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產地類別	進口	價格區(qū)間	面議
應用領域	環(huán)保,化工,石油,能源,電子/電池

X射線熒光分析法 (XRFA)：

能量散射X射線熒光光譜法（EDXRF）作為鍍層厚度測量和材料分析的方法，可用來定量和定性分析樣品的元素組成，也可用于鍍層和鍍層系統的厚度測量。無論是在實驗室還是工業(yè)生產環(huán)境中，這一方法都能*勝任，并還可以與現代化設備一起發(fā)揮作用。

X射線熒光法（XRFA）的優(yōu)點：

快速無損的鍍層厚度測量（單層或多鍍層）

分析固態(tài)，粉末或液態(tài)樣品

有害物痕量分析

高精度和準確度

十分廣泛的應用

準確測量基材是磁性和導電的材料

樣品制備非常簡單

測試方法安全，沒有使用危害環(huán)境的化學制品

無耗品，物超所值

菲希爾xan215參數

設計用途	采用能量色散型X射線熒光光譜法（EDXRF），用以分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度
元素范圍	從元素氯（17）到鈾（92），多可同時測定24種元素。
重復性	測量金元素時≤1‰，測量時間60秒
形式設計	臺式儀器，測量門向上開啟
測量方向	由下往上
X射線源
X射線管	帶鈹窗口的鎢靶射線管
高壓	三檔：30KV，40KV，50KV
孔徑（準直器）	φ1mm；可選φ2mm
測量點尺寸	當測量距離MD=0mm時，測量點直徑=孔徑直徑+200μm
X射線探測
X射線探測器	采用珀耳帖了法冷卻的Si-PIN接收器
能量分辨率（Mn元素Kα半高寬）	≤180eV
測量距離	0...10mm
測量距離	通過受保護的DCM測量距離補償法，可在不同測量距離上不需要重新校準就能進行測量；對于特殊的應用或者對測量精度要求較高的測量，可能需要進行額外的校準。
樣品定位
樣品放置	手動
視頻系統	高分辨率CCD彩色攝像頭，可沿著初級X射線光束方向，手動焦距，對被測位置進行監(jiān)控
視頻系統	十字線（帶有經過校準的刻度和測量點尺寸），可調節(jié)亮度的LED照明
圖像發(fā)達倍數	40x~160x
工作臺
形式設計	固定工作臺
樣品放置可用區(qū)域	310x320mm
樣品大重量	13KG
樣品高高度	90mm
電氣參數
電源要求	AC 220V 50Hz
功耗	大120W（不包括計算機）
保護等級	IP40
尺寸規(guī)格
外部尺寸（寬x深x高）	403x588x365mm
重量	大約45KG
環(huán)境要求
使用時溫度	10℃~40℃
存儲或運輸時溫度	0℃~50℃
空氣相對濕度	≤95%，無結露
計算單元
計算機	Windows®-PC
軟件	標準：Fischer WinFTM®BASIC 包含PDM®功能
軟件	可選：Fischer WinFTM®
執(zhí)行標準
CE合格標準	EN 61010
X射線標準	DIN ISO 3497 和ASTM B 568
形式批準
形式批準	符合德國“Deutsche Rontgenverordnung-RoV"法規(guī)的規(guī)定

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