(shù),儀器會(huì)動(dòng)態(tài)記錄下尋找缺陷波的過程。

 

5.3

 

  • 錄像過程中,可以在選擇錄像制作子菜單后,按確認(rèn)完成錄像。也可以直接按動(dòng)態(tài)記錄鍵結(jié)束錄像。錄像結(jié)束后,儀器提示錄像已經(jīng)完成,同時(shí)屏幕上方的時(shí)間日期和REC圖標(biāo)消失。

錄像回放操作如下:

  • 單擊動(dòng)態(tài)記錄鍵,選擇錄像回放子菜單項(xiàng),并連按兩次確認(rèn)鍵,開始錄像回放。如果錄像文件中無數(shù)據(jù),則儀器會(huì)提示該錄像文件為空,并退出回放。
  • 回放過程中,可以按確認(rèn)鍵暫?;胤?,再按確認(rèn)鍵繼續(xù)回放;按向上鍵可加快回放速度,按向下鍵可放慢回放速度;按動(dòng)態(tài)記錄鍵會(huì)使儀器退出錄像回放狀態(tài)。
  • 錄像回放完畢時(shí),系統(tǒng)提示已終止播放,然后返回到正常工作狀態(tài)。

注意:根據(jù)儀器的型號(hào)不同,錄像時(shí)間:編號(hào)為REC-00REC- 19的錄像文件每個(gè)只能錄5分鐘,只有編號(hào)為REC-20的一個(gè)錄像文件可以錄1小時(shí)(部分型號(hào)只有5分鐘錄像文件,沒有1小時(shí)錄像文件)。

5.3 波峰記憶

波峰記憶鍵為多功能快捷鍵,包括波峰記憶和回波包絡(luò)功能,按此鍵,可打開和切換這兩個(gè)功能。按此鍵后,如果屏幕右下角出現(xiàn)此標(biāo)志,表示已打開波峰記憶功能,再按此鍵,右下角變?yōu)?/font>“標(biāo)志,表示已切換到回波包絡(luò)功能。

波峰記憶是探傷儀自動(dòng)對(duì)閘門內(nèi)的動(dòng)態(tài)回波進(jìn)行最高峰波的捕捉(波高和位置),并將其顯示在屏幕上;移走探頭后,閘門捕捉信息仍然保持。在實(shí)際探傷中,這有助于最大缺陷回波的搜索。

5.4 回波包絡(luò)

回波包絡(luò)功能可以記錄回波的最大值,也可記錄探頭的水平位置,可以在測(cè)試探頭K值時(shí)開啟,方便操作人員測(cè)試K值。操作如下:

  • 在掃查狀態(tài)下,按波峰記憶鍵,如果屏幕右下角出現(xiàn)此標(biāo)志,表示已打開波峰記憶功能,再按此鍵,右下角變?yōu)?/font>“  標(biāo)志,此時(shí)回波包絡(luò)功能開啟,如圖5.4所示。

 

 

5.4

 

  • 當(dāng)在試件上移動(dòng)探頭時(shí),屏幕上可顯示當(dāng)前閘門內(nèi),由回波峰值點(diǎn)組成的軌跡線。
  • 如不需要包絡(luò)功能,再按波峰記憶鍵,退出回波包絡(luò)功能。

5.5 孔徑

在未制作AVG曲線時(shí),可使用此功能計(jì)算缺陷的當(dāng)量大小。操作方法:

  • 功能鍵進(jìn)入到功能組菜單中,再按H3”鍵選擇孔徑,
  • 通過向上向下鍵,選擇當(dāng)量孔徑,按確認(rèn)鍵,儀器光標(biāo)自動(dòng)跳到閘門起始;
  • 調(diào)整閘門,鎖定目標(biāo)回波,按確認(rèn)鍵,儀器光標(biāo)自動(dòng)跳到當(dāng)量孔徑,并顯示為

5.6 通訊

儀器內(nèi)設(shè)有高速USB,可以實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)導(dǎo)出、以便于外部存儲(chǔ)、打印。PC機(jī)通過USB與超探儀建立連接,可實(shí)現(xiàn)PC機(jī)與超探儀的數(shù)據(jù)通信。

5.7 報(bào)警

在掃查過程中,如果需要聲音報(bào)警,則按如下操作:

