在幾分鐘內(nèi)即可獲得幾乎任何樣品的成分數(shù)據(jù)。ThermoScientific™ARL™QUANT'XEDXRF光譜儀提供大范圍的樣品的常量元素、微量元素和痕量元素的定量分析，包括大塊固體、顆粒、粉末、薄膜和液體。這款全面的臺式EDXRF（能量色散X射線熒光）系統(tǒng)配備無標樣軟件和配件，可滿足中心實驗室、合同實驗室以及環(huán)境監(jiān)測、化工、采礦、法醫(yī)、食品、電子、水泥以及金屬行業(yè)的元素分析需求。

    賽默飛能量色散X熒光光譜儀ARLQUANT′X有如下分析技術優(yōu)勢:

    1、快速分析氟（F）到鈾（U）之間的元素；

    2、元素分析濃度范圍從<1ppm到100%；

    3、多元素同時測量時間10-60秒；

    4、可選多種進樣器；

    5、使用CCD相機進行樣品成像；

    6、可調(diào)的X射線光斑直徑1-15mm，以便適應不同樣品大?。?br />
    7、高性能電制冷硅漂移探測器（SDD）；

    8、多功能XRF應用軟件；

    9、薄膜厚度測量與鍍層分析；

    10、UniQuant技術，的無標樣多元素同時分析技術；

    11、多語言支持；

    12、優(yōu)異的機械耐久性，可保證長時間*運行；

    13、可選TRACEcom，能夠輕松與LIMS交互；

    14、設計緊湊，可以輕松移動；

    15、低噪音、得益于智能溫控風扇；

    16、全面的自定義和現(xiàn)場應用方法建立功能；

    17、易于安裝，更易于維護。

    與上一代產(chǎn)品相比，新型ARLQUANT'X結合了改進的電子器件、全新的探測器、增強的X射線管以及優(yōu)化的幾何結構，從而提高了靈敏度。如果要測定微量元素，除了需要提升靈敏度之外，光譜純度也同樣重要。賽默飛能量色散X熒光光譜儀ARLQUANT′X經(jīng)過精心設計，可消除探測器電子器件、分析室、光學器件和X射線管產(chǎn)生的所有雜散干擾。