菲希爾微量元素分析測試儀

菲希爾微量元素分析測試儀

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL特點(diǎn)

采用DIN ISO 3497和ASTM B 568標(biāo)準(zhǔn)，用于自動測量達(dá)到0.05μm的鍍層和用于ppm級含量的材料分析的通用X射線熒光光譜儀

3種不同的探測器可選（Si-PIN二極管；SDD 20 mm2；SDD 50 mm2）

3種可切換基本濾片

4種可切換準(zhǔn)直器

最小測量點(diǎn)約為0.15mm

樣品最高高度可達(dá)14cm

可編程XY工作臺，定位精度為10µm

開槽箱體設(shè)計用于測量大的印刷電路板

經(jīng)過認(rèn)證的全面保護(hù)設(shè)備

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL應(yīng)用

鍍層和合金（也包括薄涂層和低濃度）的材料分析

電子行業(yè)，ENIG，ENEPIG

連接器和觸點(diǎn)

黃金，珠寶和制表業(yè)

PCB制造薄金（幾納米）和鈀鍍層的測量

微量元素分析

高可靠性應(yīng)用的鉛（Pb）的測定（避免錫晶須）

對硬質(zhì)材料涂層的分析

菲希爾XDAL測厚儀

憑借電機(jī)驅(qū)動（可選）與自上而下的測量方向，XDL系列測量儀器能夠進(jìn)行自動化的批量測試。提供 X 射線源、濾波器、準(zhǔn)直器以及探測器不同組合的多種型號，從而能夠根據(jù)不同的測量需求選擇適合的 X 射線儀器。在設(shè)計上，F(xiàn)ISCHERSCOPE XRAYXDAL型儀器和XDLM型儀器相對應(yīng)。區(qū)別在于使用的探測器類型不同。在XDAL上，使用了帕爾貼制冷的硅PIN探測器，從而有了遠(yuǎn)好于XDLM使用的比例計數(shù)器的能量分辨率。因而，這臺儀器適合于一般材料分析，痕量元素分析及測量薄鍍層厚度。

無錫駿展儀器有限責(zé)任公司提供專業(yè)的技術(shù)服務(wù)和售后服務(wù)的各種精密檢測儀器和設(shè)備,和專業(yè)的技術(shù)能力,全面的產(chǎn)品資源,深思熟慮的和快速的服務(wù),可靠的設(shè)備質(zhì)量為目的,在加工、*制造、新材料應(yīng)用,科學(xué)研究等前沿領(lǐng)域有*的優(yōu)勢。

用FERITSCOPE FMP30測量鐵素體含量用于 化工設(shè)備和石油加工廠通常要承受高溫、高壓，同時要耐腐蝕。外部環(huán)境要求所用鋼材即使在高溫下也要有足夠的耐腐蝕和耐酸性能。如果鐵素體含量太低，焊縫受熱后容易產(chǎn)生裂紋；如果鐵素體含量太高，焊縫將喪失韌性和延展性。對于雙相鋼，如果鐵素體含量太低，焊縫受到張力或發(fā)生振動時容易破裂。

FERITSCOPE FMP30鐵素體測量儀根據(jù)磁感應(yīng)方法測量奧氏體鋼和雙相鋼中的鐵素體含量。儀器能識別所有的磁性部件，也就是說，除了delta鐵素體，還能識別其轉(zhuǎn)化形式馬氏體。儀器符合Basler標(biāo)準(zhǔn)和DIN 32514-1標(biāo)準(zhǔn)，適合于現(xiàn)場檢測，可以測量奧氏體覆層、不銹鋼管道、容器和鍋爐焊縫內(nèi)以及奧氏體鋼或雙相鋼制造的其他產(chǎn)品內(nèi)的鐵素體含量。