FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 系列作為一款應(yīng)用廣泛的能量色散型 X 射線儀器，專為超薄鍍層測量與微含量分析設(shè)計，是質(zhì)量控制、質(zhì)量檢驗及生產(chǎn)監(jiān)控場景下的理想測量工具。該系列儀器采用界面友好的臺式設(shè)計，依據(jù)不同使用需求推出了多種版本。

型號特點

XDLM 231 型：配備固定式工作臺，搭配馬達(dá)驅(qū)動的 Z 軸升降系統(tǒng)，操作穩(wěn)定便捷。

XDLM 232 型：搭載可手動操控的 X/Y 工作臺，同樣具備馬達(dá)驅(qū)動的 Z 軸升降系統(tǒng)，適用于多樣化樣品測量需求。

XDLM 237 型：擁有馬達(dá)驅(qū)動的 X/Y 工作臺，當(dāng)保護(hù)門開啟時，工作臺會自動移動至樣品放置位置，極大提升操作效率；此外，還配備馬達(dá)驅(qū)動的可編程 Z 軸升降系統(tǒng)，為精準(zhǔn)測量提供更多可能。

儀器參數(shù)

測量組件：配備 4 個可切換準(zhǔn)直器與 3 種可切換基本濾片，采用比例接收器，測量距離可達(dá) 0 - 80mm。

圖像系統(tǒng)：采用高分辨率的 CCD 彩色攝像頭，確保測量過程清晰可視。

重量規(guī)格：儀器重量在 100kg - 120kg 區(qū)間。

使用要求

環(huán)境條件：工作溫度范圍為 10℃ - 40℃，空氣相對濕度需控制在≤95% 且無結(jié)露現(xiàn)象。

計算機(jī)適配：需搭配帶擴(kuò)展卡的計算機(jī)系統(tǒng)，以保障儀器與計算機(jī)的高效協(xié)同工作。