Fischerscope XDLM232 x射線測厚儀

Fischerscope XDLM232 x射線測厚儀

菲希爾x熒光分析儀FISCHERSCOPE-X-RAYXDLM x射線熒光鍍層測厚和材料分析儀：
菲希爾x熒光分析儀FISCHERSCOPE-X-RAYXDLM儀器是普遍適用的能量色散X射線光譜儀。 它們構(gòu)成了成熟的FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-C4模型系列開發(fā)的下一步。 像它們的前輩一樣，它們特別適合于無損厚度測量和薄涂層分析以及批量生產(chǎn)的零件和印制板上的自動(dòng)測量。有三個(gè)型號：XDLM 231具有平面支撐臺(tái)，XDLM 232具有手動(dòng)操作的X / Y臺(tái)。 XDLM 237配備了一個(gè)電動(dòng)X / Y平臺(tái)，當(dāng)打開防護(hù)罩時(shí)，該平臺(tái)會(huì)自動(dòng)移到裝載位置。Fischerscope XDLM232

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 設(shè)計(jì)為界面友好的臺(tái)式測量儀器系列。根據(jù)不同的預(yù)期用途，有不同的版本。
XDLM 231型的工作臺(tái)為固定式工作臺(tái)，馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的 Z 軸升降系統(tǒng)。
XDLM 232型配有可手動(dòng)操控的 X/Y 工作臺(tái)，馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的 Z 軸升降系統(tǒng)。
XDLM 237型則配備了馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的 X/Y 工作臺(tái)，當(dāng)保護(hù)門開啟時(shí)，工作臺(tái)會(huì)自動(dòng)移到放置樣品的位置。馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的可編程 Z 軸升降系統(tǒng)。