RTS-1345型全自動(dòng)四探針測試系統(tǒng)是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合全自動(dòng)測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的,專用于測試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用儀器。
儀器由主機(jī)、測試臺(tái)、四探針探頭、真空泵、屏蔽罩、計(jì)算機(jī)等部分組成,測量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示,亦可由計(jì)算機(jī)控制進(jìn)行全自動(dòng)測試,然后把測試數(shù)據(jù)采集到計(jì)算機(jī)中加以分析,以表格、圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測試結(jié)果。
| 可對(duì)樣品進(jìn)行單點(diǎn)、五點(diǎn)、九點(diǎn)、多點(diǎn)、直徑掃描、面掃描等模式的全自動(dòng)測試; |
| 屏蔽測試,*消除光線對(duì)樣品測試的影響,保證測量的準(zhǔn)確性; |
| 吸附測試,*消除全自動(dòng)測試過程中樣品移動(dòng)對(duì)測試的影響; |
| 可不連接電腦使用進(jìn)行單點(diǎn)、中心五點(diǎn)、邊緣五點(diǎn)測試并把測試結(jié)果同時(shí)顯示于顯示屏; |
RTS-1345型四探針軟件測試系統(tǒng)是一個(gè)運(yùn)行在計(jì)算機(jī)上擁有友好測試界面的用戶程序,通過此測試程序輔助使用戶簡便地進(jìn)行各項(xiàng)測試及獲得測試數(shù)據(jù)并對(duì)測試數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析。 測試程序控制四探針測試儀進(jìn)行測量并采集測試數(shù)據(jù),把采集到的數(shù)據(jù)在計(jì)算機(jī)中加以分析,然后把測試數(shù)據(jù)以表格,圖形直觀地記錄、顯示出來。用戶可對(duì)采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看,還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到Excel中,讓用戶對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行各種數(shù)據(jù)分析。 |
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技 術(shù) 指 標(biāo) : |
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測量范圍 | 電阻率:0.0001~2000Ω.cm(可擴(kuò)展); 方塊電阻:0.001~20000Ω/□(可擴(kuò)展); 電導(dǎo)率:0.0005~10000 s/cm; 電阻:0.0001~2000Ω.cm; | 可測晶片直徑 | Φ=200mm; | 恒流源 | 電流量程分為0.1mA、1mA、10mA、100mA四檔,各檔電流連續(xù)可調(diào) | 數(shù)字電壓表 | 量程及表示形式:000.00~199.99mV; 分辨力:10μV; 輸入阻抗:>1000MΩ; 精度:±0.1% ; 顯示:四位半紅色發(fā)光管數(shù)字顯示;極性、超量程自動(dòng)顯示; | 四探針探頭基本指標(biāo) | 間距:1±0.01mm; 針間絕緣電阻:≥1000MΩ; 機(jī)械游移率:≤0.3%; 探針:碳化鎢或高速鋼Ф0.5mm; 探針壓力:5~16 牛頓(總力); | 四探針探頭應(yīng)用參數(shù) | (見探頭附帶的合格證) | 模擬電阻測量相對(duì)誤差 ( 按JJG508-87進(jìn)行) | 0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1字 | 整機(jī)測量最大相對(duì)誤差 | (用硅標(biāo)樣片:0.01-180Ω.cm測試)≤±5% | 整機(jī)測量標(biāo)準(zhǔn)不確定度 | ≤5% | 測試模式 | 連接電腦使用可對(duì)樣品進(jìn)行單點(diǎn)、五點(diǎn)、九點(diǎn)、多點(diǎn)、直徑掃描、面掃描等模式的全自動(dòng)測試,不連接電腦情況下可進(jìn)行單點(diǎn)、中心五點(diǎn)、邊緣五點(diǎn)測試并把測試結(jié)果同時(shí)顯示于顯示屏。 | 消除測試過程中影響因素 | 屏蔽和吸附測試,*消除光線和全自動(dòng)測試過程中樣品移動(dòng)對(duì)樣品測試的影響,保證測量的準(zhǔn)確性。 | 標(biāo)準(zhǔn)使用環(huán)境 | 溫度:23±2℃; 相對(duì)濕度:≤65%; 無高頻干擾; 無強(qiáng)光直射; |
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