1、按系統(tǒng)鍵,進(jìn)入到系統(tǒng)功能組住菜單,按相應(yīng)的功能鍵選擇報(bào)警,則報(bào)警欄被選中;

2、通過向上向下鍵選擇蜂鳴報(bào)警或者閃光報(bào)警”,再左旋或者右旋飛輪,開啟報(bào)警。

報(bào)警功能包含4個(gè)參數(shù)項(xiàng),分別為按鍵聲音、蜂鳴報(bào)警、閃光報(bào)警、報(bào)警類型。

1)按鍵聲音

可設(shè)為開或關(guān)。按鍵聲音打開時(shí),按鍵和旋輪操作都會(huì)伴隨聲,以提示操作人員。

2)蜂鳴報(bào)警

此功能設(shè)置為開時(shí),當(dāng)出現(xiàn)閘門進(jìn)波、閘門失波、曲線進(jìn)波、曲線失波時(shí),儀器會(huì)發(fā)出斷續(xù)蜂鳴聲進(jìn)行報(bào)警。當(dāng)電池電量不足時(shí),無論蜂鳴報(bào)警功能是否開啟,儀器都會(huì)發(fā)出蜂鳴報(bào)警。

3)閃光報(bào)警

此功能設(shè)置為開時(shí),當(dāng)出現(xiàn)閘門進(jìn)波、閘門失波、曲線進(jìn)波、曲線失波時(shí),儀器的報(bào)警指示燈會(huì)不斷閃亮報(bào)警。當(dāng)電池電量不足時(shí),無論閃光報(bào)警功能是否開啟,儀器都會(huì)發(fā)出閃光報(bào)警。

4)報(bào)警類型

此功能包括閘門進(jìn)波、閘門失波、曲線進(jìn)波、曲線失波。

閘門進(jìn)波:當(dāng)閘門內(nèi)回波幅值高于閘門高度時(shí)報(bào)警;

閘門失波:當(dāng)閘門內(nèi)回波幅值低于閘門高度時(shí)報(bào)警;

曲線進(jìn)波:當(dāng)回波幅值高于判定曲線時(shí)報(bào)警;

曲線失波:當(dāng)回波幅值低于判定曲線時(shí)報(bào)警。

進(jìn)波報(bào)警多用于監(jiān)視缺陷是否存在及其大??;失波報(bào)警則主要用于監(jiān)視材料顯微組織對(duì)超聲能量衰減情況的變化,或傾斜的大缺陷等導(dǎo)致的底面反射回波異常降低。

5.8 通道

由于在現(xiàn)場(chǎng)探傷時(shí)往往要探測(cè)多個(gè)工件、更換多個(gè)探頭,這就需要在儀器調(diào)校時(shí)能根據(jù)不同情況測(cè)試并存儲(chǔ)多組探傷設(shè)置,且現(xiàn)場(chǎng)探傷時(shí)可直接調(diào)用。在此儀器中,一個(gè)通道可存儲(chǔ)一組探傷工藝數(shù)據(jù),多個(gè)通道則可以預(yù)先測(cè)試并存儲(chǔ)多組不同的探傷設(shè)置,現(xiàn)場(chǎng)直接調(diào)用而無需再調(diào)試儀器,使工作更輕松方便。

該儀器根據(jù)不同型號(hào),有10-100個(gè)參數(shù)通道,名稱為CH-XX。如果通道名稱前有實(shí)心圓標(biāo)識(shí),則表示該通道已經(jīng)存入了參數(shù);若有空心圓標(biāo)識(shí),則該通道為空。

通道選擇:?jiǎn)螕?/font>“通道鍵,選擇通道選擇子菜單,轉(zhuǎn)動(dòng)旋輪選擇通道。系統(tǒng)會(huì)默認(rèn)此通道為儀器的當(dāng)前通道,如圖5.5所示。

 

5.5

 

如果選擇的通道中已有數(shù)據(jù),系統(tǒng)自動(dòng)將所選通道中的參數(shù)讀入儀器,并以這些參數(shù)作為系統(tǒng)工作參數(shù)。

