E7405A

E7405A|Agilent E7405A EMC分析儀|惠普EMI測試儀

性能
頻率范圍：30Hz至26.5GHz
1 Hz至5 MHz（包括200 Hz、9 kHz、120 kHz、1 MHz EMI BW）
+12.5 dBm TOI
≤ -150 dBm
+45 dBm二次諧波失真（SHI）
自動EMI測量
對數(shù)掃描
內置前置放大器
可選跟蹤發(fā)生器
描述
對您設計的 EMI 性能進行早期評估是產品成功的關鍵。采用 Agilent EMC 預論證解決方案，您能得到進行室內預論證測試所需要的全部功能特性，包括預先編程、自動測量、交互式軟件，以及獲得一致和可重復結果的自動測量功能。

新特性! 對數(shù)掃描
新特性! 1 Hz 和 3 Hz 分辨率帶寬
新特性! 在 Intern e t 上遠程觀察和控制 E7400A
全彩色顯示
3.5‘ 磁盤驅動器
自動 EMI 測量
5 分鐘預熱
內置前置放大器
堅固的便攜式設計

E7405A性能

頻率范圍：30Hz至26.5GHz
1 Hz至5 MHz（包括200 Hz、9 kHz、120 kHz、1 MHz EMI BW） 
12.5 dBm TOI 
≤ -150 dBm 
 +45 dBm二次諧波失真（SHI） 
自動EMI測量
對數(shù)掃描
內置前置放大器 
可選跟蹤發(fā)生器

高頻網絡分析儀：8720ES,8722ES,N5224A,N5225A,N5242A,N5244A,N5245A,N5235A,N5225B,N5245B,E8362B,E8363B,E8364B,E8361C,E8364C,ZNB20,ZVA24,ZVA67,ZVA40,ZVB20,ZNB40

性能描述:
盡早測試設計的 EMI 性能對于打造成功的產品至關重要。E7405A EMC 標準分析儀提供了您所需要的功能，使內部 EMI 預先一致性測試成為可能。

EMC 標準分析儀通過內置更多可以提高生產效率的選件并保證快速交付，為您創(chuàng)造大價值。

輻射發(fā)射
當與寬帶天線配合使用時，E7405A 能夠檢測您的被測件所散發(fā)的輻射發(fā)射。在沒有反射目標的區(qū)域（例如開闊地）或 EMI 室內，它的表現(xiàn)尤為出眾。

傳導發(fā)射
通過使用線路阻抗穩(wěn)定網絡（LISN）器件或功率吸收鉗，將 E7405A 儀器與電源線或數(shù)據線耦合，您可以對電源線或數(shù)據線產生的噪聲或受到的干擾信號進行測量。

故障診斷和隔離
如果您遇到發(fā)射問題，可以使用 E7405A 和近場探頭來隔離和診斷故障源。

11940A 近場探頭，30 MHz 至 1 GHz

11941A 近場探頭，9 kHz 至 30 MHz
特性! 對數(shù)掃描 
新特性! 1 Hz 和 3 Hz 分辨率帶寬 
新特性! 在 Internet 上遠程觀察和控制 E7400A 
全彩色顯示  3.5' 磁盤驅動器 
自動 EMI 測量 
5 分鐘預熱 
內置前置放大器 
堅固的便攜式設計
選件:
11941A 11941A 近場探頭，9 kHz ～ 30 MHz
Agilent 11941A 手持式探頭專門用于測量表面電流的磁場輻射。