電子行業(yè)連接器和觸點上的鍍層厚度測量

電子行業(yè)連接器和觸點上的鍍層厚度測量

菲希爾x-ray鍍層分析儀/射線熒光鍍層測厚材料分析儀/x射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237為每次測量創(chuàng)造理想的激發(fā)條件，儀器配備可電動調整的多個準直器和基本濾片。比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率，這樣就可以進行高精度測量。菲希爾x射線測厚儀FISCHERSCOPE-X-RAY XDLM237系統(tǒng)有著出色的精-確性和良的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經常校準儀器，節(jié)省時間和精力。由于采用了基本參數(shù)法，無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒有標準片的情況下行分析和測量。

菲希爾代理從1953年至今，菲希爾公司不斷地在涂鍍層測厚、材料分析、微硬度測量和材料測試領域發(fā)展出創(chuàng)新型的測量技術。如今，菲希爾的測量技術已在世界各地得到應用，滿足客戶對儀器準確度、精度和可靠性的要求。目前，有超過10000臺X射線儀器投入使用，而FISCHERSCOPE X-RAY品牌也已成為強大，可靠和耐用的X射線熒光測量設備的代名詞。

菲希爾測厚儀原理：

fischer x射線測厚儀X射線熒光分析基于以下物理現(xiàn)象：樣品材料中的原子由于受到初級X射線轟擊，從而失去內層軌道中的某些電子。失去電子所留下的空穴會被外層電子來填補，在填補的過程中，會產生每個元素*的特征X射線熒光。接收器探測到該熒光射線后，便能提供樣品的材料組成等信息。

菲希爾x射線測厚儀應用

電鍍層，例如鐵上的鋅或鐵上的鋅鎳，用于大批量生產的零件（螺母和螺栓）的腐蝕防護

電鍍液中金屬含量的分析

裝飾性涂層 Cr/Ni/Cu/ABS

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