通道存儲(chǔ):將儀器系統(tǒng)所有設(shè)置參數(shù)存入當(dāng)前通道中。如果當(dāng)前通道文件已存有數(shù)據(jù),則無法完成存儲(chǔ)操作??梢赃x擇其它通道,或者清空該通道,然后才可以存儲(chǔ)。

通道清空:刪除所選通道中的所有參數(shù)。

通道另存:把當(dāng)前通道中的設(shè)置全部另存到另一個(gè)通道,選擇此子菜單,通過轉(zhuǎn)動(dòng)旋輪選擇另存通道,如圖5.6所示。

 

 

5.6

5.9 波形

選擇波形文件:該儀器根據(jù)型號(hào)不同,有100-1000個(gè)波形文件,名稱為WV-UTD800。單擊存儲(chǔ)鍵,選擇波形主菜單,在波形選擇子菜單中通過旋轉(zhuǎn)旋輪來選擇波形文件。當(dāng)選擇的波形文件內(nèi)已存有數(shù)據(jù)時(shí),則該波形文件名稱前有實(shí)心圓標(biāo)識(shí);若為空心圓標(biāo)識(shí),則該波形文件為空,如圖5.7所示。

 

 

5.7

 

存儲(chǔ)波形:在探傷過程中,可將探傷回波畫面和探傷參數(shù)存入所選擇的波形文件中。操作方法為:選擇好波形文件后,選擇波形存儲(chǔ)子菜單,如圖5.8所示,按確認(rèn)鍵完成存儲(chǔ)。如果該波形文件已存有數(shù)據(jù),則無法完成存儲(chǔ)操作。可以選擇其它波形文件,或者清空該文件,然后才可以存儲(chǔ)。

 

 

5.8

 

波形調(diào)用:將所選波形文件中的波形數(shù)據(jù)從存儲(chǔ)器中讀取,并顯示于屏幕上,操作方法為:選擇好要調(diào)用的波形文件后,再選擇波形調(diào)用子菜單,如圖5.9所示,按確認(rèn)鍵。調(diào)用操作完成后,屏幕將顯示該波形文件中的波形畫面,并使屏幕處于凍結(jié)狀態(tài)。按凍結(jié)鍵可退出該凍結(jié)狀態(tài)。波形調(diào)用分為帶通道調(diào)用和不帶通道調(diào)用,可通過在波形調(diào)用子菜單中旋轉(zhuǎn)旋輪來切換。如果選擇帶通道調(diào)用,系統(tǒng)自動(dòng)將所選波形文件中的參數(shù)讀入儀器,并以這些參數(shù)作為系統(tǒng)工作參數(shù),當(dāng)前通道切換為CH-COM,可通過通道另存方式保存當(dāng)前通道參數(shù)。

 

 

5.9

 

清空波形文件:刪除所選波形文件中所有的波形、參數(shù),清空文件。操作方法為:選擇好要清空的波形文件后,再選擇波形清空子菜單,按確認(rèn)鍵。

5.10 曲面修正

曲面修正功能,其作用是在使用斜探頭進(jìn)行周向探測(cè)圓柱面(外側(cè)面)時(shí),由于曲面的缺陷定位須以工件的弧長(zhǎng)和深度來表示,如圖5.10所示,與平面有所不同,此時(shí)儀器可根據(jù)曲面工件的參數(shù)自動(dòng)進(jìn)行計(jì)算和修正。

 5.10

操作:

  • “功能”鍵進(jìn)入到功能組菜單,按“H5”鍵,選擇“曲面”;
  • 通過按“向上”和“向下”鍵選擇工件外徑,然后左旋或右旋飛輪輸入工件外徑;
  • 按照輸入工件外徑的方法輸入工件內(nèi)徑;
  • 通過按“向上”和“向下”鍵選擇曲面修正,再按“確認(rèn)”或飛輪打開或關(guān)閉曲面修正功能。

5.11焊縫示意功能

焊縫功能包含1個(gè)參數(shù)項(xiàng),為焊縫參數(shù)。

焊縫參數(shù):

