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超聲波探傷儀如何定位缺陷
我們做超聲波探傷檢測(cè)要做到效率和準(zhǔn)確，這就要求我們使用性能穩(wěn)定的儀器，掌握專業(yè)的檢測(cè)知識(shí)，了解探測(cè)方法。超聲波探傷儀相對(duì)于其他傳統(tǒng)的探傷儀，它的性、便捷性、快速等多方面的性能都更勝*。探測(cè)缺陷要結(jié)合實(shí)際情況找準(zhǔn)缺陷位置，所以我們之前要首先對(duì)缺陷進(jìn)行定位。
下面我們就講解一下超聲波探傷儀缺陷定位的情況：
一、 零點(diǎn)調(diào)理
因?yàn)槌暡ń?jīng)過維護(hù)膜、耦合劑（直探頭）或有機(jī)玻璃楔塊（斜探頭）進(jìn)入待測(cè)工件的，缺陷定位時(shí)，需將這局部聲程移去，才干獲得超聲波在工件中實(shí)踐聲程。
零點(diǎn)普通是經(jīng)過已知聲程的試塊進(jìn)行調(diào)理，如CSK-IA試塊中的R100圓弧面（斜探頭）或深100mm的大平底（直探頭）。
二、K值調(diào)理
因?yàn)樾碧筋^探傷時(shí)不只要曉得缺陷的聲程，更要得出缺陷的垂直和程度地位，因而斜探頭還要準(zhǔn)確測(cè)定其K值（折射角）才干地對(duì)缺陷進(jìn)行定位。
K值普通是經(jīng)過對(duì)具有已知深度孔的試塊來調(diào)理，磁粉探傷機(jī)如用CSK-IA試塊?50或?1.5的孔。
三、定量調(diào)理
定量調(diào)理普通采用AVG（直探頭）或DAC（斜探頭）。
四、缺陷定位
超聲波探傷中測(cè)定缺陷地位簡(jiǎn)稱缺陷定位。
1、縱波（直探頭）定位
縱波定位較簡(jiǎn)略，如探頭波束軸線不偏離，缺陷波在屏幕上地位等于缺陷至探頭在垂直偏向的間隔。
2、外表波定位
外表波探傷定位與縱波定位根本相似超聲波探傷儀只是缺陷位于工件外表，缺陷波在屏幕上地位是缺陷至探頭在程度偏向的間隔（此時(shí)要思索探頭前沿）。
3、橫波定位
橫波斜探頭探傷定位由缺陷的聲程和探頭的折射角或缺陷的程度和垂直偏向的投影來確定。
4、橫波周向探測(cè)圓柱面時(shí)缺陷定位周向探傷時(shí)，缺陷定位與平面探傷分歧。