光譜響應(yīng)特性是表征太陽(yáng)能電池性能的重要參數(shù)之一，早期測(cè)量光譜響應(yīng)的普遍方法是基于單晶硅太陽(yáng)能電池發(fā)展起來(lái)的交流法，該方法在很多情況下無(wú)法滿足一些新型太陽(yáng)能電池光譜響應(yīng)的測(cè)量。為此，近年來(lái)，本課題組對(duì)太陽(yáng)能電池光譜響應(yīng)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)以及準(zhǔn)確測(cè)量進(jìn)行了系統(tǒng)研究，IPCE測(cè)試系統(tǒng)普遍適用于包括硅基太陽(yáng)能電池、納米晶敏化太陽(yáng)能電池、有機(jī)太陽(yáng)能電池及新型的鈣鈦礦太陽(yáng)能電池等在內(nèi)的各種太陽(yáng)能電池的IPCE及光電流時(shí)間響應(yīng)的測(cè)量。課題組在設(shè)備研制及新型太陽(yáng)能電池IPCE測(cè)量方面，取得了一系列研究成果。
IPCE測(cè)試系統(tǒng)矯正及測(cè)試：
1.將標(biāo)準(zhǔn)電池片放置于模擬器出口位置。
2.標(biāo)準(zhǔn)電池片紅白為負(fù)極，黃灰為正極。將電池片正極接源表正極；電池片負(fù)極接源表負(fù)極。
3.軟件中設(shè)置測(cè)試參數(shù)(包含起始電壓、間隔電壓、終止電壓等)
4.點(diǎn)擊開(kāi)始根據(jù)軟件提示進(jìn)行測(cè)試。
5.確認(rèn)測(cè)試結(jié)果的短路電流與證書(shū)的標(biāo)示一致。若測(cè)試結(jié)果大于證書(shū)標(biāo)示，則需調(diào)低模擬器電功率輸出，否則需調(diào)高模擬器電功率輸出。再重新進(jìn)行測(cè)試直至測(cè)試結(jié)果的短路電流與證書(shū)標(biāo)示一致。完成矯正。
6.將樣品放置于測(cè)試臺(tái)上并將電池片正極接源表正極：電池片負(fù)極接源表負(fù)極。
7.軟件中設(shè)置測(cè)試參數(shù)(包含起始電壓、間隔電壓、終止電壓等)
8.IPCE測(cè)試系統(tǒng)點(diǎn)擊開(kāi)始進(jìn)行測(cè)試。
不得隨意更改數(shù)字源表的通訊設(shè)置，以防止無(wú)法與軟件正常通信。若必須更改，需先仔細(xì)閱讀源表使用說(shuō)明書(shū)，記錄當(dāng)前設(shè)置內(nèi)容，使用完畢后將參數(shù)恢復(fù)。源表在工作過(guò)程中會(huì)產(chǎn)生較高的熱量，因此在使用過(guò)程中避免碰觸其外殼及散熱片。測(cè)試過(guò)程中需正確設(shè)置限制電流以防止損壞測(cè)試樣品。
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