此功能只在檢測(cè)探頭是斜探頭時(shí)可用,在焊縫參數(shù)子菜單被選中的情況下,單擊確認(rèn)鍵,進(jìn)入焊縫設(shè)置界面,如圖5.11,左側(cè)為焊縫參數(shù)區(qū),可通過確認(rèn)鍵、上移鍵、下移鍵和數(shù)碼飛梭旋輪對(duì)這些參數(shù)進(jìn)行設(shè)置和選擇;右上方為焊縫示意圖;選擇左側(cè)焊縫參數(shù)區(qū)的第一行焊縫圖示,單擊確認(rèn)鍵,打開焊縫圖示,右下角出現(xiàn)焊縫圖,如圖5.12,可通過設(shè)置左側(cè)參數(shù)對(duì)它進(jìn)行設(shè)置。

 

5.11

 

5.12

 

設(shè)置完成后,確保焊縫圖示項(xiàng)為狀態(tài),選擇退出,單擊確認(rèn)鍵回到回波顯示界面。當(dāng)用戶移動(dòng)探頭,鎖定焊縫中缺陷回波時(shí),保持探頭位置不變,單擊確認(rèn)鍵,屏幕下方出現(xiàn)輸入探頭前端至焊縫中心的距離后按確認(rèn)鍵:=”的提示,用直尺量出距離,通過數(shù)碼飛梭旋輪輸入此距離值,再單擊確認(rèn)鍵,屏幕下方出現(xiàn)缺陷位置示意圖,如圖5.13,單擊確認(rèn)鍵,回到回波顯示界面。

 

5.13 缺陷位置示意圖

5.12 B

   本儀器B掃功能分為厚度B掃和顏色B掃,厚度B掃可以顯示出工件截面形狀。 可以應(yīng)用在鍋爐,管道等腐蝕情況檢測(cè)中,通過厚度B掃描,可以顯示出鍋爐壁厚、管道壁厚等腐蝕狀況,直觀觀察厚度的變化情況。

顏色B掃描是對(duì)檢測(cè)范圍內(nèi)的回波進(jìn)行顏色調(diào)制,用不同顏色表示不同的回波強(qiáng)度??芍庇^顯示出鍋爐、管道等壁內(nèi)部缺陷的回波大小。

B掃前準(zhǔn)備

單擊功能鍵,選擇 掃描主菜單,將 “B掃模式子菜單設(shè)置為開的狀態(tài),此時(shí)波形顯示界面分為上,下兩個(gè)波形顯示區(qū)。上邊是A掃波形顯示區(qū)域,下邊是B掃波形顯示區(qū)域。厚度B掃時(shí),儀器自動(dòng)將檢測(cè)方式設(shè)為前沿;調(diào)節(jié)閘門寬度、閘門起始和閘門高度,使閘門可以套住被檢區(qū)域。

開始探測(cè)

將涂有耦合劑的探頭在被測(cè)物體上以合適的速度拖動(dòng),保持探頭與工件的良好耦合。探頭移動(dòng)速度以能顯示合適B掃圖像為宜。

    5.14和圖5.15CSK-IA開口槽B掃示意圖與得到的B掃圖像。

注意掃描周期重復(fù)頻率有關(guān),如果探傷規(guī)程允許,可以調(diào)節(jié)重復(fù)頻率來調(diào)節(jié)掃描速度。          

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

5.14 BCSK-IA開口槽B掃示意圖

 

 

5.15 CSK-IA開口槽B掃圖

5.13 展寬

展寬鍵可以將當(dāng)前閘門范圍內(nèi)的回波展寬到整個(gè)波形顯示區(qū),再次按該鍵則恢復(fù)到展寬前的狀態(tài)。如圖5.165.17所示:

 

 

 

5.16閘門展寬前

 

 

             5.17閘門展寬后

 


                                   

第六章 檢測(cè)精度的影響因素及缺陷評(píng)估

請(qǐng)?jiān)谑褂?/font>儀器之前閱讀下列資料,了解和遵守有關(guān)要求。這對(duì)于避免過失操作非常重要。

6.1使用超聲探傷儀的必要條件

1)操作人員的培訓(xùn)

2)特殊技術(shù)測(cè)試要求與限制的知識(shí)

3)選擇適當(dāng)?shù)臏y(cè)試設(shè)備

6.2影響檢測(cè)精度的因素

  • 檢測(cè)對(duì)象的材料
  • 溫度
  • 表面粗糙度
  • 磁場(chǎng)
  • 附著物質(zhì)
  • 缺陷的形狀特征
  • 缺陷的聲阻抗
  • 缺陷的表面特征(如是否光滑)
  • 探傷方法的選擇

