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德國FISCHER菲希爾測厚儀: Fischer菲希爾測厚儀 Fischer代理涂層測厚儀菲希爾庫倫法測厚儀菲希爾鍍層測厚儀菲希爾超聲波測厚儀UMP20/40/100/150 菲希爾校準片菲希爾探頭菲希爾納米壓痕儀菲希爾x熒光射線測厚儀面銅/孔銅測厚儀PMP10 菲希爾電解法測厚儀CMS2 鐵素體測量儀Fischer 菲希爾電導(dǎo)率儀SMP350 菲希爾代理測厚儀 mms pc2多功能測厚儀 Dualscope fmp100測厚儀 FischerScope MMS測厚儀 Phascope PMP10測厚儀 Feritscope FMP30鐵素體儀 SigmascopeSMP350電導(dǎo)率儀 Dualscope FMP20膜厚儀 ISOSCOPE FMP10膜厚儀 Deltascope FMP10膜厚儀 FISCHER FMP10/FMP20/FMP30/FMP40 FISCHER DUALSCOPE MP0

德國ElektroPhysik測厚儀: 筆式涂層測厚儀 QUINTSONIC 7超聲波測厚儀麥考特機械式測厚儀 Elektrophysik測厚儀代理 EPK代理測厚儀 EPK爐壁測厚儀 EPK庫倫法測厚儀 EPK涂層測厚儀 MINITEST1100/2100/3100/4100 MINITEST720/730/740 MINITEST725/735/745 MINITEST 403/405/406 MiniTest 400/400A/400B MINITEST 650 EPK測厚儀 MiniTest 7200/7400 FH MiniTest 420/430/440 MINITEST2500/MINITEST4500 EPK MINITEST 600涂層測厚儀

泰勒霍普森TAYLOR HOBSON粗糙度儀: 準直儀泰勒霍普森粗糙度儀泰勒霍普森圓度儀泰勒霍普森粗糙度輪廓儀 Surtronic DUO Surtronic S128 Surtronic S116

德國MAHR馬爾粗糙度儀: MARSURF M310粗糙度儀馬爾粗糙度儀測針 MARSURF M300 MARSURF PS10 馬爾粗糙度儀

德國HOMMEL霍梅爾粗糙度儀: HOMMEL W20粗糙度測量儀 HOMMEL W10霍梅爾粗糙度儀 HOMMEL W5粗糙度儀霍梅爾粗糙度儀探頭霍梅爾粗糙度儀

三豐粗糙度儀: 粗糙度儀 SJ-210

德國BYK: BYK4563 BYK4561 BYK光澤度儀

API: API激光跟蹤儀 API激光干涉儀

尼克斯: 尼克斯測厚儀

思看: 思看三維掃描儀

PROCEQ: 硬度計

哈納: 水質(zhì)分析儀

日本KETT: 測厚儀

日本柯尼卡美能達: 色差儀

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菲希爾X射線測厚儀XDLM237信息

時間：2024/11/15閱讀：354

　　德國菲希爾FISCHERSCOPE-X-RAY XDLM x射線熒光鍍層測厚和材料分析儀是普遍適用的能量色散X射線光譜儀。它們構(gòu)成了成熟的FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-C4模型系列開發(fā)的下一步。像它們的前輩一樣，它們特別適合于無損厚度測量和薄涂層分析以及批量生產(chǎn)的零件和印制板上的自動測量。有三個型號：XDLM 231具有平面支撐臺，XDLM 232具有手動操作的X / Y臺。 XDLM 237配備了一個電動X / Y平臺，當(dāng)打開防護罩時，該平臺會自動移到裝載位置。

　　應(yīng)用實例：

　　XDLM測量系統(tǒng)經(jīng)常用來測量接插件和觸點的各種底材上的Au/Ni, Au/PdNi/Ni, Ag/Ni或Sn/Ni鍍層的厚度。通常功能區(qū)都是很小的結(jié)構(gòu)如良好或突起，測量這些區(qū)域必須使用很小的準直器或適合樣品形狀的準直器。例如測量橢圓形樣品時，就要使用開槽的準直器以獲得*大的信號強度。