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日本進口TECLOCK得樂數(shù)顯測厚儀介紹 PF-11J PFD SMD
日本進口TECLOCK得樂數(shù)顯測厚儀百分表介紹和使用 PF-11J PFD617 SMD540
日本進口TECLOCK得樂數(shù)顯測厚儀百分表介紹和使用 PF-11J PFD617 SMD540由深圳市安川測量儀器有限公司*銷售日本進口TECLOCK得樂數(shù)顯測厚儀介紹 PF-11J PFD SMD，恒壓數(shù)顯測厚儀用于測量橡膠/熱塑性彈性體、塑料薄膜、布匹、紡織品、皮革等物理測試的試片厚度，具有立式（固定式）和框架式（手提式）兩種類型。
數(shù)顯測厚儀PF-11J
品陣容廣泛，適用于各種行業(yè)標準。
所有機型砝碼式的高精度數(shù)位板，實現(xiàn)了使用齒輪和彈簧等的模擬式量規(guī)無法得到的穩(wěn)定的靜負荷。
PG系列在測量臺上除了使用高平滑性以外，還使用耐磨損性、耐化學藥品性等優(yōu)異的石平臺(微孔石墨)。 不易劃傷，也不用擔心金屬制的請求。 在測量頭砧上尋找不銹鋼銅(部分除外)。 提高了耐酸性、耐堿性、耐水性。
電源是不需要充電的紐扣型電池。 便于攜帶。
■也可以變更測量頭、測量壓力等。 (但不符合標準規(guī)格)
立式測厚儀+臺座PG-20G
測量頭直徑5mm，壓力變更只需裝卸砝碼即可進行。
立式測厚儀+臺座PG-20G
測量頭直徑5mm，壓力變更只需裝卸砝碼即可進行。
數(shù)顯測厚儀使用注意：
1.在進行測試的時候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應當與試件相似。
⒉測量時側(cè)頭與試樣表面保持垂直。
⒊測量時要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。
⒋測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。
⒌測量前要注意周圍其他的電器設備會不會產(chǎn)生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。
⒍測量時要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測量，因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
⒎在測量時要保持壓力的恒定，否則會影響測量的讀數(shù)。