所有的超聲檢測(cè)缺陷定位都是基于對(duì)超聲回波信號(hào)的測(cè)量。檢測(cè)對(duì)象中聲速是否恒定是影響檢測(cè)結(jié)果精度的一個(gè)重要因素,所以要實(shí)現(xiàn)較高的檢測(cè)精度,需要檢測(cè)對(duì)象中有相對(duì)恒定的超聲傳播速度。

6.3缺陷評(píng)估方法

目前的探傷實(shí)踐中,基本上有兩種不同的缺陷評(píng)價(jià)方法:

(1)如果聲束的直徑小于缺陷范圍,那么聲束可以用于探測(cè)缺陷邊界,并確定它的范圍。

(2)如果聲束直徑大于缺陷范圍,缺陷最大回波響應(yīng)必須與用于比較的人工缺陷最大回波響應(yīng)相比較。

6.3.1缺陷邊界法

探頭的聲束直徑越小,通過缺陷邊界法確定的邊界以至缺陷范圍,就越準(zhǔn)確。但是如果聲束相對(duì)較寬,確定的缺陷范圍可能與實(shí)際的缺陷范圍明顯不同。所以,應(yīng)慎重選擇能在缺陷位置得到足夠狹窄集中聲束的探頭。

6.3.2回波顯示比較法

一個(gè)較小的自然缺陷反射的回波,通常小于一個(gè)人工對(duì)比缺陷(例如同樣大小的圓盤缺陷)反射的回波。這是由于(例如)自然缺陷的表面較粗糙或者由于聲束打到缺陷時(shí)的角度不佳造成的。如果評(píng)價(jià)自然缺陷時(shí)沒有考慮到這一事實(shí)情況,就會(huì)有低估它們當(dāng)量值的危險(xiǎn)。

對(duì)于參差不齊或裂開的缺陷,例如鑄件中的收縮孔,可能會(huì)出現(xiàn)缺陷邊界表面的聲散射較強(qiáng),根本沒有產(chǎn)生回波。在這種情況下,應(yīng)該選擇另外不同的分析方法,例如在分析中使用底面回波衰減法。

缺陷回波的距離靈敏度在對(duì)大工件的探傷中扮演了一個(gè)重要角色。在選擇人工對(duì)比缺陷時(shí)要注意,這些缺陷同被評(píng)價(jià)的自然缺陷一樣,可能是由同樣的距離變化規(guī)律支配的。

超聲波在任何材料中傳播都會(huì)衰減,這種聲衰減的速度通常非常小,例如,由細(xì)密紋理的鋼制成的部件,同樣也包括許多其它材料制成的小部件。但是,如果聲波在材料中要傳播較長(zhǎng)的距離,高度累積的聲衰減就可能產(chǎn)生(即使材料的衰減系數(shù)很?。?。這就會(huì)造成自然缺陷回波顯得太小的危險(xiǎn)。為此,必須在評(píng)價(jià)結(jié)果中對(duì)衰減的影響作出估計(jì),在需要的時(shí)候給予考慮。

如果被測(cè)物體表面粗糙,入射聲能的一部分將在物體表面被散射,影響探測(cè)。散射越厲害,反射回波越小,評(píng)定結(jié)果時(shí)出現(xiàn)的誤差就越大。因此,被測(cè)物體的表面狀況,對(duì)回波高度的影響是重要的。

 

第七章 維修與保養(yǎng)

7.1使用注意事項(xiàng)

儀器關(guān)機(jī)后必須停5秒以上方可再次開機(jī),不可反復(fù)開關(guān);

避免強(qiáng)力震動(dòng)、沖擊和強(qiáng)民磁場(chǎng)的干擾;

不要長(zhǎng)期置于高溫、潮濕和有腐蝕氣體的環(huán)境之中;

按鍵操作不宜用力過猛,不宜用沾有過多油污和泥水的手操作儀器鍵盤;

儀器出現(xiàn)故障時(shí),請(qǐng)與銷售商或本公司聯(lián)系。

7.2保養(yǎng)與維護(hù)

