菲希爾x熒光射線測(cè)厚儀X-ray

菲希爾x熒光射線測(cè)厚儀X-ray

Fischerscope XAN215 X射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀

菲希爾x射線測(cè)厚儀產(chǎn)品用途

菲希爾x射線測(cè)厚儀典型的應(yīng)用領(lǐng)域有:

珠寶、貴金屬和牙科用合金分析

菲希爾測(cè)厚儀黃金制品和K金制品分析

菲希爾測(cè)厚儀鉑金制品和銀制品分析

銠制品分析

x熒光射線測(cè)厚儀其他合金分析和鍍層厚度測(cè)量

x熒光射線測(cè)厚儀多鍍層厚度測(cè)量 

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款入門級(jí)能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀，菲希爾x-ray通常用于對(duì)珠寶、錢幣和貴金屬等進(jìn)行無損分析。它特別適合分析貴金屬及其合金的成分以及測(cè)量鍍層的厚度，從元素氯（17）到鈾（92），多可同時(shí)測(cè)定24種元素。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 儀器一樣，減少了校準(zhǔn)儀器所需的時(shí)間和精力。Si-PIN的*基本參數(shù)法，可以在沒有校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測(cè)量樣品的鍍層厚度。

DUALSCOPE MPO涂層測(cè)厚儀是德國(guó)菲希爾制造的。Fischer MPO涂層測(cè)厚儀集成了磁性測(cè)厚儀(P-MP0D)和渦流測(cè)厚儀(I-MP0D)的功能。德國(guó)Fischer公司的菲希爾MP0涂層測(cè)厚儀是D-MP0D儀器的改進(jìn)產(chǎn)品。它可用于測(cè)量鐵基和非鐵基基體上的涂層厚度。比如:

1.銅、鉻、鋅等電鍍層的厚度?；蛴推帷⑼苛?、搪瓷等的涂層。在鋼鐵材料上。

2.鋁箔和膠帶材料的厚度，如鋁、銅和金、紙和塑料薄膜。

3.銅、鋁、鎂和鋅等有色金屬材料上的涂層厚度。

4.鋁和鎂材料上陽(yáng)極氧化膜的厚度。

5.各種鋼和有色金屬材料上熱噴涂層的厚度。