FISCHERSCOPE X-RAY XULM 240菲希爾測(cè)厚儀

FISCHERSCOPEX-RAYXUL和XULM系列熒光鍍層測(cè)厚儀介紹：

多用途的鍍層厚度測(cè)量?jī)x。無(wú)論是薄的還是厚的鍍層（如50 nm Au或100 μmSn）都通過(guò)選擇好的高壓濾片組合很好地測(cè)量。微聚焦管可以達(dá)到在很短的測(cè)量距離內(nèi)小到100 μm的測(cè)量點(diǎn)大小。高達(dá)數(shù)kcps的計(jì)數(shù)率可以被比例接收器接收到。對(duì)于FISCHERSCOPE X-RAYXUL和XULM系列來(lái)說(shuō)，X射線(xiàn)源和接收器位于測(cè)量室的下方，這樣可以快速方便地定位樣品。除此以外，視頻窗口也可以輔助定位，儀器前方的大控制臺(tái)簡(jiǎn)化了操作，特別是在日常生產(chǎn)中測(cè)量大量部件時(shí)特別有用。盡管結(jié)構(gòu)緊湊，但這些儀器都有大容量的測(cè)量室，這樣大的物品也可以測(cè)量。殼體的開(kāi)槽設(shè)計(jì)（C型槽）可以測(cè)量諸如印刷線(xiàn)路板類(lèi)大而平整的樣品，即使這些樣品可能無(wú)法*放入測(cè)量室，樣品直接放置在平整的支撐臺(tái)上，或者定位精度更高的手動(dòng)XY工作臺(tái)上。

FISCHERSCOPE X-RAY XULM 240菲希爾測(cè)厚儀

Fischer Dualscope MP0測(cè)厚儀
DualScope MP0 袖珍式涂鍍層測(cè)厚儀：涂鍍層測(cè)厚儀（別名：涂層測(cè)厚儀，鍍層厚度測(cè)量?jī)x，涂鍍層厚度無(wú)損測(cè)量?jī)x，手持式涂鍍層測(cè)厚儀，表面電鍍層厚度測(cè)量?jī)x，油漆涂層測(cè)厚儀，便攜式涂層測(cè)厚儀，*涂層測(cè)厚儀，無(wú)損測(cè)厚儀，覆層測(cè)厚儀。
技術(shù)規(guī)格：
量 程：0～2000μm。
精 度：1μm（0～50μm）；2%（50μm～1000μm）；3%（1000μm～2000μm）。
重復(fù)精度： ±0.5μm（0～100μm）； ±0.5%（＞100μm）。
最小測(cè)量曲率直徑：在精度范圍內(nèi)，鐵基φ35mm，非鐵基φ50mm；
（在允許誤差＜10%時(shí)，鐵基為φ10mm，非鐵基為φ2mm）。
最小測(cè)量面積直徑：φ4mm（在允許誤差＜10%時(shí)，為φ2mm）。
最小基體厚度：鐵基0.2mm（誤差＜10%時(shí)）；非鐵基0.09mm（誤差＜10%時(shí)）。
重 量：60g（不含電池）。
外形尺寸：64mm×30m×85mm。
電 源：兩節(jié)5號(hào)電池。
標(biāo)準(zhǔn)配置：
鐵基型：主機(jī)一臺(tái)；鐵基體一塊；標(biāo)準(zhǔn)片一片；儀器盒；操作手冊(cè)；
兩用型：主機(jī)一臺(tái)；鐵、鋁基體各一塊；標(biāo)準(zhǔn)片一片；儀器盒；操作手冊(cè)