探傷儀使用完畢,應(yīng)對(duì)儀器的外表進(jìn)行清潔,然后放置于室內(nèi)干燥通用處;

探頭連線切忌扭曲重壓。在拔、插連線時(shí)應(yīng)抓住插頭根部;

為保護(hù)探傷儀及電池,每個(gè)月至少開機(jī)通電12個(gè)小時(shí),并給電池充電,以免元器件受潮或電池過放而影響使用壽命;

探傷儀在搬動(dòng)過程中,應(yīng)避免摔跌或強(qiáng)烈振動(dòng)、撞擊和雨、雪等淋濺。

嚴(yán)禁用具有溶解性的物質(zhì)擦拭外殼。

一般故障及排除

現(xiàn)象

原因

排除方法

不能開機(jī)或開機(jī)后馬上又自動(dòng)關(guān)機(jī)

電池電量不足

進(jìn)行充電

使用過程中出現(xiàn)顯示異常

某種原因引起內(nèi)存混亂

恢復(fù)出廠設(shè)置

沒有信號(hào)或信號(hào)時(shí)有時(shí)無

探頭連線接觸不良

重新插拔

 

如果不能排除故障,請(qǐng)及時(shí)與銷售商或本公司聯(lián)系。

 

附錄

附錄1:名詞術(shù)語

本附錄列出了本說明書中所涉及到的超聲無損檢測(cè)的名詞術(shù)語,了解這些術(shù)語所代表的確切含義,有助于更好的使用本說明書。

  • 脈沖幅度:脈沖信號(hào)的電壓幅值。當(dāng)采用A型顯示時(shí),通常為時(shí)基線到脈沖峰頂?shù)母叨取?/font>
  • 脈沖寬度:以時(shí)間或周期數(shù)值表示的脈沖持續(xù)時(shí)間。
  • 分貝:兩個(gè)振幅或者強(qiáng)度比的對(duì)數(shù)表示。
  • 聲阻抗:聲波的聲壓與質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)速度之比,通常用介質(zhì)的密度p和速度c的乘積表示。
  • 聲阻抗匹配:聲阻抗相當(dāng)?shù)膬山橘|(zhì)間的耦合。
  • 衰減:超聲波在介質(zhì)中傳播時(shí),隨著傳播距離的增大,聲壓逐漸減弱的現(xiàn)象。
  • 總衰減:任何形狀的超聲束,其特定波形的聲壓隨傳播距離的增大,由于散射、吸收和聲束擴(kuò)散等共同引起的減弱。
  • 衰減系數(shù):超聲波在介質(zhì)中傳播時(shí),因材質(zhì)散射在單位距離內(nèi)聲壓的損失,通常以每厘米分貝表示。
  • 缺陷:尺寸、形狀、取向、位置或性質(zhì)對(duì)工件的有效使用會(huì)造成損害,或不滿足規(guī)定驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)要求的不連續(xù)性。
  • A型顯示:以水平基線(X軸)表示距離或時(shí)間,用垂直于基線的偏轉(zhuǎn)(Y軸)表示幅度的一種信息表示方法。
  • 發(fā)射脈沖:為了產(chǎn)生超聲波而加到換能器上的電脈沖。
  • 時(shí)基線:A型顯示熒光屏中表示時(shí)間或距離的水平掃描線。
  • 掃描:電子束橫過探傷儀熒光屏所作同一樣式的重復(fù)移動(dòng)。
  • 掃描范圍:熒光屏?xí)r基線上能顯示的最大聲程。
  • 掃描速度:熒光屏上的橫軸與相應(yīng)聲程的比值。
  • 延時(shí)掃描:在A型或B型顯示中,使時(shí)基線的起始部分不顯示出來的掃描辦法。
  • 水平線性:超聲探傷儀熒光屏?xí)r間或距離軸上顯示的信號(hào)與輸入接收器的信號(hào)(通過校正的時(shí)間發(fā)生器或來自已知厚度平板的多次回波)成正比關(guān)系的程度。
  • 垂直線性:超聲探傷儀熒光屏?xí)r間或距離軸上顯示的信號(hào)與輸入接收器的信號(hào)幅度成正比關(guān)系的程度。
  • 動(dòng)態(tài)范圍:在增益調(diào)節(jié)不變時(shí),超聲探傷儀熒光屏上能分辨的最大與最小反射面積波高之比。通常以分貝表示。
  • 脈沖重復(fù)頻率:為了產(chǎn)生超聲波,每秒內(nèi)由脈沖發(fā)生器激勵(lì)探頭晶片的脈沖次數(shù)。
  • 檢測(cè)頻率:超聲檢測(cè)時(shí)所使用的超聲波頻率。通常為0.4 MHz ~15MHz。
  • 回波頻率:回波在時(shí)間軸上進(jìn)行擴(kuò)展觀察所得到的峰值間隔時(shí)間的倒數(shù)。
  • 靈敏度:在超聲探傷儀熒光屏上產(chǎn)生可辨指示的最小超聲信號(hào)的一種量度。
  • 靈敏度余量:超聲探傷系統(tǒng)中,以一定電平表示的標(biāo)準(zhǔn)缺陷探測(cè)靈敏度與最大探測(cè)靈敏度之間的差值。
  • 分辨力:超聲探傷系統(tǒng)能夠區(qū)分橫向、縱向或深度方向相距最近的一定大小的兩個(gè)相鄰缺陷的能力。
  • 抑制:在超聲探傷儀中,為了減少或消除低幅度信號(hào)(電或材料的噪聲),以突出較大信號(hào)的一種控制方法。
  • 閘門:為監(jiān)控探傷信號(hào)或作進(jìn)一步處理而選定一段時(shí)間范圍的電子學(xué)方法。
  • 衰減器:使信號(hào)電壓(聲壓)定量改變的裝置。衰減量以分貝表示。
  • 信噪比:超聲信號(hào)幅度與最大背景噪聲幅度之比。通常以分貝表示。
  • 阻塞:接收器在接收到發(fā)射脈沖或強(qiáng)脈沖信號(hào)后的瞬間引起的靈敏度降低或失靈的現(xiàn)象。
  • 增益:超聲探傷儀接收放大器的電壓放大量的對(duì)數(shù)形式。以分貝表示。
  • 距離波幅曲線(DAC):根據(jù)規(guī)定的條件,由產(chǎn)生回波的已知反射體的距離、探傷儀的增益和反射體的大小,三個(gè)參量繪制的一組曲線。實(shí)際探傷時(shí),可由測(cè)得的缺陷距離和增益值,從此曲線上估算出缺陷的當(dāng)量尺寸。
  • 耦合:在探頭和被檢件之間起傳導(dǎo)聲波的作用。
  • 試塊:用于鑒定超聲檢測(cè)系統(tǒng)特性和探傷靈敏度的樣件。
  • 標(biāo)準(zhǔn)試塊:材質(zhì)、形狀和尺寸均經(jīng)主管機(jī)關(guān)或機(jī)構(gòu)檢定的試塊。用于對(duì)超聲檢測(cè)裝置或系統(tǒng)的性能測(cè)試及靈敏度調(diào)整。
  • 對(duì)比試塊:調(diào)整超聲檢測(cè)系統(tǒng)靈敏度或比較缺陷大小的試塊。一般采用與被檢材料特性相似的材料制成。
  • 探頭:發(fā)射或接收(或既發(fā)射又接收)超聲能量的電聲轉(zhuǎn)換器件。該器件一般由商標(biāo)、插頭、外殼、背襯、壓電元件、保護(hù)膜或楔塊組成。
  • 直探頭:進(jìn)行垂直探傷用的探頭,主要用于縱波探傷。
  • 斜探頭:進(jìn)行斜射探傷用的探頭,主要用于橫波探傷。

附錄2:與超聲波探傷有關(guān)的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)

UTD800系列探傷儀及本操作手冊(cè)涉及到的超聲波探傷國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)有:

1、GB/T 12604.1–1990 無損檢測(cè)術(shù)語 超聲檢測(cè)

2、JB/T 10061-1999 A型脈沖反射式超聲探傷儀通用技術(shù)條件

3、JJG 746-2004  超聲探傷儀  中華人民共和國(guó)國(guó)家計(jì)量檢定規(guī)程

4. JB 9214_1999A型脈沖反射式超聲探傷系統(tǒng)工作性

 

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